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多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

嘉峪檢測(cè)網(wǎng)        2018-12-11 17:55

太陽(yáng)電池光生電流值的大小主要受兩個(gè)因素的影響:電池的光譜響應(yīng)和光源的光譜輻照度分布。電池的光譜響應(yīng)是指在各個(gè)波長(zhǎng)上的單位輻照度所產(chǎn)生的電流與波長(zhǎng)的關(guān)系曲線,該特性曲線與電池自身的工藝材料特性密切相關(guān)。

 

理論上來(lái)說(shuō),測(cè)試每種類型的太陽(yáng)電池必須采用與其光譜響應(yīng)完全一致的標(biāo)準(zhǔn)電池來(lái)標(biāo)定輻照度。在實(shí)際測(cè)量中選擇的標(biāo)準(zhǔn)電池的工藝和材料與被測(cè)試樣只能夠大致相同,兩者光譜響應(yīng)的偏差需要通過(guò)計(jì)算得出,并將得出的光譜失配因子代入電流-電壓(I-V)特性試驗(yàn),對(duì)比分析電池的電性能參數(shù)。

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能在一定的溫度范圍內(nèi)隨溫度的變化而產(chǎn)生相應(yīng)的變化,筆者根據(jù)多晶硅太陽(yáng)電池的這一特性,依照IEC60891-2009《光伏器件測(cè)定I-V特性的溫度和輻照度校正方法用程序》的溫度修正方法,換算不同溫度下的測(cè)試數(shù)據(jù),得到標(biāo)準(zhǔn)條件下的特性參數(shù)。

 

試驗(yàn)材料與試驗(yàn)方法

 

01、試驗(yàn)材料

試驗(yàn)所使用的儀器設(shè)備:太陽(yáng)能電池片光電性能測(cè)試模擬器、電池量子效率檢測(cè)儀。試驗(yàn)的試樣為多晶硅太陽(yáng)電池,如表1所示。

 

表1 試驗(yàn)電池的種類及其數(shù)量

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

 

02、試驗(yàn)方法

 

對(duì)多晶硅太陽(yáng)電池進(jìn)行4次I-V特性測(cè)試,分別是:

 

①設(shè)置光譜失配因子為1,溫度系數(shù)值設(shè)為0;

②輸入電池片相對(duì)應(yīng)的光譜失配因子,不改變溫度系數(shù)值;

③光譜失配因子設(shè)為1,輸入各個(gè)電池片的溫度系數(shù)值;

④輸入各個(gè)電池片的光譜失配因子和溫度系數(shù)值。

 

分析比較多晶硅太陽(yáng)電池在此4個(gè)不同狀態(tài)下的電性能參數(shù),為了消除多晶硅太陽(yáng)電池電容效應(yīng)的影響,試驗(yàn)中采用的脈沖時(shí)間均為140ms。

 

試驗(yàn)結(jié)果與討論

 

01、無(wú)修正的I-V特性

 

利用太陽(yáng)能電池片光電性能測(cè)試模擬器,將光譜失配因子設(shè)為1,溫度系數(shù)值為0,在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件【AM(air-miss)1.5,光強(qiáng)為1000 W·m-2,溫度為25℃,下同】下對(duì)試樣進(jìn)行電性能測(cè)試,測(cè)試結(jié)果如表2所示。

 

表2 試驗(yàn)電池的電性能數(shù)據(jù)

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

 

02、光譜修正的I-V特性

 

用電池量子效率檢測(cè)儀對(duì)試驗(yàn)電池分別進(jìn)行光譜響應(yīng)測(cè)試,并計(jì)算光譜失配因子,計(jì)算公式為

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

式中:E0(λ)為標(biāo)準(zhǔn)光譜輻照度分布;E (λ)為實(shí)測(cè)光源(太陽(yáng)模擬器)的光譜分布;Rr(λ)為標(biāo)準(zhǔn)電池的相對(duì)光譜響應(yīng);Rt(λ)為試驗(yàn)電池的相對(duì)光譜響應(yīng);d(λ)為波長(zhǎng)的微分。

 

計(jì)算得出的光譜失配因子如表3所示,在進(jìn)行測(cè)試I-V特性的試驗(yàn)時(shí),輸入光譜失配因子,并在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下進(jìn)行測(cè)試,與未進(jìn)行光譜修正的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,對(duì)比結(jié)果如圖1所示,可見(jiàn)輸入試驗(yàn)電池的光譜失配因子后,短路電流有了明顯提高,相應(yīng)地峰值功率也有了明顯提高。

 

表3 試驗(yàn)電池的光譜失配因子

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

圖1 多晶硅太陽(yáng)電池光譜修正前后的電學(xué)特性比較

 

03、溫度系數(shù)修正的I-V特性

 

利用控溫載臺(tái)控制試樣電池溫度,采用升溫法和降溫法重復(fù)測(cè)試短路電流Isc、開(kāi)路電壓Voc和峰值功率Pmax,且溫度跨度范圍為20~60℃,測(cè)試間隔為2.5℃。以2號(hào)普通多晶硅太陽(yáng)電池為例,測(cè)試其在不同溫度下電性能數(shù)據(jù)的變化。

 

如圖2~4所示,分別為試驗(yàn)室內(nèi)測(cè)試的普通多晶硅太陽(yáng)電池的Isc,Voc,Pmax與溫度的關(guān)系函數(shù)圖,并構(gòu)造最小二乘法對(duì)其進(jìn)行擬合。

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

圖2 短路電流的溫度特性

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

圖3 開(kāi)路電壓的溫度特性

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

圖4 峰值功率的溫度特性

 

上述函數(shù)曲線關(guān)系可用下式表示

 

y=ax+b(2)

 

式中:a表示溫度系數(shù),短路電流溫度系數(shù)α1取0.0056A·℃-1,開(kāi)路電壓溫度系數(shù)β1取-0.0021V·℃-1,峰值功率溫度系數(shù)δ1取-0.0192W·℃-1。相對(duì)溫度系數(shù)可用百分?jǐn)?shù)表示,其計(jì)算公式為

 

TC=100a/(25a +b)(3)

 

式中:TC為相對(duì)溫度系數(shù),短路電流溫度系數(shù)α2取0.06331%·℃-1,開(kāi)路電壓相對(duì)溫度系數(shù)β2取-0.3343%·℃-1,峰值功率相對(duì)溫度系數(shù)δ2取-0.4350%·℃-1。

 

由圖2~4可知,隨著試驗(yàn)電池溫度的升高,短路電流有微小的提升,而開(kāi)路電壓和峰值功率的下降幅度稍大,可見(jiàn)溫度對(duì)開(kāi)路電壓和峰值功率的影響相對(duì)較大。

 

對(duì)試驗(yàn)試樣在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下進(jìn)行I-V測(cè)試,并輸入計(jì)算得出的溫度系數(shù),將得到的電性能數(shù)據(jù)與未進(jìn)行溫度修正的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,其對(duì)比結(jié)果如圖5所示,可見(jiàn)溫度修正后,開(kāi)路電壓和峰值功率都有所上升。

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

圖5 多晶硅太陽(yáng)電池溫度修正前后的電學(xué)特性比較

 

04、光譜修正和溫度系數(shù)修正的I-V特性

 

輸入光譜失配因子和溫度系數(shù),在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下測(cè)試試驗(yàn)電池,將此時(shí)測(cè)出來(lái)的電性能數(shù)據(jù)與未經(jīng)過(guò)修正的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,如圖6所示,測(cè)得的電性能數(shù)據(jù)如表4所示。

 

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

圖6 多晶硅太陽(yáng)電池光譜與溫度修正前后的電學(xué)特性比較

 

表4 多晶硅太陽(yáng)電池光譜與溫度修正后的電性能數(shù)據(jù)

多晶硅太陽(yáng)電池的電性能檢測(cè)方法

 

 

可見(jiàn)經(jīng)過(guò)修正后試驗(yàn)電池的短路電流和峰值功率有了明顯提高。通過(guò)計(jì)算分析,經(jīng)過(guò)修正后試驗(yàn)電池的短路電流提高了0.364%,開(kāi)路電壓提高了0.151%,峰值功率上升了1.236%。

 

結(jié)論

 

(1)光譜失配因子對(duì)多晶硅太陽(yáng)電池測(cè)試結(jié)果中的短路電流影響較大,從而影響電池的輸出功率。

(2)溫度對(duì)多晶硅太陽(yáng)電池測(cè)試結(jié)果中的開(kāi)路電壓影響較大,隨著電池溫度的升高,短路電流略有增加、開(kāi)路電壓明顯下降,導(dǎo)致電池的輸出功率隨電池溫度的上升而下降。

 

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來(lái)源:劉鶯

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