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嘉峪檢測網(wǎng) 2018-02-09 16:23

多晶硅(polycrystalline silicon)有灰色金屬光澤,密度2.32~2.34g/cm3。熔點1410℃。沸點2355℃。溶于氫氟酸和硝酸的混酸中,不溶于水、硝酸和鹽酸。硬度介于鍺和石英之間,室溫下質(zhì)脆,切割時易碎裂。加熱至800℃以上即有延性,1300℃時顯出明顯變形。常溫下不活潑,高溫下與氧、氮、硫等反應。高溫熔融狀態(tài)下,具有較大的化學活潑性,能與幾乎任何材料作用。具有半導體性質(zhì),是極為重要的優(yōu)良半導體材料,但微量的雜質(zhì)即可大大影響其導電性。電子工業(yè)中廣泛用于制造半導體收音機、錄音機、電冰箱、彩電、錄像機、電子計算機等的基礎材料。由干燥硅粉與干燥氯化氫氣體在一定條件下氯化,再經(jīng)冷凝、精餾、還原而得。
| 標準編號 | 標準名稱 | 實施日期 |
| GB/T 35309-2017 | 用區(qū)熔法和光譜分析法評價顆粒狀多晶硅的規(guī)程 | 2018/7/1 |
| GB/T 25074-2017 | 太陽能級多晶硅 | 2018/5/1 |
| GB/T 33236-2016 | 多晶硅 痕量元素化學分析 輝光放電質(zhì)譜法 | 2017/11/1 |
| GB/T 32652-2016 | 多晶硅鑄錠石英坩堝用熔融石英料 | 2016/11/1 |
| GB/T 12963-2014 | 電子級多晶硅 | 2015/9/1 |
| GB 29447-2012 | 多晶硅企業(yè)單位產(chǎn)品能源消耗限額 | 2013/10/1 |
| GB/T 29057-2012 | 用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規(guī)程 | 2013/10/1 |
| GB/T 29054-2012 | 太陽能級鑄造多晶硅塊 | 2013/10/1 |
| GB/T 29055-2012 | 太陽電池用多晶硅片 | 2013/10/1 |
| GB/T 25074-2010 | 太陽能級多晶硅 | 2011/4/1 |
| GB/T 24579-2009 | 酸浸取 原子吸收光譜法測定多晶硅表面金屬污染物 | 2010/6/1 |
| GB/T 24582-2009 | 酸浸取 電感耦合等離子質(zhì)譜儀測定多晶硅表面金屬雜質(zhì) | 2010/6/1 |
| JC/T 2349-2015 | 多晶硅生產(chǎn)用氮化硅陶瓷絕緣體 | 2016/1/1 |
| JC/T 2067-2011 | 太陽能多晶硅用熔融石英陶瓷坩堝 | 2012/7/1 |
| YS/T 1195-2017 | 多晶硅副產(chǎn)品 四氯化硅 | 2018/1/1 |
| YS/T 724-2016 | 多晶硅用硅粉 | 2017/1/1 |
| YS/T 1061-2015 | 改良西門子法多晶硅用硅芯 | 2015/10/1 |
| YS/T 983-2014 | 多晶硅還原爐和氫化爐尾氣成分的測定方法 | 2015/4/1 |
| DB53/T 747-2016 | 多晶硅生產(chǎn)回收氫氣中氯化氫含量的測定 氣相色譜法 | 2016/6/1 |
| DB53/T 618-2014 | 氣相色譜法測定多晶硅生產(chǎn)中氫化尾氣 組分含量 | 2014/12/1 |
| DB53/T 499-2013 | 多晶硅用三氯氫硅 | 2013/10/1 |
| DB53/T 501-2013 | 多晶硅用三氯氫硅雜質(zhì)元素含量測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法 | 2013/10/1 |
| DB53/T 500-2013 | 多晶硅用三氯氫硅組分含量測定 氣相色譜法 | 2013/10/1 |
| DB15/T 1239-2017 | 多晶硅生產(chǎn)凈化氫氣用活性炭中雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法 | 2017/12/10 |
| DB15/T 1241-2017 | 硅烷法生產(chǎn)多晶硅尾氣中硅烷含量的測定 氣相色譜法 | 2017/12/10 |
| DB65/T 3486-2013 | 太陽能級多晶硅塊紅外探傷檢測方法 | 2013/12/1 |
| DB65/T 3485-2013 | 太陽能級多晶硅塊少數(shù)載流子壽命測量方法 | 2013/12/1 |

來源:嘉峪檢測網(wǎng)