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　　　　AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測，或者直接進(jìn)行納米操縱。AFM制樣時(shí)，對樣品導(dǎo)電與否沒有要求，因此測量范圍比較廣泛。具體流程如下圖所示：

　　AFM應(yīng)用技術(shù)舉例

　　AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環(huán)境下工作，且不受樣品導(dǎo)電性質(zhì)的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應(yīng)用。主要用途：

　　1. 導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體表面的高分辨成像

　　2. 生物樣品、有機(jī)膜的高分辨成像

　　3. 表面化學(xué)反應(yīng)研究

　　4. 納米加工與操縱

　　5. 超高密度信息存儲(chǔ)

　　6. 分子間力和表面力研究

　　7 摩擦學(xué)及各種力學(xué)研究

　　8 在線檢測和質(zhì)量控制

表面原子搬運(yùn)