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嘉峪檢測網(wǎng) 2021-07-30 17:35
科研的江湖中,有種傳說:“Science和Nature得一即可安天下”。大江東去浪淘盡,千古風(fēng)流人物,每天絞盡腦汁,努力做實(shí)驗(yàn)、寫文章,只為能在有生之年發(fā)上一篇Science或Nature,從而奠定自己的江湖地位,成為別人眼中的“科研大俠”。
不管Science也好,Nature也好,或是其他Sci文章也好,當(dāng)你打開文章,你會發(fā)現(xiàn)一個(gè)特別明顯的特征:文章中的圖、表及數(shù)據(jù),顏值非常高。影響因子越高的文章,通常文章中的圖表會越漂亮。曾幾何時(shí),當(dāng)我閱讀別人的文章,看到非常漂亮的圖譜時(shí),心中難免會念叨:要是哪天我也能做出來這么漂亮的圖譜,那豈不是:好嗨哦,感覺人生達(dá)到了高潮。
俗話說得好,千里之行始于足下,我們眼中的科研大俠們,也不例外。要想做出來漂亮的圖譜,首先第一步你的樣品制備一定要非常完美,否則巧婦難為無米之炊,再好的儀器也無法從制備很差的樣品中得出很好的結(jié)果。
關(guān)于XRD粉末樣品的制備,您了解多少呢?今天,我們就聊聊這個(gè)話題。
1.B-B衍射幾何對試樣的要求
XRD粉末衍射準(zhǔn)聚焦幾何要求試樣很好滿足聚焦條件:
試樣表面應(yīng)該平整緊密
樣品表面應(yīng)準(zhǔn)確位于聚焦圓上,準(zhǔn)確與測角儀軸相切

▲圖1:B-B衍射幾何示意圖
2.樣品制備的重要性
XRD衍射峰的三要素(峰位、峰強(qiáng)、峰形)都與樣品制備密切相關(guān)(具體見圖2中描述),這就是為什么要仔細(xì)思考樣品制備重要性的原因。

▲圖2:XRD衍射峰的三要素
3.粉末樣品制備常見的問題
1.顆粒尺寸效應(yīng)
1)樣品顆粒比較大,衍射強(qiáng)度不成比例(強(qiáng)度或高或低,顆粒效應(yīng)),無統(tǒng)計(jì)性(如表1所示:(石英(113)反射的典型強(qiáng)度重現(xiàn)性,光源CuKa):
表1:石英顆粒大小的不同對強(qiáng)度波動的影響

2)樣品混合不均勻,無法代表真實(shí)情況:顆粒聚集,分散,物相不均勻

▲圖3:顆粒尺寸效應(yīng)
3)顆粒尺寸過大,將會造成相對強(qiáng)度不準(zhǔn)確,導(dǎo)致定性分析、定量分析以及結(jié)構(gòu)精修都會產(chǎn)生巨大誤差,這時(shí)可以通過手工或機(jī)器研磨來減小顆粒尺寸,如下圖:

▲圖4:手工研缽研磨
4)需要注意的是,適量研磨即可,如果過度研磨,將會破壞晶體結(jié)構(gòu),造成衍射峰加寬、重疊,給定性、晶粒尺寸、定量以及結(jié)構(gòu)精修帶來誤差。
2.樣品高度誤差
1)粉末衍射要求樣品表面與聚焦圓相切,如果不滿足,即存在高度誤差,如圖5所示:

▲圖5:樣品高度誤差
2)若存在高度誤差,將會導(dǎo)致峰位變化和峰形的不對稱展寬(如圖6所示),對后續(xù)的數(shù)據(jù)分析帶來誤差,該誤差通常為BB幾何中最大的誤差來源:
定性相分析
定量相分析
指標(biāo)化

▲圖6:石英試樣位移0.2-1.2mm 對峰位的影響
3.擇優(yōu)取向
1)擇優(yōu)取向會造成德拜環(huán)的不連續(xù)

▲圖7:織構(gòu)造成德拜環(huán)不連續(xù)(左圖:理想粉末;右圖:織構(gòu)粉末)
2)擇優(yōu)取向會造成測試強(qiáng)度不準(zhǔn)確,如圖8中(001)衍射峰存在明顯的擇優(yōu)取向,造成測試強(qiáng)度異常增高

▲圖8:(001)衍射峰存在明顯的擇優(yōu)取向
3)克服擇優(yōu)取向沒有通用的方法,根據(jù)實(shí)際情況可以采用以下幾種:
使樣品粉末盡可能的細(xì),裝樣時(shí)用篩子篩入,先用小抹刀刀口剁實(shí)并盡可能輕壓;
把樣品粉末篩落在傾斜放置的粘有膠的平面上通常也能減少擇優(yōu)取向,但是得到的樣品表面較粗糙;
通過加入各向同性物質(zhì)(如 MgO,CaF2等)與樣品混合均勻,混入物還能起到內(nèi)標(biāo)的作用;
為降低擇優(yōu)取向,可在玻璃與試樣板間放一塊平整的高標(biāo)號金相砂紙。砂紙表面存在幅度很小的凹凸,落入凹陷處的試樣顆粒不易在壓制時(shí)改變方向,從而減少了擇優(yōu)取向;
但是,對于一些具有明顯各向異性的晶體樣品,采用上述方法仍不可避免一定程度的擇優(yōu)取向;
反射法通常只能減弱擇優(yōu)取向,消除擇優(yōu)取向需要采用透射法。
4.樣品透明效應(yīng)
1)混合樣品中由于各相吸收系數(shù)差別較大,會造成微吸收效應(yīng),也叫做樣品透明效應(yīng)。
2)對X射線吸收較弱的材料,比如有機(jī)物,主要由輕元素組成,X射線進(jìn)入樣品深度較深,導(dǎo)致樣品透明誤差增大:峰位偏低,峰形不對稱增加。
3)樣品透明誤差等效于位移誤差。
4)樣品透明效應(yīng)改進(jìn)方法:
薄的樣品可以得到更準(zhǔn)確的峰位
透射模式
4.常見的制樣方法
XRD的粉末樣品制樣有多種方法,很多文獻(xiàn)及參考資料上都可以查到,這里不再詳細(xì)介紹。
正裝法
背裝法
側(cè)裝法
頂裝法
噴霧干燥法
填料法
其他方法
其中,正裝法和背裝法最常見,其制樣的詳細(xì)過程如圖9和圖10所示。

▲圖9:正裝法制樣過程

▲圖10:背裝法制樣過程
5.粉末樣品制備總結(jié)
XRD粉末樣品,制備過程中,為了盡可能減小樣品造成的測量誤差,得到最優(yōu)的測試結(jié)果,最好能做到以下幾點(diǎn):
多種物相混合均勻,使樣品有代表性
樣品表面平整,滿足BB聚焦圓幾何
樣品足夠細(xì),有足夠多的顆粒被X光照射到
樣品的厚度滿足粉末衍射的要求(相對無限厚),衍射強(qiáng)度準(zhǔn)確
選擇合適的制樣方法,盡量減小或避免擇優(yōu)取向
對于X光吸收系數(shù)很低的材料,薄的樣品可以得到更準(zhǔn)確的峰位
樣品旋轉(zhuǎn)可以增加粉末樣品的統(tǒng)計(jì)性

來源:Internet