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半導(dǎo)體集成電路選用的質(zhì)量與可靠性

嘉峪檢測(cè)網(wǎng)        2020-03-17 16:05

為了保證產(chǎn)品的可靠性,最基本的方法就是要選擇固有可靠性高的元器件。元器件的固有可靠性一般與質(zhì)量、可靠性等級(jí)密切相關(guān),另外也與生產(chǎn)廠商的信譽(yù)、技術(shù)的成熟程度及元器件的使用歷史等相關(guān)。本文重點(diǎn)介紹在軍事領(lǐng)域,半導(dǎo)體集成電路質(zhì)量等級(jí)是如何選擇的,以及選用的可靠性要求。

 

半導(dǎo)體集成電路包括半導(dǎo)體單片集成電路(數(shù)字電路、模擬電路、微處理器、存儲(chǔ)器)和混合集成電路。

 

半導(dǎo)體集成電路質(zhì)量等級(jí)選擇

 

1、國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體單片集成電路質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)和質(zhì)量保證等級(jí)

質(zhì)量等級(jí)、質(zhì)量系數(shù)和質(zhì)量保證等級(jí)列出表1。表中質(zhì)量系數(shù)是指不同質(zhì)量等級(jí)對(duì)元器件工作失效率影響的調(diào)整系數(shù)。在設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)中計(jì)算元器件工作失效率時(shí)使用,質(zhì)量系數(shù)越小,元器件工作失效率越低。

表1     半導(dǎo)體單片集成電路質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)πQ和質(zhì)量保證等級(jí)

質(zhì)量等級(jí)

質(zhì)量要求說(shuō)明

質(zhì)量要求補(bǔ)充說(shuō)明

πQ

相應(yīng)的質(zhì)量保證等級(jí)

A

A1

符號(hào)GJB597A列入質(zhì)量認(rèn)證合格產(chǎn)品目錄的S級(jí)產(chǎn)品

 

S

A2

符合GJB597A列入質(zhì)量認(rèn)證合格產(chǎn)品目錄的B級(jí)產(chǎn)品

0.10

B

A3

符合GJB597A列入質(zhì)量認(rèn)證合格產(chǎn)品目錄的B1級(jí)產(chǎn)品

0.14

B1

A4

符合GB4589.1的III類產(chǎn)品,或經(jīng)中國(guó)電子元器件質(zhì)量認(rèn)證委員會(huì)認(rèn)證合格的II類產(chǎn)品

按QZJ840614~840615“七專”技術(shù)條件組織生產(chǎn)的I、IA類產(chǎn)品;符合SJ331的I、IA類產(chǎn)品

0.25

G(QZJ840614-15)

七專

B

B1

按GJB597A的篩選要求進(jìn)行篩選的B2質(zhì)量等級(jí)產(chǎn)品;符合GB4589.1的II類產(chǎn)品

按“七九O五”七專質(zhì)量控制技術(shù)協(xié)議組織生產(chǎn)的產(chǎn)品;符合SJ331的II類產(chǎn)品

0.50

G(七九○五)七專

B2

符合GB4589.1的I類產(chǎn)品

符合SJ331的III類產(chǎn)品

1.0

 

C

C1

符合SJ331的IV類產(chǎn)品

4.0

 

C2

低檔產(chǎn)品

14

 

 

2、國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體混合集成電路質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)和質(zhì)量保證等級(jí)
質(zhì)量等級(jí)及質(zhì)量系數(shù)和質(zhì)量保證等級(jí)見(jiàn)表2,國(guó)產(chǎn)混合集成電路質(zhì)量等級(jí)A1、A2、A3質(zhì)量等級(jí)暫無(wú)質(zhì)量系數(shù)。

表2 混合集成電路質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)πQ和質(zhì)量保證等級(jí)

質(zhì)量等級(jí)

質(zhì)量要求說(shuō)明

質(zhì)量要求補(bǔ)充說(shuō)明

πQ

相應(yīng)的質(zhì)量保證等級(jí)

A

A1

符合GJB2438列入鑒定合格制廠一覽表的K級(jí)產(chǎn)品

K

A2

符合GJB2438列入鑒定合格制廠一覽表的H級(jí)產(chǎn)品

H

A3

符合GJB2438列入鑒定合格制造廠一覽表的H1級(jí)產(chǎn)品

H1

A4

符合GB8976和GB11498質(zhì)量評(píng)定水平為K級(jí)的產(chǎn)品

按QZJ840616混合集成電路“七專”技術(shù)條件組織生產(chǎn)的產(chǎn)品

0.25

G

(QZJ840616)

七專

B

B1

符合GB8976和GB11498質(zhì)量評(píng)定水平為L(zhǎng)級(jí)的產(chǎn)品

按“七九O五”七專質(zhì)量控制技術(shù)協(xié)議組織生產(chǎn)的產(chǎn)品;符合SJ820的產(chǎn)品

0.50

G

(七九○五)

七專

B2

符合GB8976和GB11498質(zhì)量評(píng)定水平為M級(jí)的產(chǎn)品

1.0

 

C

低檔產(chǎn)品

14

 

 

3、國(guó)外(美國(guó))半導(dǎo)體集成電路質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)
美國(guó)半導(dǎo)體集成電路的質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)表(見(jiàn)表3),它包括了半導(dǎo)體單片集成電路和混合集成電路。
美國(guó)半導(dǎo)體集成電路質(zhì)量等級(jí)從高到低為S(宇航級(jí))、B(軍級(jí))、B-1(準(zhǔn)軍級(jí))。

表3 美國(guó)半導(dǎo)體集成電路質(zhì)量等級(jí)與質(zhì)量系數(shù)πQ

質(zhì)量等級(jí)

說(shuō)    明

質(zhì)量系數(shù)πQ

S

1.完全按照MIL-M-38510的S類要求采購(gòu)的

2.完全按照MIL-I-38535及其附錄B(U類)采購(gòu)

3.混合電路按照MIL-H-38534的S類要求(質(zhì)量等級(jí)K)采購(gòu)

0.25

B

1.完全按照MIL-M-38510的B類要求采購(gòu)的

2.完全按照MIL-I-38535(Q類)采購(gòu)

3.混合電路按照MIL-H-38534的B類要求(質(zhì)量等級(jí)H)采購(gòu)

1.0

B-1

完全符合MIL-STD-883的1.2.1條的所有要求并根據(jù)MIL圖樣、DESC圖樣或其他政府批準(zhǔn)的文件采購(gòu)(不包括混合電路)。

2.0

 

4、質(zhì)量等級(jí)的選擇
(1)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體集成電路的選擇
航空航天產(chǎn)品應(yīng)選B1及B1以上質(zhì)量等級(jí);兵器、艦船產(chǎn)品應(yīng)選B2及B2以上質(zhì)量等級(jí)。
(2)國(guó)外(美國(guó))半導(dǎo)體集成電路的選擇與控制
應(yīng)選擇B-1及B-1以上質(zhì)量等級(jí)。
(3)裝備的地面保障設(shè)備所選的元器件質(zhì)量等級(jí),根據(jù)需要可以低于上述質(zhì)量等級(jí)或與上述要求相同。

 

半導(dǎo)體集成電路選用的可靠性要求

    1、一般要求
    (a) 半導(dǎo)體集成電路選擇時(shí)應(yīng)考慮降額使用,半導(dǎo)體集成電路器件種類繁多,其降額要求要按具體規(guī)定執(zhí)行(可參閱本公眾號(hào)之前發(fā)文);
    (b) 熱是半導(dǎo)體集成電路引起失效的主要因素之一,因此周圍最高環(huán)境溫度應(yīng)低于器件規(guī)范規(guī)定的環(huán)境溫度;
    (c) 半導(dǎo)體集成電路選擇時(shí)應(yīng)注意其失效模式,失效模式主要有:性能退化、斷路、短路、輸出失效等。
    2、詳細(xì)要求
    (a) 對(duì)航天、航空產(chǎn)品選應(yīng)擇54系列數(shù)字集成電路,不應(yīng)選74系列;
    (b) 國(guó)外的塑料封裝器件不能用作關(guān)鍵或重要場(chǎng)合,一般不采用塑封器件;
    (c) 最好選用金屬外殼集成電路,以有利于散熱;
    (d) 集成電路內(nèi)元器件密集程度很高,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、選用時(shí)功耗、輸入輸出電壓和電流不應(yīng)超過(guò)額定值;
    (e) 集成電路MOS器件一般電流負(fù)載能力較低,并且容抗性負(fù)載會(huì)對(duì)器件工作速度造成較大影響;
    (f) 模擬集成電路的運(yùn)算放大器有多種型號(hào),通用的、低功耗的、高精高的、高輸入阻抗的、低嗓聲的、高速的和寬帶的等,應(yīng)選擇適用的器件以滿足可靠使用要求;

    (g) 選用集電穩(wěn)壓器,其內(nèi)部最好有過(guò)熱、過(guò)流保護(hù)電路;

    (h) 超大規(guī)模集成電路的選擇應(yīng)考慮其測(cè)試和篩選問(wèn)題,否則影響使用可靠性。

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