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2、平均效率測(cè)試

3、輸入電流測(cè)試

4、浪涌電流測(cè)試

5、電壓調(diào)整率測(cè)試

6、負(fù)載調(diào)整率測(cè)試

7、輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試

8、紋波及噪聲測(cè)試

9、上升時(shí)間測(cè)試

10、下降時(shí)間測(cè)試

11、開機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試

12、關(guān)機(jī)維持時(shí)間測(cè)試

13、輸出過(guò)沖幅度測(cè)試

14、輸出暫態(tài)響應(yīng)測(cè)試

15、過(guò)流保護(hù)測(cè)試

16、短路保護(hù)測(cè)試

17、過(guò)壓保護(hù)測(cè)試

18、重輕載變化測(cè)試

19、輸入電壓變動(dòng)測(cè)試

20、電源開關(guān)循環(huán)測(cè)試

21、元件溫升測(cè)試/

22、高溫操作測(cè)試

23、高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試

24、低溫操作測(cè)試

25、低溫儲(chǔ)存測(cè)試

26、低溫啟動(dòng)測(cè)試

27、溫度循環(huán)測(cè)試

28、冷熱沖擊測(cè)試

29、絕緣耐壓測(cè)試

30、跌落測(cè)試

31、絕緣阻抗測(cè)試

32、額定電壓輸出電流測(cè)試

1~16項(xiàng)內(nèi)容，點(diǎn)擊這里

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 輸出電壓過(guò)高時(shí)是否保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義:Vout<12V,過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.8倍輸出電壓; Vout≥12V,.過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). DC SOURCE / 直流電源;

三. 測(cè)試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值.

四、測(cè)試方法:

(1). 測(cè)試方式一: 拿掉待測(cè)品回授FEEDBACK, 找出過(guò)壓保護(hù)OVP 點(diǎn),

(2). 測(cè)試方式二: 外加一可變電壓于操作待測(cè)品的輸出, 緩慢增大電壓值, 找出過(guò)壓保護(hù)OVP 點(diǎn),

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測(cè)點(diǎn), 測(cè)量其電壓之變化.

(4). CH2 則接到其它一組輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL".

五、注意事項(xiàng):

產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

18. 重輕載變化測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對(duì)輸出電壓的影響(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過(guò)輸出規(guī)格的±10%).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測(cè)試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD(MIN. AND MAX.) 值.

四、測(cè)試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和MIN. LOAD).

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.

(3). TIME/DIV 設(shè)定為1S/DIV 或2S/DIV,為滾動(dòng)狀態(tài).

(4). 在輸入電壓穩(wěn)定時(shí),變化輸出負(fù)載(最大/最小).

(5). 在設(shè)定電壓下測(cè)試輸出電壓的最大和最小值.

五、注意事項(xiàng):

無(wú)

19. 輸入電壓變動(dòng)測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動(dòng)時(shí),是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測(cè)試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值.

四、測(cè)試方法:

(1). 將待測(cè)輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD 和MIN. LOAD.

(2). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"+", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或2S/DIV.

(3). 變動(dòng)輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.

(4). 測(cè)試輸出電壓在輸入電壓變動(dòng)時(shí)的最大值和最小值.

五、注意事項(xiàng):

輸出電壓變動(dòng)的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).

20.電源開關(guān)循環(huán)測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開關(guān)操作下的沖擊.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

(1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載: 滿載.

(2). ON/OFF時(shí)間: ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE.

(3). 環(huán)境溫度: 室溫.

四、測(cè)試方法:

(1). 連接待測(cè)品到電源開/關(guān)測(cè)試儀及電源. (115Vac和230Vac &滿載, 或依客戶規(guī)格執(zhí)行)

(2). S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期,總共測(cè)試周期: 5000 CYCLES.

(3). 測(cè)試過(guò)程中每完成1000周期時(shí),記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓.

(4). 待試驗(yàn)結(jié)束后,確定待測(cè)品在試驗(yàn)前后電氣性能是否有差異.

五、注意事項(xiàng):

測(cè)試過(guò)程中或測(cè)試完成階段, 待測(cè)品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生.

21.元件溫升測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境, 電壓, 頻率和負(fù)載條件時(shí), 元件的溫升狀況.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). HYBRID RECORDER / 混合記錄儀(DR130);

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測(cè)試條件:

依SPEC. 規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 頻率FREQUENCY, 輸出負(fù)載LOAD 及環(huán)境溫度.

四、測(cè)試方法:

(1). 依線路情況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線粘貼所確定的元件.

(2). 依規(guī)格設(shè)定好測(cè)試條件(AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開機(jī), 并記錄輸入功率和輸出電壓.

(3). 用混合記錄儀HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線, 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果,并記錄輸入功率和輸出電壓.

五、注意事項(xiàng):

(1). 溫升線耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測(cè)試點(diǎn), 溫升線走勢(shì)應(yīng)盡量避免影響S.M.P.S 元件的散熱.

(2). 測(cè)試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài).

(3). 針對(duì)于無(wú)風(fēng)扇( NO FAN)的產(chǎn)品, 測(cè)試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動(dòng)對(duì)它的影響.

22. 高溫操作測(cè)試

一、目的:

測(cè)試高溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀

三. 測(cè)試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載(FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40℃);

(2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs.

四、測(cè)試方法:

(1). 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件, 然后開機(jī);

(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室;

(3). 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓,以及待測(cè)品是否有異常;

(4). 做完測(cè)試后回溫到室溫,再將待測(cè)品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時(shí).

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

23. 高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試

一、目的:

測(cè)試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀

三. 測(cè)試條件:

儲(chǔ)存高溫高濕條件: 通常為溫度70±2℃, 濕度90-95% 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測(cè)試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況;

(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室;

(3). 試驗(yàn)24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認(rèn)待測(cè)品外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

24. 低溫操作測(cè)試

一、目的:

測(cè)試低溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載(FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs.

四、測(cè)試方法:

(1). 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件, 然后開機(jī).

(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3). 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓,以及待測(cè)品是否有異常;

(4). 做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無(wú)異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

一、目的:

測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

儲(chǔ)存低溫條件: 通常為溫度-30℃, 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測(cè)試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3). 試驗(yàn)24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs, 再將待測(cè)品做HI-POT 測(cè)試, 記錄測(cè)試結(jié)果, 之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

26.  低溫啟動(dòng)測(cè)試

一、目的:

測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測(cè)試條件:

儲(chǔ)存低溫條件: 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃, 儲(chǔ)存時(shí)間至少4Hrs.

四、測(cè)試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3). 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs, 然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各20 次, 確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.

27. 溫度循環(huán)測(cè)試

一、目的:

測(cè)試針對(duì)S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測(cè)試, 用來(lái)顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

操作溫度條件: 通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%), 試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán).

四、測(cè)試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 以無(wú)包裝,非操作狀態(tài)下.

(3). 設(shè)定溫度順序?yàn)?6±2 ℃保持1小時(shí), 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí), -40±2 ℃保持1小時(shí), 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán).

(4). 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī), 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過(guò)程,

(5). 試驗(yàn)完成后, 溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出, 放置樣品在空氣中4Hr 再確認(rèn)外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

28. 冷熱沖擊測(cè)試

一、目的:

測(cè)試高, 低溫度沖擊對(duì)S.M.P.S. 的影響,用來(lái)揭露各組成元件的弱點(diǎn).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 儲(chǔ)存最高(70℃), 低溫度(-30℃), 測(cè)試共10 個(gè)循環(huán), 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為<2min;

(2). 依客戶所提供的試驗(yàn)條件.

四、測(cè)試方法:

(1). 在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1Hr.

(2). 溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min., 并高溫烘烤1Hr.

(3). 在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個(gè)周期后, 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出(至少恢復(fù)4小時(shí)).

(4). 確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無(wú)與測(cè)試前的差異.

五、注意事項(xiàng):

(1). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

(3). 產(chǎn)品為非操作條件.

28. 冷熱沖擊測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下, 是否產(chǎn)生電弧ARCING, 其CUT OFF CURRENT 是否滿足SPEC. 要求, 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S.造成損傷.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

依SPEC. 要求: 耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值;

四、測(cè)試方法:

(1). 依SPEC. 設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時(shí)間TIME, CUT OFF CURRENT 值.

(2). 將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接, 進(jìn)行耐壓測(cè)試, 觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING, 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過(guò)大.

(3). 耐壓測(cè)試后, 確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件, 待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好.

(2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求.

30. 跌落測(cè)試

一、目的:

了解S.M.P.S. 由一定高度, 不同面進(jìn)行跌落DROP, 其結(jié)構(gòu), 電氣等特性的變化狀況.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

依SPEC. 要求: 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.

四、測(cè)試方法:

(1). 所有待測(cè)品需先經(jīng)過(guò)電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒任何可見的損壞存在.

(2). 確定六個(gè)面(小-大)順序依次進(jìn)行跌落.

(3). 使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng)(2) 所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落, 每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn),記錄正?；虍惓＝Y(jié)果.

31.絕緣阻抗測(cè)試

一、目的:

測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三. 測(cè)試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 施加500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義).

四、測(cè)試方法:

(1). 確認(rèn)好電氣性能后, 在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測(cè)試的時(shí)間(1 Minute).

(2). 將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接, 然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試.

(3). 再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試.

(4). 確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事項(xiàng):

(1). 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義.

32. 額定電壓輸出電流測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時(shí), 其輸出電流值.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

三. 測(cè)試條件:

四、測(cè)試方法:

(1). 固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV 模式下的輸出電壓.

(2). 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值.

(3). 切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值.

(4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.

五、注意事項(xiàng):

記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定。