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AEC車載電子元器件應(yīng)力認(rèn)證振動(dòng)沖擊測試介紹

嘉峪檢測網(wǎng)        2021-07-16 21:11

AEC系列振動(dòng)、沖擊測試的目的

 

AEC系列振動(dòng)測試旨在評估電氣設(shè)備中使用的部件。它的目的是確定部件承受由運(yùn)輸或現(xiàn)場操作產(chǎn)生的運(yùn)動(dòng)引起的中等到嚴(yán)重振動(dòng)的能力。這種類型的振動(dòng)可能會干擾工作特性。特別是重復(fù)的應(yīng)力會導(dǎo)致部件疲勞破壞。這是一種用于部件鑒定的破壞性試驗(yàn)。

 

振動(dòng)、沖擊測試的夾具設(shè)計(jì)及其要求

 

振動(dòng)、沖擊試驗(yàn)中夾具的主要功能是將振動(dòng)、沖擊臺產(chǎn)生的能量傳遞給試件，一個(gè)好的夾具應(yīng)至少滿足下列要求：

 

1） 能方便的將試件固定到臺面上；

 

2）在整個(gè)試驗(yàn)頻率范圍內(nèi)，夾具的頻響特性要平坦，夾具的第一階固有頻率應(yīng)高于最高試驗(yàn)頻率，還應(yīng)避免夾具與產(chǎn)品的共振耦合；

 

3）夾具與產(chǎn)品的連接面上的各個(gè)連接點(diǎn)的相應(yīng)要盡量一致，以確保試驗(yàn)時(shí)的激勵(lì)輸入的均勻性；

 

4）夾具的剛度和質(zhì)量比要足夠大。

 

AEC系列振動(dòng)測試標(biāo)準(zhǔn)及測試條件

 

接受條件：0失效

 

測試方法：JEDEC JESD22-B103

 

標(biāo)準(zhǔn)

測試對象

測試數(shù)量

測試條件

AEC Q100

集成電路

15

20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下

AEC Q101

離散半導(dǎo)體

僅針對密封件

20Hz~100Hz   峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g；

AEC Q102

離散光電半導(dǎo)體器件

3批次中各取10個(gè)

20Hz~100Hz   峰峰值位移：0.06inch;   100Hz~2000Hz,加速度20g；

AEC Q103-002

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件

3批次中各取39個(gè)

M1等級：20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g
M2等級：10Hz~2000Hz~10Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g
備選方案：由任務(wù)文件制定

AEC Q103-003

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件

3批次中各取12個(gè)

20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＜12min，每軸向4次；峰值加速度20g;測試前后的性能檢查在常溫下

AEC Q104

多芯片模塊(MCM)

15

20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下

 

AEC系列沖擊測試標(biāo)準(zhǔn)及測試條件

 

接受條件：0失效

 

測試方法：JEDEC JESD22-B110

 

標(biāo)準(zhǔn)

測試對象

測試數(shù)量

測試條件

AEC Q100

集成電路

15

僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時(shí)間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進(jìn)行。

AEC Q101

離散半導(dǎo)體

僅針對密封件

1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要測試電氣參數(shù)

AEC Q102

離散光電半導(dǎo)體器件

3批次中各取10個(gè)

1500g,0.5ms，5擊，3次/方向。

在MS前和MS后的測試，或僅在CA前和MS后進(jìn)行測試。

AEC Q103-002

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件

3批次中各取39個(gè)

M1級：

•測試條件：每軸雙向5個(gè)脈沖，0.3ms持續(xù)時(shí)間，6000g峰值加速度等級M2：

•測試前：下列每次測試#G3的恒定加速度（CA）

•測試條件：每軸雙向10個(gè)脈沖，0.3ms持續(xù)時(shí)間，6000g峰值加速度

替代測試條件：依照任務(wù)剖面（安裝位置定義的機(jī)械條件）

室溫下MS前后測試。

后測試：IV（PS11）和WBP（C2）進(jìn)行5個(gè)裝置的測試。

AEC Q103-003

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件

3批次中各取12個(gè)

3個(gè)脈沖，0.5毫秒持續(xù)時(shí)間，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進(jìn)行震動(dòng)前后測試。

AEC Q104

多芯片模塊(MCM)

15

僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時(shí)間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進(jìn)行。

 

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來源：Internet

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