您當(dāng)前的位置:檢測(cè)資訊 > 實(shí)驗(yàn)管理
嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2020-03-09 11:16
概述
基線是氣相色譜儀運(yùn)行中,性能的綜合表現(xiàn),組成儀器的各部分發(fā)生故障、操作條件和外界條件的變化等因素都會(huì)反映到基線上,因此可以根據(jù)基線(色譜圖)判斷故障的原因和部位。應(yīng)當(dāng)指出,用此方法分析排除故障,還應(yīng)注意以下幾點(diǎn):
⑴ 基線狀態(tài)是否準(zhǔn)說(shuō)明儀器有故障是相對(duì)而不是絕對(duì)的,如基線在高靈敏度時(shí)呈現(xiàn)噪聲很大,而在低靈敏度時(shí)比較好,若分析要求在低靈敏度下可以完成,就可以認(rèn)為儀器是正常的,反之不正常。
⑵ 再此討論的基線(色譜峰)異變,是指按已知色譜分析方法操作時(shí),得到的色譜圖與沒(méi)有問(wèn)題的已知色譜圖比較,出現(xiàn)某些組分峰畸變、“鬼峰”或基線不正常?;蛘哒f(shuō),對(duì)于一個(gè)正在使用的色譜分析方法,由于不要求或出于無(wú)奈時(shí),有些峰分不開、拖尾或峰型不對(duì)稱等并不影響方法的實(shí)施,就不屬于儀器有故障,否則應(yīng)重新修改、審定原來(lái)的色譜分析方法;
⑶ 由于使用了來(lái)路不明的樣品、不能確保純凈的氣源或沒(méi)有經(jīng)過(guò)充分老化或評(píng)價(jià)過(guò)的色譜柱等等而造成的儀器被污染、基線不穩(wěn)、峰分不開和峰拖尾等,純屬誤操作,也不適合使用此方法所列實(shí)例來(lái)分析排除故障。
⑷ 另外在使用整機(jī)基線(色譜圖)異常,分析排除故障前最好先做以下三點(diǎn)工作:
第一,仔細(xì)核查操作條件,是否與分析方法要求一致;
第二,懷疑有了故障色譜圖和所存的標(biāo)準(zhǔn)色譜圖對(duì)照,判斷是否真出了問(wèn)題,千萬(wàn)不要盲目檢修儀器;
第三 ,逐項(xiàng)仔細(xì)觀察儀器或設(shè)備工作狀態(tài),看是否存在誤操作。
比較典型常見(jiàn)整機(jī)基線(色譜峰)異常,故障分析排除法
⑴ 儀器基線噪聲大

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
儀器在極限(或接近)靈敏度下工作 |
正常 |
不同儀器配用不同檢測(cè)器噪聲大小不同 |
|
2 |
數(shù)據(jù)處理工作站量程設(shè)置過(guò)小 |
正常 |
∠0.5mV以下時(shí) |
|
3 |
色譜分析方法允許 |
正常 |
為尋找定性小組分峰 |
|
4 |
記錄儀、積分儀或工作站固有噪聲 |
正常 |
看能否滿足要求而定 |
|
5 |
儀器輸出信號(hào)線接觸不良 |
檢查重新連接 |
|
|
6 |
分析要求使儀器從低量程調(diào)到高量程操作時(shí) |
需吹洗一天或更長(zhǎng),時(shí)間視量程變化大小而定 |
長(zhǎng)時(shí)間吹洗仍無(wú)法穩(wěn)定,要清洗進(jìn)樣器和檢測(cè)器及有關(guān)連接件 |
|
7 |
電源大幅度變化或波動(dòng)后 |
正在穩(wěn)定過(guò)程中 |
|
|
8 |
檢測(cè)器被污染 |
清洗 |
不同檢測(cè)器清洗方法不同 |
|
9 |
檢測(cè)器供電信號(hào)線、極化線損傷或接觸不良 |
檢修或更換 |
|
|
10 |
TCD熱絲氧化損傷后無(wú)法修復(fù) |
更換 |
|
|
11 |
FID火焰氣流比沒(méi)有調(diào)到較佳或火焰偏大 |
重新調(diào)整火焰大小 |
|
|
12 |
FID體溫度偏低產(chǎn)生了冷凝水 |
升高FID溫度 |
|
|
13 |
ECD進(jìn)樣量大或樣品較臟之后 |
正在恢復(fù)中 |
|
|
14 |
FPD光電倍增管老化嚴(yán)重 |
不能滿足要求時(shí)更換 |
|
|
15 |
NPD氫氣流量過(guò)大(或堿珠溫度過(guò)高) |
適當(dāng)減小 |
|
|
16 |
更換了氣源或凈化器失活 |
核實(shí)更正或更換凈化器 |
檢測(cè)器或分析要求不同氣體的純度要求有較大差別 |
|
17 |
鋼瓶氣源壓力低后污染物大量流出 |
更換新氣源 |
|
|
18 |
儀器內(nèi)設(shè)置的凈化器受污染后的影響 |
活化或更換凈化器 |
操作選擇性檢測(cè)器(ECD、NPD)更應(yīng)注意 |
|
19 |
氣路系統(tǒng)漏氣 |
重新檢漏 |
不同檢測(cè)器靈敏度不同對(duì)氣路密封要求不同 |
|
20 |
離子化檢測(cè)器配用微電流放大器故障(含供電電源) |
檢修 |
參考說(shuō)明書,可單獨(dú)觀察基線噪聲給予檢修 |
|
21 |
FID、NPD等電場(chǎng)電壓波動(dòng) |
檢修 |
|
|
22 |
采用流失大或沒(méi)有老化的注射隔墊 |
更正 |
|
|
23 |
忘記打開隔墊清洗氣路 |
打開 |
|
|
24 |
汽化襯管中有注射隔墊碎屑或密封材料碎渣 |
更換 |
|
|
26 |
樣品在進(jìn)樣器中被催化分解 |
清洗或更換襯管 |
|
|
27 |
填充柱柱頭多次進(jìn)樣后被嚴(yán)重污染 |
清除或更換新柱 |
|
|
28 |
色譜柱沒(méi)有按要求定時(shí)活化再生 |
按要求活化或再生 |
|
|
29 |
色譜柱壽命已到(失效) |
更換 |
再生已無(wú)作用時(shí) |
|
30 |
對(duì)氧或某些溶劑敏感的固定相被分解流失 |
消除引起固定相過(guò)渡流失的原因 |
|
|
31 |
環(huán)境因素影響(溫度、壓力、電磁或振動(dòng)等) |
消除 |
|
|
32 |
數(shù)據(jù)處理裝置改變了判峰參數(shù)(如半峰寬或斜率等) |
重新設(shè)置 |
|
|
33 |
使用了老化不徹底的新色譜柱 |
再加長(zhǎng)老化時(shí)間 |
|
|
34 |
應(yīng)用新柱時(shí)安裝尺寸不當(dāng)或插入檢測(cè)器部分的固定相在流失(分解) |
||
|
35 |
帶催化反應(yīng)裝置用催化劑初用或失效引起 |
等待或更換 |
|
|
36 |
錯(cuò)用溶劑、樣品或被污染的注射器 |
更換 |
⑵ 儀器基線漂移大

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
溫度、檢測(cè)器的工作狀態(tài)正在穩(wěn)定過(guò)程中(TCD方向不定、FID向基流小的方向、ECD向基流大的方向后再減小等) |
等待 |
不同儀器不同要求,啟動(dòng)到穩(wěn)定一般不超過(guò)2小時(shí),否則要另找原因 |
|
2 |
被污染的注樣器、色譜柱或檢測(cè)器正在不斷流出污染物 |
等待穩(wěn)定 |
通常要調(diào)整條件,使其加快流出時(shí)間 |
|
3 |
更換了不純潔氣源后 |
增加凈化器或更換干凈氣源 |
確認(rèn)氣源的干凈程度后更換 |
|
4 |
用了新的注射隔墊或新襯管(漂移由大而?。?/span> |
等待 |
避免使用被污染的配件 |
|
5 |
樣品中高沸點(diǎn)的組分,在第二天或更長(zhǎng)時(shí)間后流出色譜柱 |
清洗或再生色譜柱 |
漂移一般呈現(xiàn)饅頭型峰
|
|
6 |
色譜柱在失效過(guò)程中 |
正常,盡量消除氧等有害組分進(jìn)入色譜柱 |
極性比非極性柱可能性大 |
|
7 |
檢測(cè)器配用的電源放大器在漂移中 |
檢修 |
|
|
8 |
數(shù)據(jù)處理裝置在漂移中 |
檢修 |
|
|
9 |
NPD的堿源加速失效中 |
檢修 |
一般使用溫度高時(shí),固定相流失會(huì)加速氣源的老化 |
|
10 |
TCD熱絲元件或FPD光電倍增管在老化失效過(guò)程中 |
不能滿足要求時(shí)更換 |
|
|
11 |
錯(cuò)用樣品或被污染的注射器 |
核查更正 |
⑶ 正常操作中基線出現(xiàn)無(wú)規(guī)則毛刺

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
高靈敏度下操作 |
正常 |
允許程度視分析要求而定 |
|
2 |
外界環(huán)境(如電壓、振動(dòng)、電磁干擾) |
視情況消除 |
注意連接線和電路板可能有接觸不良的地方 |
|
3 |
TCD熱絲元件上有異物 |
吹洗或更換 |
|
|
4 |
TCD熱絲元件有瞬時(shí)接地現(xiàn)象 |
降低橋流或消除振動(dòng)源 |
|
|
5 |
FID火焰偏大跳動(dòng)、氣體不純、有灰塵進(jìn)入火焰或噴嘴半堵塞 |
重新設(shè)置氣流比,更換新氣源或檢修噴嘴 |
|
|
6 |
FID、 FPD火焰太大 |
檢查糾正 |
重新設(shè)置氣流比 |
|
7 |
電路中某些繼電器頻繁動(dòng)作 |
檢查消除 |
|
|
8 |
離子化檢測(cè)器微電流放大器工作不穩(wěn)定 |
檢修 |
|
|
9 |
電源插頭接觸不良 |
重新拔插 |
|
|
10 |
有頻繁開關(guān)的設(shè)備共用一條電路 |
設(shè)法使儀器單獨(dú)使用一線 |
|
|
11 |
色譜柱流失物、固定相顆粒污染不定時(shí)進(jìn)入FID |
檢查色譜柱出口堵塞物情況 |
|
|
12 |
檢測(cè)器輔助氣路管內(nèi)有異物或有漏氣點(diǎn)(氣阻突然變化) |
消除 |
|
|
13 |
填充柱固定相或柱頭填充物松動(dòng) |
消除或更換新柱 |
⑷ 正常操作中基線上出小峰
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
TCD排氣管中有冷凝物 |
消除 |
|
|
2 |
TCD出口接著皂膜流量計(jì) |
拿下 |
|
|
3 |
FID輔助氣調(diào)節(jié)閥工作不穩(wěn) |
檢修 |
|
|
4 |
ECD排出口氣流波動(dòng) |
消除 |
|
|
5 |
公用電源上有大功率設(shè)備頻繁開與關(guān) |
儀器最好單用一路電源 |
|
|
6 |
某個(gè)控溫區(qū)在意外調(diào)整(特別是柱箱) |
檢查消除 |
|
|
7 |
氣體發(fā)生器控制開與關(guān)影響 |
更換較大發(fā)生量的發(fā)生器 |
|
|
8 |
樣品太臟出現(xiàn)不明組分峰 |
考慮增加樣品予處理步驟 |
|
|
9 |
屬于“鬼峰” |
參見(jiàn)“鬼峰”可能出現(xiàn)原因和排除方法 |
⑸ 基線呈波浪狀變化

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
溫度控制接近恒定在不斷調(diào)整中 |
正常,允許穩(wěn)定一段時(shí)間 |
常出現(xiàn)在高靈敏度儀器開始啟動(dòng)走基線時(shí) |
|
2 |
濃度型檢測(cè)器恒溫箱或柱箱控溫精度差 |
檢修(檢查有關(guān)蓋門是否蓋好與關(guān)嚴(yán)) |
易出現(xiàn)在高靈敏度操作時(shí) |
|
3 |
使用空調(diào)或儀器放在空氣流動(dòng)較大的地方 |
消除影響因素 |
|
|
4 |
鋼瓶或減壓閥失靈后在周期變化 |
檢修 |
|
|
5 |
載氣或輔助氣用調(diào)節(jié)閥在不停調(diào)節(jié) |
檢查是供氣原因還是閥本身原因 |
|
|
6 |
雙氣路不能匹配補(bǔ)償 |
重新調(diào)節(jié)工作參數(shù) |
特別出現(xiàn)在安裝了不同類型的色譜柱時(shí) |
|
7 |
過(guò)溫保護(hù)設(shè)定的比控制的溫度低 |
重新設(shè)定 |
|
|
8 |
某控溫?zé)崦粼ㄣK電阻)有損傷 |
更換 |
⑹ 基線突然向一個(gè)方向漂移

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
程序升溫過(guò)程 |
正常 |
一般超過(guò)150℃以后或靈敏度較高時(shí),較明顯 |
|
2 |
溫度失控(溫度不停的升高或降低) |
排除失控原因 |
|
|
3 |
環(huán)境溫度變化大 |
正常 |
視儀器性能,一般在高靈敏度操作時(shí)易出現(xiàn) |
|
4 |
TCD在高橋流下操作可能永久無(wú)法走直 |
允許情況下盡量適當(dāng)調(diào)低 |
|
|
5 |
凈化器失靈或檢測(cè)器受污染過(guò)程中 |
及時(shí)檢查再生凈化器或更換 |
|
|
6 |
更換新的氣源(純度低)后檢測(cè)器在污染過(guò)程中 |
增加凈化器或更換干凈氣源 |
|
|
7 |
控制閥失靈氣流在不斷變化 |
檢修 |
|
|
8 |
TCD熱絲元件在損傷過(guò)程中 |
某種情況屬正常 |
|
|
9 |
ECD基流正增加 |
正常 |
隨著氣路系統(tǒng)和檢測(cè)器不斷吹洗干凈 |
|
10 |
ECD基流下降 |
找出污染源并給以消除 |
污染可能來(lái)自氣路、色譜柱或樣品 |
|
11 |
FID無(wú)極化電壓 |
檢修 |
|
|
12 |
光電倍增管暗流不斷地變化 |
檢查供電高壓不穩(wěn)和光電倍增管是否在加速老化 |
|
|
13 |
NPD突然受污染再生過(guò)程中 |
等待 |
NPD恢復(fù)時(shí)間比FID長(zhǎng) |
|
14 |
進(jìn)了較臟樣品后 |
增加溫度加速吹洗過(guò)程或清洗更換有關(guān)零件 |
|
|
15 |
漏氣引起極性柱加速失效 |
檢漏 |
|
|
16 |
微電流放大器零點(diǎn)發(fā)生漫漂移 |
恢復(fù)過(guò)程中或凈電計(jì)電路正在受潮被污染 |
⑺ 程序升溫分析基線上漂或出現(xiàn)不規(guī)則峰

特別是在靈敏度要求較高時(shí),程序升溫分析,柱流失明顯基線上漂(>150℃以后)或出現(xiàn)不規(guī)則峰實(shí)屬難免,特別是在靈敏度較高時(shí)。在實(shí)操中只能依據(jù)不同情況,盡量減小它對(duì)分析的干擾;
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
載氣純度低 |
有條件加凈化器以提高載氣純度 |
|
|
2 |
載氣流量在不斷減小 |
正常,毛細(xì)管柱分析必須用穩(wěn)壓閥調(diào)柱前壓,溫度不斷升高柱阻力增加,柱前壓不變流量減小 |
|
|
3 |
隔墊流失 |
沒(méi)有隔墊清洗氣路時(shí),要使用耐高溫低流失注射墊 |
|
|
4 |
色譜柱 |
盡可能選用交聯(lián)(鍵合)柱并把色譜柱充分老化。允許情況下盡可能選用非極性固定相或薄液膜柱 |
|
|
5 |
氣路密封性差 |
檢漏(要求比恒溫嚴(yán)格) |
|
|
6 |
檢測(cè)器工作狀態(tài) |
選擇較佳工作參數(shù)可減小程序升溫對(duì)檢測(cè)器工作狀態(tài)的影響 |
|
|
7 |
進(jìn)樣器和檢測(cè)器 |
再作程序升溫分析之前,最好把進(jìn)樣器和檢測(cè)器清洗一次 |
|
|
8 |
色譜分析方法 |
從色譜柱選擇入手,盡量降低程升的升溫速率和終溫,以改善升溫中的各種不利影響 |
|
|
9 |
走空白基線 |
使用色譜數(shù)據(jù)處理工作站時(shí),用程升基線和空白基線相差方法改善基線穩(wěn)定性,以增加檢測(cè)的靈敏渡和定性定量的精度 |
⑻ 恒溫操作時(shí)基線出現(xiàn)不規(guī)則變化

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
儀器放置位置不當(dāng) |
更正 |
使儀器遠(yuǎn)離熱源、風(fēng)口、空調(diào)和陽(yáng)光等 |
|
2 |
地線干擾 |
拆除已把地線接在水管或不合格的地線上 |
某些情況寧可不接地 |
|
3 |
氣路系統(tǒng)突然有較大的漏氣 |
停機(jī)重新檢漏 |
操作靈敏度高時(shí)更明顯 |
|
4 |
有關(guān)控制閥失靈 |
檢修 |
|
|
5 |
檢測(cè)器突然被污染 |
消除污染源并等待一定時(shí)間 |
來(lái)自色譜柱或輔助氣路 |
|
6 |
檢測(cè)器安裝松動(dòng)或密封性變差 |
重新安裝并檢漏 |
|
|
7 |
多次大量注射較臟樣品之后 |
長(zhǎng)時(shí)間熱吹洗檢測(cè)系統(tǒng)或處理更換受污染部件 |
進(jìn)樣器、色譜柱、檢測(cè)器都可能被污染 |
|
8 |
色譜柱長(zhǎng)期使用之后 |
定期活化和再生色譜柱 |
|
|
9 |
電源突然波動(dòng) |
必要時(shí)加裝穩(wěn)壓電源 |
|
|
10 |
放大器故障或輸入輸出信號(hào)線接觸不良 |
檢修 |
|
|
11 |
用錯(cuò)樣品或被污染的注射器 |
更正 |
|
|
12 |
數(shù)據(jù)處理故障 |
檢修 |
⑼ 出現(xiàn)負(fù)峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
數(shù)據(jù)處理輸入信號(hào)線接反 |
更正 |
|
|
2 |
TCD操作中某組分的熱傳導(dǎo)系數(shù)大于載氣熱傳導(dǎo)系數(shù) |
正常 |
|
|
3 |
雙氣路系統(tǒng)中,進(jìn)樣搞錯(cuò)位置或選擇極性開關(guān)沒(méi)有換相 |
更正 |
|
|
4 |
ECD操作中進(jìn)樣量太大 |
正常 |
檢測(cè)原理可能變成電離檢測(cè)器 |
|
5 |
FID選錯(cuò)極化電壓的極性 |
更正 |
|
|
6 |
FID無(wú)極化電壓 |
正常 |
出峰可能正或負(fù)并同時(shí)伴隨靈敏度低 |
|
7 |
TCD用氮做載氣,組分濃度不同時(shí) |
調(diào)整工作參數(shù)或進(jìn)樣量可改變峰方向 |
不同濃度N2的二元(多元)混合氣的熱傳導(dǎo)系數(shù)是非線性的 |
|
8 |
FPD 和 NPD的氣流比不適宜 |
試驗(yàn)選擇較佳氣流比 |
|
|
9 |
載氣太臟或檢測(cè)器嚴(yán)重被污染時(shí) |
更換載氣或清洗檢測(cè)器 |
|
|
10 |
操作FID使用電離效率低的溶劑 |
正常 |
如CS2 |
⑽ 圓頂峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
進(jìn)樣量大或檢測(cè)器線性范圍窄 |
減少進(jìn)樣量或改善檢測(cè)器線性范圍 |
超出了檢測(cè)器的線性或動(dòng)態(tài)范圍 |
|
2 |
載氣有大的漏氣致使流量減小 |
檢漏 |
|
|
3 |
汽化溫度低 |
適當(dāng)增加 |
|
|
4 |
氣體六通閥進(jìn)樣時(shí)死體積太大 |
減小安裝死體積 |
|
|
5 |
色譜柱汽化襯管沒(méi)有正確安裝 |
按要求安裝 |
|
|
6 |
沒(méi)有開補(bǔ)充氣或補(bǔ)充氣流量太小 |
重新設(shè)定補(bǔ)充氣 |
|
|
7 |
進(jìn)樣量大使色譜柱過(guò)載 |
減小進(jìn)樣量或增加分流比 |
|
|
8 |
初始設(shè)置色譜柱溫度低或載氣流量太小 |
實(shí)驗(yàn)糾正 |
|
|
9 |
數(shù)據(jù)處理判峰參數(shù)(半峰寬或斜率值偏大) |
通過(guò)實(shí)驗(yàn)調(diào)整 |
⑾ 圓平頂峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
超出了檢測(cè)器的動(dòng)態(tài)范圍 |
減少了進(jìn)樣量 |
優(yōu)化操作條件,擴(kuò)大了線性范圍(如ECD) |
|
2 |
離子化檢測(cè)器用微電流放大器輸入飽和 |
減少進(jìn)樣量或輸入量程 |
如從1×10-12A/mV降到 1×10-10A/mV |
|
3 |
超出了色譜數(shù)據(jù)處理允許的輸入電壓范圍或輸入極性接錯(cuò) |
減小進(jìn)樣量或減小輸入信號(hào) |
也可能沒(méi)有調(diào)零使工作范圍變窄 |
|
4 |
進(jìn)樣量大時(shí)色譜柱過(guò)載 |
減小進(jìn)樣量或增加分流比 |
⑿ 出現(xiàn)“N”或 “W”峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
TCD用N2作載氣,不同濃度的二元(多元)混合氣的熱傳導(dǎo)系數(shù)非線性作用所致 |
改變進(jìn)樣量或調(diào)整載氣流量等操作參數(shù)有可能消除 |
|
|
2 |
TCD被嚴(yán)重污染 |
清洗檢測(cè)器 |
|
|
3 |
進(jìn)樣量與進(jìn)樣系統(tǒng)不匹配 |
試驗(yàn)選擇合適的進(jìn)樣量 |
|
|
4 |
使用的樣品溶劑與進(jìn)樣溫度和載氣流量不匹配 |
試驗(yàn)選擇最佳工作參數(shù) |
|
|
5 |
TCD四個(gè)臂連接錯(cuò) |
重新連接 |
|
|
6 |
進(jìn)樣運(yùn)行后,沒(méi)有關(guān)閉自動(dòng)調(diào)零功能 |
按儀器說(shuō)明書操作 |
|
|
7 |
ECD過(guò)載或被污染嚴(yán)重 |
減小進(jìn)樣量或清洗檢測(cè)器 |
⒀ 臺(tái)階峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
TCD熱絲元件被鹵素、氧或硫等元素腐蝕 |
通H2高溫還原,無(wú)效時(shí)更換元件 |
|
|
2 |
載氣流量突變(漏氣或氣路某處氣阻變化) |
檢修 |
|
|
3 |
流量調(diào)節(jié)閥性質(zhì)差 |
檢修或更換 |
|
|
4 |
用記錄儀時(shí)筆接線松動(dòng) |
重裝 |
|
|
5 |
信號(hào)接觸不良 |
重新連接 |
⒁ 色譜峰忽大忽小
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
ECD或NPD在穩(wěn)定過(guò)程中 |
等待儀器穩(wěn)定后再進(jìn)樣 |
這兩種檢測(cè)器比其它常用檢測(cè)器穩(wěn)定時(shí)間長(zhǎng) |
|
2 |
樣品進(jìn)樣歧視或分流歧視大 |
核查進(jìn)樣技術(shù)和參數(shù)設(shè)計(jì)是否合理 |
|
|
3 |
溫度、柱前壓、流量等有異常 |
檢查分析參數(shù)并仔細(xì)檢漏 |
注意不同靈敏度要求相差甚大 |
|
4 |
不分流進(jìn)樣打開分流閥的時(shí)間不合適或不準(zhǔn)確 |
重新實(shí)驗(yàn)確定 |
|
|
5 |
色譜柱被污染或產(chǎn)生了活性 |
截取柱頭一段或清洗更換柱 |
分析活性樣品時(shí)特別注意 |
|
6 |
進(jìn)樣汽化襯管被污染,活性組分被吸附或分解 |
清洗襯管、更換玻璃棉或襯管 |
同時(shí)檢查襯管密封性 |
|
7 |
進(jìn)樣時(shí)出現(xiàn)樣品蒸汽倒灌 |
減少進(jìn)樣量、更換大容積襯管或適當(dāng)降低汽化溫度 |
也可以提高進(jìn)樣時(shí)的柱前壓 |
|
8 |
樣品本身濃度變化 |
核查驗(yàn)證樣品 |
可能蒸發(fā)、分解或樣品預(yù)處理不當(dāng) |
|
9 |
進(jìn)樣量不重復(fù) |
注射針檢漏或更換新注射針 |
沒(méi)有掌握進(jìn)樣技術(shù)和技巧 |
|
10 |
檢測(cè)器在非線性段工作 |
減少進(jìn)樣量或降低儀器輸入量程 |
首先知道用檢測(cè)器允許的最大進(jìn)樣量 |
|
11 |
FID、NPD的電場(chǎng)偏低或不穩(wěn)定 |
調(diào)高極化電壓或檢修電源 |
|
|
12 |
存在共流出組分峰 |
提高柱效把有關(guān)組分分開 |
⒂ “鬼峰”(怪峰、多余峰、記憶峰)

① “鬼峰”的寬度(保留時(shí)間)和樣品峰接近,污染物可能和樣品同時(shí)進(jìn)入色譜柱,污染物可能源于進(jìn)樣器或樣品本身被污染(注射器、溶劑、樣品瓶或瓶蓋等),可用進(jìn)僅有溶劑的空白樣品排除污染源;
② 鬼峰的峰寬比樣品峰大得多,污染物可能再進(jìn)樣之前已存在色譜柱中,或者說(shuō)污染物在上一次分析結(jié)束時(shí),已存在色譜柱中,在下一次分析時(shí)流出。因峰很寬,有可能是由多次進(jìn)樣累積而成的,在此情況下峰一般峰呈現(xiàn)饅頭形,且常常隨著基線的漂移而出現(xiàn)。
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
載氣純度低,凈化器失效固定相與載氣污染物發(fā)生反應(yīng) |
更換載氣或活化凈化器 |
|
|
2 |
注射墊在溫度高時(shí)分解流失 |
采用耐高溫墊或適當(dāng)降低進(jìn)樣口溫度 |
事前對(duì)隔墊進(jìn)行老化處理或打開墊清洗氣路
|
|
3 |
上一次進(jìn)樣中的高沸點(diǎn)雜質(zhì)的自然流出 |
有必要進(jìn)一步進(jìn)行樣品預(yù)處理 |
|
|
4 |
襯管、柱頭沉積了高沸點(diǎn)污染物,程序升溫時(shí)流出; |
提高樣品純度清洗被污染部分
|
在程序升溫時(shí)增加終溫溫度或時(shí)間,是減小或消除上述鬼峰的有效方法;也可以每天或定時(shí)設(shè)置溫度程序進(jìn)行儀器烘烤,可有效地把保留性強(qiáng)的物質(zhì)趕出進(jìn)樣口和色譜柱;
③ 汽化溫度過(guò)高,樣品組分可能分解,每次降低20℃進(jìn)樣,觀察出峰情況,確定合適溫度;
④ 樣品在汽化襯管中停留太久,加大載氣或增加分流比;
⑤ 樣品在襯管中有吸附或分解,選用去活襯管或襯管失活需再處理;
⑥ 襯管中填充玻璃棉有活性或失活或填充玻璃棉不適合某些樣品分析,選用無(wú)填充物襯管或再去活處理;
⑦ 樣品本身有組分不穩(wěn)定,考慮增加預(yù)處理樣品程序;
⑧ 產(chǎn)生“鬼峰”的次要原因:
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
襯管密封件被污染,材料欠佳有流失 |
更換新的高質(zhì)量襯管密封件 |
|
|
2 |
柱頭堵塞的玻璃棉有活性 |
更換新的無(wú)活性玻璃棉 |
|
|
3 |
氣路系統(tǒng)漏氣 |
檢漏 |
尤其進(jìn)樣器和檢測(cè)器兩處影響較大 |
|
4 |
控溫或放大器電源波動(dòng) |
儀器電源不穩(wěn) |
|
|
5 |
樣品中有空氣(氧)
|
消除 |
|
|
6 |
樣品中存在交叉污染,用錯(cuò)注射針或樣品等 |
核查并消除 |
⒃ 出峰后基線下移

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
色譜柱被污染 |
再生、清洗或更換色譜柱 |
|
|
2 |
檢測(cè)器被污染 |
清洗檢測(cè)器 |
|
|
3 |
進(jìn)樣量大改變了工作狀態(tài) |
重復(fù)進(jìn)樣多次可能變好 |
當(dāng)系統(tǒng)被污染,進(jìn)大量溶劑減小了污染程度 |
|
4 |
流量變化(漏氣或氣阻發(fā)生變化) |
維修 |
|
|
5 |
FID噴嘴半堵塞 |
消除 |
|
|
6 |
NPD堿源被污染 |
再生堿源或更換 |
|
|
7 |
FID、 FPD、 NPD氣流比離較佳狀態(tài)太大 |
重新調(diào)整 |
|
|
8 |
有些樣品組分和固定相發(fā)生了反應(yīng) |
更換不同性能的色譜柱 |
|
|
9 |
FID火焰熄滅 |
重新點(diǎn)燃 |
⒄ 峰拖尾

① 在氣相色譜分析中引起峰托尾的原因包括以下幾種:
a. 汽化室的結(jié)構(gòu)不合理;
b. 柱溫或汽化室溫度設(shè)置不合理;
c. 進(jìn)樣量和進(jìn)樣器結(jié)構(gòu)不匹配偏大;
d. 進(jìn)樣技術(shù)欠佳;
e. 由于:固定液和擔(dān)體之間的邊界、金屬柱壁、柱兩端的連接管壁等的表面對(duì)溶質(zhì)分子的非線性吸附,特別是極性溶質(zhì),在非極性柱上分離時(shí)。
不難看出第五點(diǎn)在色譜分析日常工作中應(yīng)引起注意的,為了防止峰拖尾可考慮采取以下措施:對(duì)色譜柱內(nèi)壁進(jìn)行脫活處理;色譜柱進(jìn)出口連接,盡量實(shí)現(xiàn)玻璃化并進(jìn)行硅烷化處理,若使用金屬連接管可進(jìn)行去活處理;色譜柱固定相兩端柱塞用玻璃棉要硅烷化處理或改用石英棉取代。
② 由于峰拖尾情況不同,首先確定是全部峰拖尾還是活性樣品峰拖尾,視不同情況尋出具體原因。
a. 所有峰都拖尾:
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
色譜柱安裝不正確 |
重新安裝色譜柱 |
|
|
2 |
分流比太小 |
適當(dāng)調(diào)大分流比 |
|
|
3 |
汽化襯管被污染(內(nèi)有注射墊碎屑或其他固體顆粒) |
清洗汽化襯管或更換 |
|
|
4 |
色譜柱被嚴(yán)重污染,可能存在固體顆粒污染物與樣品作用 |
清洗再生或更換色譜柱 |
|
|
5 |
進(jìn)樣量大 |
減少進(jìn)樣量或稀釋樣品 |
|
|
6 |
注射墊處漏氣
|
檢漏或更換注射墊 |
|
|
7 |
補(bǔ)充氣未開或偏低 |
打開補(bǔ)充氣按說(shuō)明書調(diào)整 |
|
|
8 |
色譜柱使用溫度偏低或接近失效 |
提高色譜柱溫度或更換色譜柱 |
|
|
9 |
FID無(wú)極化電壓(或偏低) |
檢修極化電源 |
此時(shí)伴隨有靈敏度偏低現(xiàn)象 |
|
10 |
進(jìn)樣技術(shù)欠佳 |
改進(jìn) |
速度不合適 |
b. 活性樣品組分拖尾(隨保留時(shí)間增加拖尾加?。?/span>
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
使用了活性大的汽化襯管或色譜柱 |
去活處理或更換 |
|
|
2 |
襯管或色譜柱去活處理失效 |
重新把襯管或色譜柱去活處理 |
|
|
3 |
襯管或色譜柱被污染,樣品與污染物發(fā)生作用 |
清洗或更換襯管,再生或更換色譜柱 |
|
|
4 |
用錯(cuò)了汽化襯管和管中填充物 |
從新選用或改變襯管中的填充物 |
c. 保留時(shí)間短的峰拖尾
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
可能產(chǎn)生溶劑效應(yīng) |
改變分析參數(shù)或重選溶劑 |
|
|
2 |
色譜柱頭安裝不合理(死體積大) |
重新安裝色譜柱 |
|
|
3 |
注射隔墊漏氣 |
重新漏氣或更換隔墊 |
|
|
4 |
進(jìn)樣速度偏慢或欠佳 |
加快進(jìn)樣速度或改善進(jìn)樣技術(shù) |
d. 保留時(shí)間長(zhǎng)的峰拖尾
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
汽化溫度偏低 |
升高汽化溫度 |
|
|
2 |
色譜柱存在污染物; |
再生或清洗色譜柱 |
|
|
3 |
色譜柱兩端連接區(qū)域存在冷卻區(qū)域 |
檢查消除 |
e. 其他原因
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
峰前陡峰而后拖尾峰,通常意味著非線性等溫分配 |
色譜柱(固定相)和樣品不匹配,需要更換不同極性的色譜柱; |
|
|
2 |
氣-固色譜柱過(guò)載或使用程序升溫技術(shù) |
正常 |
|
|
3 |
個(gè)別峰拖尾可能和鬼峰共同流出 |
消除鬼峰或增加分離度 |
|
|
4 |
配有催化反應(yīng)器時(shí),催化劑接近失效 |
有必要更換催化劑 |
|
|
5 |
樣品化合物性質(zhì)不適合直接進(jìn)樣 |
應(yīng)考慮樣品前處理 |
⒅ 峰裂分( 單組分出現(xiàn)雙峰)

① 所有峰裂分
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
色譜柱安裝錯(cuò)誤或柱頭進(jìn)樣時(shí),樣品未注射到柱頭內(nèi) |
重新安裝色譜柱,確保樣品注射到柱頭 |
|
|
2 |
注射針有記憶(即樣品在針中有部分殘留) |
清洗注射針或更換新注射針 |
|
|
3 |
溶劑與樣品不匹配或使用混合溶劑; |
極性樣品用極性溶劑且沸點(diǎn)相差不宜太大調(diào)整使用的溶劑 |
|
|
4 |
汽化溫度偏低 |
升高汽化溫度 |
|
|
5 |
程序升溫操作時(shí)色譜柱初始溫度選擇不合適 |
重新選擇色譜柱初始溫度 |
|
|
6 |
進(jìn)樣時(shí)推進(jìn)方法不對(duì) |
改善進(jìn)樣時(shí)的推進(jìn)方法 |
② 部分峰裂分
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
有的樣品組分在汽化襯管中分解 |
降低汽化溫度或改用柱頭進(jìn)樣; |
也不能太低,否則峰展寬或拖尾 |
|
2 |
樣品和溶劑不匹配或使用了混合溶劑 |
重新選擇溶劑 |
|
|
3 |
進(jìn)樣技術(shù)差峰裂分 |
改進(jìn)進(jìn)樣技術(shù) |
峰裂分表現(xiàn)為隨保留時(shí)間增加而減弱 |
③ 其他原因
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
汽化襯 汽化襯管安裝死體積大 |
重新安裝汽化襯管 |
|
|
2 |
襯管溶積小進(jìn)樣量大出現(xiàn)蒸汽倒罐 |
減小進(jìn)樣量或重新選汽化襯管 |
|
|
3 |
檢測(cè)器過(guò)載 |
減小進(jìn)樣量或放大器量程 |
超出了響應(yīng)范圍 |
|
4 |
柱溫嚴(yán)重波動(dòng) |
檢修 |
⒆ 前沿峰(舌頭峰)

雖然氣相色譜儀汽化室設(shè)計(jì)不合理也是一種出現(xiàn)“前沿峰”的主要原因。但在日常操作中“前沿峰”的主要原因還還可能有以下兩種:
① 進(jìn)樣量太大引起色譜柱過(guò)載,通常認(rèn)為:當(dāng)樣品在固定相濃度增加速率高于它在氣相濃度的增加速率,會(huì)使吸附等控溫線為凹形時(shí),在色譜圖上會(huì)產(chǎn)生伸舌頭峰。減小進(jìn)樣量上述情況便可消除,但對(duì)于低負(fù)載填充柱,減少進(jìn)樣量仍出現(xiàn)不對(duì)稱峰時(shí),用稀溶液形式進(jìn)樣可以克服柱過(guò)載問(wèn)題;
② 樣品中某些高沸點(diǎn)組分沒(méi)有迅速氣化也是產(chǎn)生伸舌頭峰的一種原因。理論上講注入樣品后在有限的時(shí)間內(nèi)各組分應(yīng)瞬間汽化,當(dāng)樣品沸點(diǎn)范圍較寬時(shí),后出峰并非完全如此,這時(shí)在色譜圖上就出現(xiàn)前沿峰,增加汽化溫度,提高汽化速率是一般的解決辦法,但過(guò)高的汽化溫度可能產(chǎn)生兩個(gè)問(wèn)題:
① 遇到不穩(wěn)定化合物會(huì)造成熱分解現(xiàn)象,會(huì)在色譜圖上出現(xiàn)迅速溶出的“鬼峰”;
② 特別是采用柱頭進(jìn)樣時(shí),過(guò)高的氣化溫度,會(huì)使固定液過(guò)度流失,而產(chǎn)生一個(gè)具有催化反應(yīng)的表面,因此采用約1%的稀溶液效果更好。
③ 前沿峰的程度不同引起原因不同,除上述原因外,也可以通過(guò)實(shí)驗(yàn)來(lái)確定排除
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
色譜柱安裝不合格 |
重新安裝色譜柱 |
|
|
2 |
汽化溫度偏低 |
適當(dāng)調(diào)高汽化溫度 |
|
|
3 |
柱外效應(yīng)大 |
增加載氣流量或重新安裝色譜柱 |
|
|
4 |
汽化襯管被污染對(duì)樣品產(chǎn)生吸附作用 |
清洗或更換汽化襯管 |
|
|
5 |
色譜柱被污染或使用溫度低 |
適當(dāng)增加柱溫或再生色譜柱 |
|
|
6 |
峰前出現(xiàn)了鬼峰 |
消除鬼峰或增加分離度 |
|
|
7 |
懷疑進(jìn)樣量大 |
稀釋樣品10倍、選用厚液膜同類色譜柱、減小進(jìn)樣量或增加分流比等 |
|
|
8 |
有共流出峰 |
試用不同的極性或有選擇性的色譜柱,判斷有無(wú)其共流出峰 |
|
|
9 |
進(jìn)樣速度偏慢使早出峰出現(xiàn)前延 |
加快進(jìn)樣速度 |
⒇ 峰分離度變差
|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
色譜柱重新安裝的不合格 |
按說(shuō)明書要求尺寸安裝 |
|
|
2 |
更換了不純氣源或凈化器污物流失 |
更換純度高的氣源或加深凈化作用,再生凈化器 |
|
|
3 |
色譜柱被污染 |
定時(shí)清洗或再生 |
|
|
4 |
色譜柱固定液流失或分解致使柱效下降 |
更換新柱 |
|
|
5 |
誤調(diào)整了分析條件(載氣、流速、柱溫度等) |
重新確定最佳分離條件 |
色譜分析方法允許微細(xì)調(diào)整 |
|
6 |
樣品濃度變化太大而進(jìn)樣量不變 |
減小進(jìn)樣量,有必要稀釋樣品 |
|
|
7 |
進(jìn)樣量太大色譜柱過(guò)載 |
減少進(jìn)樣量 |
|
|
8 |
進(jìn)樣系統(tǒng)被污染 |
清洗進(jìn)樣系統(tǒng) |
|
|
9 |
檢測(cè)器工作狀態(tài),ECD漏氣或FID氣流欠佳 |
盡量使檢測(cè)器工作在最佳狀態(tài)附近 |
|
|
10 |
數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站判斷軟性能差或參數(shù)設(shè)置欠佳 |
重新調(diào)整判峰參數(shù)或更換一臺(tái)性能較佳數(shù)據(jù)處理機(jī) |
|
|
11 |
進(jìn)樣技術(shù)欠佳 |
不斷改進(jìn) |
(21) 帶毛刺的峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
儀器沒(méi)有穩(wěn)定下來(lái),噪聲大于要求 |
等待一段時(shí)間 |
|
|
2 |
FID極化電壓不穩(wěn)定 |
檢修 |
|
|
3 |
環(huán)境因素干擾 |
實(shí)驗(yàn)消除 |
|
|
4 |
儀器穩(wěn)定性變差 |
檢修 |
參見(jiàn)噪聲大的原因和排除 |
|
5 |
信號(hào)線或電路板接觸不良 |
檢修 |
|
|
6 |
儀器用錯(cuò)量程和衰減 |
更正 |
|
|
7 |
數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站判峰(半峰寬和斜率)設(shè)置大小 |
重新設(shè)置判峰參數(shù) |
|
|
8 |
數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站本身基線不穩(wěn)定 |
檢修 |
(22) 色譜數(shù)據(jù)處理工作站觀察到矩形峰

|
可能原因 |
排除方法 |
說(shuō)明 |
|
|
1 |
儀器輸出負(fù)極性信號(hào)工作站不能處理 |
調(diào)節(jié)儀器使其輸出正信號(hào) |
|
|
2 |
零點(diǎn)偏高沒(méi)有校正 |
工作站調(diào)零 |
|
|
3 |
工作站量程設(shè)置太大無(wú)法判斷基線位置和情況 |
減小量程觀察 |
|
|
4 |
輸入信號(hào)極性和工作站本身零點(diǎn)不匹配 |
改變極性重新調(diào)零 |

來(lái)源:Internet