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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2020-04-16 16:00
常用的射線無損檢測(cè)技術(shù)一般分為數(shù)字射線檢測(cè)和膠片射線照相兩大類。
膠片射線照相分為x射線照相和γ射線照相。數(shù)字射線檢測(cè)分為直接數(shù)字化射線檢測(cè)和間接數(shù)字化射線檢測(cè)兩大類,具體按輻射探測(cè)器還可以細(xì)分。
射線無損檢測(cè)是基于射線的以下幾點(diǎn)特性得以實(shí)施的:
射線具有穿透性;
射線會(huì)被其穿透的物質(zhì)吸收,而透過去的射線的數(shù)量和質(zhì)(射線的軟硬)或者反過來說射線被吸收的程度取決于物體的厚度和密度;
在一定的照射時(shí)間段內(nèi)穿過物質(zhì)的射線的分布就有多有少。
基礎(chǔ)概念:
如果物體是等厚的板材垂直透照過去的射線的分布是規(guī)律性分布的,物體內(nèi)有缺陷和沒有缺陷其結(jié)果是不同的和有差異的,這個(gè)差異就是我們識(shí)別缺陷的根據(jù)。透照過去的射線攜帶了物體內(nèi)部的信息,但這不直觀可見,我們就需要有其他的設(shè)備和器材來記錄這些射線分布的平面信息并將其轉(zhuǎn)換成可看見的圖像。我們就依據(jù)獲得圖像(底片或者數(shù)字圖像)來評(píng)定缺陷。
底片或者數(shù)字圖像的質(zhì)量由其本身的對(duì)比度和清晰度決定。對(duì)比度指的是底片或數(shù)字圖像相鄰兩區(qū)域的黑度差異的程度,主要由被透照的物體厚度和密度以及射線的質(zhì)來決定。清晰度指的是底片或數(shù)字圖像輪廓邊界的銳利程度,類似的比喻就是緩坡就是銳利程度差而懸崖就是銳利程度好。
圖像質(zhì)量的好壞其實(shí)指的是相同一個(gè)缺陷在不同質(zhì)量的圖像中能被識(shí)別的程度,也就是相同的缺陷按等比例縮小在圖像上從肉眼可見上消失的尺寸,可見缺陷尺寸越小圖像質(zhì)量越好也即靈敏度越高。所以簡單地可以用放置在工件上的常規(guī)像質(zhì)計(jì)(IQI)來直接測(cè)量靈敏度,膠片射線照相和數(shù)字射線檢測(cè)都需要使用常規(guī)像質(zhì)計(jì)。
數(shù)字射線檢測(cè)和膠片射線照相有六項(xiàng)區(qū)別:
01膠片在暗室處理成底片后其對(duì)比度是固定的,而數(shù)字圖像可以經(jīng)過圖像處理改變其對(duì)比度。
02膠片射線照相不使用雙絲型像質(zhì)計(jì)來測(cè)定不清晰度,原因在于當(dāng)你選定了具體的膠片時(shí)就選定了一定的固有不清晰度,最終的不清晰度由幾何不清晰度和固有不清晰度共同決定。對(duì)于數(shù)字射線檢測(cè)其不清晰度主要是由接收器的固有不清晰度(與其基本空間分辨力有關(guān))和幾何不清晰度共同決定的,數(shù)字射線檢測(cè)最終圖像都是經(jīng)過圖像處理過后得到的,系統(tǒng)主要是通過依據(jù)瑞利判據(jù)測(cè)定雙絲型像質(zhì)計(jì)的參考圖像的結(jié)果作為其基本空間分辨力的證明依據(jù),用以核實(shí)系統(tǒng)硬件是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。
03直接數(shù)字射線檢測(cè)DR的檢測(cè)圖像的信噪比正比于其對(duì)比度靈敏度。通過對(duì)分立式輻射探測(cè)器(DDA)進(jìn)行嚴(yán)格、優(yōu)良的響應(yīng)校正,可使探測(cè)器在很大的曝光劑量內(nèi)獲得信噪比與曝光劑量的平方根間呈線性響應(yīng)關(guān)系,也就是說屏幕上顯示出的階梯試塊圖像的層次感強(qiáng)。間接數(shù)字射線檢測(cè)CR的檢測(cè)圖像通過系統(tǒng)軟件處理后也能達(dá)到以上同樣的效果。而膠片射線照相必須達(dá)到一定的黑度時(shí)才有類似的效果,這也是膠片射線照相檢測(cè)耗時(shí)長的原因,而且越是照相質(zhì)量好的膠片需要的曝光時(shí)間越長。并且膠片射線照相檢測(cè)對(duì)于越薄吸收系數(shù)越?。ㄔ有驍?shù)越?。┑牟馁|(zhì)檢測(cè)效果越差越難,而這恰恰落在數(shù)字射線檢測(cè)的強(qiáng)項(xiàng)范圍內(nèi)。
04膠片射線照相從拍片到最后評(píng)定中間耗時(shí)長,DR則可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)時(shí)評(píng)定,而且可以實(shí)現(xiàn)多人遠(yuǎn)程在線綜合快速評(píng)定,有利于現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品的批量快速生產(chǎn)。CR與DR的區(qū)別在于不能實(shí)時(shí)成像其他情況一樣,兩者還可以省去底片等大量的實(shí)物儲(chǔ)存空間,可以遠(yuǎn)程檢測(cè)信息實(shí)時(shí)共享。技術(shù)更先進(jìn)的CT在軟件的協(xié)助下更可以立體建模直觀顯示被檢測(cè)出的缺陷的形狀和大小。
05DR或者CT在實(shí)時(shí)檢測(cè)時(shí),可以通過旋轉(zhuǎn)工件或者旋轉(zhuǎn)源和探測(cè)器達(dá)到360度旋轉(zhuǎn),通過屏幕觀察工件上粘附的人工標(biāo)記影像和缺陷的影像可以有效地排除那些事由粗晶粒材料引起的衍射斑紋,這對(duì)于小型鑄件射線檢測(cè)排除衍射斑紋的影響效果極佳。
06數(shù)字射線檢測(cè)的一大缺憾是無法檢測(cè)厚的和原子序數(shù)高的工件,因?yàn)閿?shù)字射線檢測(cè)用的都是點(diǎn)狀X射線源,其X射線源尺寸都要求盡可能小以減少幾何不清晰度的影響所以其管電壓管電流都受限X射線源總功率較低。

來源:SGS