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電感可靠性測(cè)試分為環(huán)境測(cè)試和物理測(cè)試兩種。

 

一般的SMD型電感，貼片功率電感，插件電感等都會(huì)做這樣的測(cè)試。環(huán)境測(cè)試主要測(cè)試電感的耐溫性，耐濕性，熱沖擊等；物理測(cè)試主要是測(cè)試電感的強(qiáng)度，可焊性，再流焊，跌落，碰撞等。

 

一、電感可靠性測(cè)試之環(huán)境測(cè)試

 

MIL-STD-202G Method 108A 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10%

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30% 

4.直流電阻變化不超過10% 

溫度：85±2℃ 

時(shí)間：96±2hours樣品在室溫下放置1小時(shí)，不超過2小時(shí)必須測(cè)試。

 

IEC 68-2-1A 6.1 6.2 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10%

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30%

4.直流電阻變化不超過10%

溫度：-25±2℃ 

時(shí)間：96±2hours 樣品在室溫下放置1小時(shí)，不超過2小時(shí)必須測(cè)試。

 

MIL-STD-202G Method 103B 濕度測(cè)試 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10%

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30% 

4.直流電阻變化不超過10% 

 

1.樣品必須先在40±5℃條件下干燥24小時(shí) 

2.干燥后測(cè)試

3.暴露：溫度：40±2℃，濕度：93±3%RH

時(shí)間：96±2小時(shí) 

4.暴露結(jié)束后，在試驗(yàn)箱中進(jìn)行測(cè)試。

5.樣品在室溫下放置1小時(shí)，不超過2小時(shí)必須測(cè)試。

 

MIL-STD-202G Method 107G 熱沖擊測(cè)試 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10%

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30% 

4.直流電阻變化不超過10%從-40℃作用T分鐘，然后溫度沖擊到125℃作用T分鐘，作為一個(gè)循環(huán)，共作用20次。

 

二、電感可靠性測(cè)試之物理性試驗(yàn)

 

MIL-STD-202G Method 208H IPC-J-STD-002B 可焊性測(cè)試 solder coverage端子必須有95%以上著錫 

1.端子浸入助焊劑然后浸入245±5℃錫爐中5秒 

2.焊料：Sn(63)/Pb(37) 

3.助焊劑：松香助焊劑

 

IPC J-STD-020B 過再流焊測(cè)試 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10% 

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30%

4.直流電阻變化不超過10% 

 

1.參照下頁回流焊曲線過三次

2.峰值溫度為：245±5℃

 

MIL-STD-202G Method 201A 振動(dòng)測(cè)試 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10%

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30% 

4.直流電阻變化不超過10% 用10-55Hz振動(dòng)頻率0.75mm振幅沿X，Y，Z方向各振動(dòng)2小時(shí)(共6小時(shí))

 

MIL-STD-202G Method 203C 落下測(cè)試 

1.無明顯的外觀缺陷 

2.感值變化不超過10%

3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過30%

4.直流電阻變化不超過10%         

 

將產(chǎn)品包裝后從1米高度自然落下至試驗(yàn)板上 1角1棱2面。

 

JIS C 5321 ：1997 端子強(qiáng)度試驗(yàn) 

定義：A：焊接端子截面積 A≤8mm² ，推力≥5N   

時(shí)間：30秒 8mm²≤20mm² ，推力≥10N   

時(shí)間：10秒20mm² ，推力≥20N   

時(shí)間：10秒；彎折測(cè)試：將產(chǎn)品焊于PCB上，分別經(jīng)過推力測(cè)試和彎折測(cè)試后端子不會(huì)發(fā)生松脫。將PCB對(duì)中彎折，到達(dá)撓度2mm。

 

IEC 68-2-45：1993 耐溶劑性試驗(yàn) 

無外觀破壞及標(biāo)記損壞在IPA溶劑中浸泡5±0.5分鐘，室溫下干燥5分鐘，然后擦拭10次。