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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2018-07-12 14:33
背散射電子(BSE)是由入射電子束與原子核的彈性散射或非彈性散射所產(chǎn)生的高能電子。背散射電子(BSE)的產(chǎn)率,即出射的背散射電子(BSE)數(shù)與入射電子數(shù)之比,取決于樣品平均原子序數(shù):平均原子序數(shù)越高,或元素越重,襯度就越亮。在飛納臺(tái)式掃描電鏡中,背散射電子是通過(guò)放置在樣品上方的四分割半導(dǎo)體探測(cè)器檢測(cè)到的。在這篇文章中,將解釋什么是半導(dǎo)體探測(cè)器,以及如何在掃描電子顯微鏡下檢測(cè)背散射電子。
背散射電子的發(fā)射
當(dāng)入射電子擊中樣品表面時(shí),入射電子與原子的原子核相互作用,并偏離其軌跡,如圖 1 所示。

圖1:入射電子與原子核相互作用后散射的示意圖
如果條件合適,入射電子可以被散射回來(lái),并脫離樣品表面,保持其高能量。一般來(lái)說(shuō),較重的元素,因?yàn)樗鼈兊脑雍溯^大,可以比較輕的元素更強(qiáng)烈地偏轉(zhuǎn)入射電子。因此,在掃描電鏡圖像中,像銀這樣的重元素(原子序數(shù)為 47)與原子序數(shù)為 14 的輕元素(如硅)相比顯得更加明亮,因?yàn)楦嗟谋成⑸潆娮訌臉悠繁砻姘l(fā)射出來(lái)。
圖 2 顯示了銀和硅之間的背散射電子(BSE)圖像的對(duì)比。這張圖片顯示了一個(gè)太陽(yáng)能電池板的區(qū)域,白色區(qū)域是銀,黑色區(qū)域是硅。

圖2:太陽(yáng)能電池板的掃描電鏡(SEM)圖像,白色區(qū)域?yàn)殂y,黑色區(qū)域?yàn)楣?/p>
但是如何在掃描電鏡中檢測(cè)到背散射電子呢?
半導(dǎo)體探測(cè)器的物理性質(zhì)
通常用固態(tài)(或半導(dǎo)體)探測(cè)器進(jìn)行背散射電子(BSE)的檢測(cè)。這些由摻雜的半導(dǎo)體材料(通常是硅)組成,并直接置于樣品上方,如圖 3 所示。半導(dǎo)體探測(cè)器的工作原理是利用入射的背散射電子(BSE)在半導(dǎo)體中產(chǎn)生電子空穴對(duì)。簡(jiǎn)而言之:撞擊探測(cè)器的背散射電子(BSE)激發(fā)硅電子,形成電子空穴對(duì)。
在硅中形成電子空穴對(duì),需要 3.6 eV 的能量,產(chǎn)生的電子空穴對(duì)的數(shù)量與入射電子的能量及數(shù)量成正比。此外,半導(dǎo)體探測(cè)器只對(duì)高能電子敏感,這也是為什么它們只用于探測(cè)背散射電子的原因。

圖3:半導(dǎo)體探測(cè)器示意圖 ¹
掃描電鏡中半導(dǎo)體探測(cè)器的電子電路
從入射的背散射電子中產(chǎn)生的電子空穴對(duì)可以在重組前被分離,從而產(chǎn)生電流。這種電流可以通過(guò)電子電路來(lái)測(cè)量,該電路是具有輸入電阻和反饋電阻的運(yùn)算放大器,如圖 3 所示。
在這里,探測(cè)器為電荷收集電流發(fā)生器(Icc),與摻雜硅(Rd 和 Cd)的 p-n 結(jié)處形成的損耗層的電阻和電容平行,與半導(dǎo)體(Rs)的內(nèi)部電阻串聯(lián)。由于放大器對(duì)于較大的 RF/Re 值會(huì)變得不穩(wěn)定,所以在反饋回路中增加了額外的電容,以防止放大器振蕩。

圖4:半導(dǎo)體探測(cè)器系統(tǒng)的電子電路 ¹
掃描電鏡(SEM)中半導(dǎo)體探測(cè)器的噪聲
半導(dǎo)體探測(cè)器噪聲的主要來(lái)源是入射的背散射電子(BSE)電流和前置放大器的噪聲。入射電子束的噪聲是由入射的電子數(shù)量的波動(dòng)引起的。前置放大器的噪聲是熱噪聲,也叫約翰遜-尼奎斯特噪聲,它與波爾茲曼常數(shù)和電阻的溫度成正比。

來(lái)源:AnyTesting