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嘉峪檢測網(wǎng) 2016-09-22 09:18
失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
1、電阻器的主要失效模式與失效機(jī)理為
1) 開路:主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落,基體斷裂,引線帽與電阻體脫落。
2) 阻值漂移超規(guī)范:電阻膜有缺陷或退化,基體有可動鈉離子,保護(hù)涂層不良。
3) 引線斷裂:電阻體焊接工藝缺陷,焊點污染,引線機(jī)械應(yīng)力損傷。
4) 短路:銀的遷移,電暈放電。
2、失效模式占失效總比例表
(1)、線繞電阻
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失效模式 |
占失效總比例 |
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開路 |
90% |
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阻值漂移 |
2% |
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引線斷裂 |
7% |
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其它 |
1% |
(2)、非線繞電阻
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失效模式 |
占失效總比例 |
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開路 |
49% |
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阻值漂移 |
22% |
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引線斷裂 |
17% |
|
其它 |
7% |
3、失效機(jī)理分析
(1)、導(dǎo)電材料的結(jié)構(gòu)變化
薄膜電阻器的導(dǎo)電膜層一般用汽相淀積方法獲得,在一定程度上存在無定型結(jié)構(gòu)。按熱力學(xué)觀點,無定型結(jié)構(gòu)均有結(jié)晶化趨勢。在工作條件或環(huán)境條件下,導(dǎo)電膜層中的無定型結(jié)構(gòu)均以一定的速度趨向結(jié)晶化,也即導(dǎo)電材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)趨于致密化,能常會引起電阻值的下降。結(jié)晶化速度隨溫度升高而加快。
(2)、硫化
有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后,儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了,甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察,可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì),進(jìn)一步分析成分發(fā)現(xiàn),黑色物質(zhì)是硫化銀晶體。原來電阻被來自空氣中的硫給腐蝕了。
(3)氣體吸附與解吸
膜式電阻器的電阻膜在晶粒邊界上,或?qū)щ婎w粒和黏結(jié)劑部分,總可能吸附非常少量的氣體,它們構(gòu)成了晶粒之間的中間層,阻礙了導(dǎo)電顆粒之間的接觸,從而明顯影響阻值。
合成膜電阻器是在常壓下制成,在真空或低氣壓工作時,將解吸部分附氣體,改善了導(dǎo)電顆粒之間的接觸,使阻值下降。同樣,在真空中制成的熱分解碳膜電阻器直接在正常環(huán)境條件下工作時,將因氣壓升高而吸附部分氣體,使阻值增大。如果將未刻的半成品預(yù)置在常壓下適當(dāng)時間,則會提高電阻器成品的阻值穩(wěn)定性。
溫度和氣壓是影響氣體吸附與解吸的主要環(huán)境因素。對于物理吸附,降溫可增加平衡吸附量,升溫則反之。由于氣體吸附與解吸發(fā)生在電阻體的表面。所以對膜式電阻器的影響較為顯著。阻值變化可達(dá)1%~2%。
(4)氧化
氧化是長期起作用的因素(與吸附不同),氧化過程是由電阻體表面開始,逐步向內(nèi)部深入。除了貴金屬與合金薄膜電阻外,其他材料的電阻體均會受到空氣中氧的影響。氧化的結(jié)果是阻值增大。電阻膜層愈薄,氧化影響就更明顯。
防止氧化的根本措施是密封(金屬、陶瓷、玻璃等無機(jī)材料)。采用有機(jī)材料(塑料、樹脂等)涂覆或灌封,不能完全防止保護(hù)層透濕或透氣,雖能起到延緩氧化或吸附氣體的作用,但也會帶來與有機(jī)保護(hù)層有關(guān)的些新的老化因素。
(4)、有機(jī)保護(hù)層的影響
有機(jī)保護(hù)層形成過程中,放出縮聚作用的揮發(fā)物或溶劑蒸氣。熱處理過程使部分揮發(fā)物擴(kuò)散到電阻體中,引起阻值上升。此過程雖可持續(xù)1~2年,但顯著影響阻值的時間約為2~8個月,為了保證成品的阻值穩(wěn)定性,把產(chǎn)品在庫房中擱置一段時間再出廠是比較適宜的。
(5)、機(jī)械損傷
電阻的可靠很大程度上取決于電阻器的機(jī)械性能。電阻體、引線帽和引出線等均應(yīng)具有足夠的機(jī)械強(qiáng)度,基體缺陷、引線帽損壞或引線斷裂均可導(dǎo)致電阻器失效。






來源:硬十