日韩无码精品91,久久久精品熟女亚洲AVV

常見異物分析方法、步驟與案例

嘉峪檢測網(wǎng) 2021-11-26 12:25

異物分析是專門分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。

異物分析技術(shù)通常應(yīng)用于以下情況，剛剛生產(chǎn)出來的產(chǎn)品有一些黑點(diǎn)等異常缺陷或油污等表面污染或者在經(jīng)過一段時(shí)間的貯存、運(yùn)輸?shù)拳h(huán)節(jié)突然出現(xiàn)一些微小的斑點(diǎn)、油狀物粉狀物等異物，此時(shí)就急需異物分析的方法可以分析出這些異物屬是什么物質(zhì)進(jìn)而尋找污染源或者污染環(huán)節(jié)進(jìn)行排除改善配方體系，改善產(chǎn)品質(zhì)量。因異物的生成情況多種多樣很多異物可能對產(chǎn)品有決定性的破壞意義甚至威脅到生產(chǎn)和人身安全因此異物分析主要是為了保障生產(chǎn)穩(wěn)定性而存在。常見的異物分析案例有 PCB板上的助焊劑殘留、金屬件的表面氧化物、 PVC線皮析出的物質(zhì)、螺母的表面油污、塑膠制品中夾雜的白色顆粒、鏡頭上的異物，顯示屏上的外來物等。

常見異物分析步驟

儀器名稱	信號檢測	元素測定	檢測限	深度分辨率	適用范圍	參考標(biāo)準(zhǔn)
掃描電子顯微鏡（SEM）	二次及背向散射電子&X射線	B-U (EDS mode)	0.1 - 1 at%	0.5 - 3 µm (EDS)	高辨析率成像元素微觀分析及顆粒特征化描述	JY/T 010-1996GB/T 17359-2012
X射線能譜儀（EDS）	二次背向散射電子&X射線	B-U	0.1 – 1 at%	0.5 – 3 μm	小面積上的成像與元素組成；缺陷處元素的識別/繪圖；顆粒分析（>300nm）
顯微紅外顯微鏡（FTIR）	紅外線吸收	分子群	0.1 - 1 wt%	0.1 - 2.5 µm	污染物分析中識別有機(jī)化合物的分子結(jié)構(gòu) 識別有機(jī)顆粒、粉末、薄膜及液體	GB/T 6040-2002
拉曼光譜（Raman）	拉曼散射	化學(xué)及分子鍵聯(lián)資料	>=1 wt%	共焦模式	為污染物分析、材料分類以及張力力測量而識別有機(jī)和無機(jī)化合物的分子結(jié)構(gòu)
俄歇電子能譜儀（AES）	來自表面附近的Auger電子	Li-U	0.1-1%亞單層	20 – 200 側(cè)面分布模式	缺陷分析；顆粒分析；表面分析；小面積深度剖面；薄膜成分分析	GB/T 26533-2011
射線光電子能譜儀（XPS）	來自表面原子附近的光電子	Li-U化學(xué)鍵聯(lián)信息	0.01 - 1 at% sub-monolayer	20 - 200 Å（剖析模式） 10 - 100 Å (表面分析）	有機(jī)材料、無機(jī)材料、污點(diǎn)、殘留物的表面分析	GB/T 30704-2014
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）	分子和元素種類	整個(gè)周期表，加分子種類	107 - 1010 at/cm2 sub-monolayer	1 - 3 monolayers (Static mode)	有機(jī)材料和無機(jī)材料的表面微量分析	ASTM E1078-2009ASTM E1504-2011ASTM E1829-2009

?案例分析

案件背景：

某客戶電子產(chǎn)品表面發(fā)現(xiàn)黑色異物，收到其客戶投訴，且無法判斷其成分及來源，故請我司對其成分進(jìn)行分析并判斷其來源。

檢測手段：

FTIR分析、SEM/EDS分析

檢測標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6040-2002 紅外光譜分析方法通則

JY/T 010-1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則

GB/T 17359-2012微束分析能譜法定量分析

分析方法簡介：

1、通過顯微鏡放大觀察發(fā)現(xiàn)該產(chǎn)品表面異于正常位置存在有大量黑色物質(zhì)，發(fā)現(xiàn)樣品表面雜亂，懷疑為混合異物。故選擇FTIR及EDS對該異物進(jìn)行分析測試：

常見異物分析方法、步驟與案例

2、在顯微鏡通過特殊取樣工具取出產(chǎn)品表面異物，使用FTIR對其成分進(jìn)行分析，判定其有機(jī)主成分：

常見異物分析方法、步驟與案例

3、然后對其紅外光譜進(jìn)行解析，根據(jù)其分子結(jié)構(gòu)特征，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)紅外圖譜可知，該物質(zhì)有機(jī)主成分為聚氨酯樹脂：

常見異物分析方法、步驟與案例

4、對該異物樣品進(jìn)行SEM/EDS分析，判定其它無機(jī)成分。對樣品進(jìn)行剝金處理后，對樣品表面鍍Pt30s，放入SEM樣品室中，對測試位置進(jìn)行放大觀察，發(fā)現(xiàn)樣品表面有大量顆粒碎屑，懷疑為無機(jī)成分，然后使用 EDS對顆粒物質(zhì)進(jìn)行成分分析：

常見異物分析方法、步驟與案例

圖譜	C	O	Na	Al	Si	Cl	Ca	Fe	Ni	Total/%
1	17.3	21.5	0.9	34.5	5.1	1.4	0.4	9.9	9.1	100
2	24.6	20.7	0.5	31.1	4.5	0.6	0.5	9.0	8.4	100
3	66.2	13.5	0.8	7.7	1.2	1.6	0.9	2.9	5.4	100

結(jié)論：綜合FTIR及EDS結(jié)果表明，其中除含有聚氨酯樹脂外，還含有大量金屬Al碎屑，Si可能為鋁合金中成分，F(xiàn)e及Ni為基材成分。通過后期與客戶溝通，發(fā)現(xiàn)該樣品取下前接觸面為一鋁合金板，故該Al碎屑來源應(yīng)為該鋁合金板，聚氨酯樹脂為其使用過程中膠料的掉入。

來源：Internet

常見異物分析方法、步驟與案例

相關(guān)新聞：

常見異物分析方法、步驟與案例