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SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

嘉峪檢測網(wǎng)        2022-03-07 23:04

      隨著電子設(shè)備向小型化和多功能化集成發(fā)展,高密度印制板組件和板板互聯(lián)結(jié)構(gòu)應(yīng)運而生,多引腳板間連接器可實現(xiàn)高速信號傳遞,廣泛應(yīng)用于板卡對接的設(shè)備中,大量應(yīng)用在機載領(lǐng)域、地面領(lǐng)域和艦載領(lǐng)域。

 

      本文中的高速多引腳互聯(lián)器件雖被廠家定義為超級球柵陣列(SBGA)封裝,但其結(jié)構(gòu)與傳統(tǒng)的球柵陣列(BGA)封裝存在一定區(qū)別。傳統(tǒng)的BGA封裝為了強調(diào)I/O仍然是“ball”,而本文中的SBGA的I/O的形態(tài)為非“ball”的錫鉛焊片,兩者結(jié)構(gòu)對比如圖1所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      基于廠家的定義,初期對該器件選用了與傳統(tǒng)BGA封裝器件相同的組裝工藝參數(shù),在檢驗環(huán)節(jié)中發(fā)現(xiàn)其故障率明顯偏高,嚴(yán)重影響了產(chǎn)品質(zhì)量。因此,針對在SBGA裝配過程中出現(xiàn)的焊點缺陷進(jìn)行原因分析,提出改進(jìn)措施整改后,裝配情況良好。

 

1、問題描述

 

      SBGA板間連接器在大量使用時表現(xiàn)出裝配一次合格率差的特征,抽查某批含SBGA器件的印制板組件數(shù)量及故障件數(shù)后,發(fā)現(xiàn)數(shù)千件的生產(chǎn)產(chǎn)品的合格率只有86%,低于傳統(tǒng)BGA組裝合格率95.6%的平均水平。

 

      SBGA器件焊接缺陷主要有焊點開路、短路、爬錫不足、多余物、三防漆污染和調(diào)試損傷等,其典型缺陷如圖2所示。進(jìn)一步分析發(fā)現(xiàn)焊點開路和焊點短路占到了缺陷總數(shù)的77%,屬于常見缺陷。通過評估并結(jié)合生產(chǎn)現(xiàn)場的調(diào)查,必須著力杜絕這兩種缺陷的產(chǎn)生,提高SBGA器件裝配的一次合格率。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

2、原因分析

 

      除了器件的焊片在焊前因受損會導(dǎo)致焊點開路或者焊錫偏少外,多數(shù)焊點開路和短路是因為焊料出現(xiàn)了芯吸現(xiàn)象而導(dǎo)致的,此現(xiàn)象的出現(xiàn)主要和焊料的潤濕有關(guān)。歸納匯總影響各因素的末端元素,關(guān)聯(lián)圖如圖3所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      通過設(shè)備測試、文獻(xiàn)查閱、現(xiàn)場調(diào)查和參數(shù)確認(rèn)等手段,參照業(yè)界水平、國家標(biāo)準(zhǔn)和相關(guān)規(guī)范要求,對上述11個末端元素進(jìn)行了依次排查,結(jié)合分析數(shù)據(jù)確認(rèn)了導(dǎo)致焊點缺陷的主要原因為:

 

      1)回流焊接參數(shù)不合理和氮氣環(huán)境的不良影響;

 

      2)網(wǎng)板設(shè)計不滿足要求;

 

      3)前期焊端存在物理損傷。

 

2.1 回流焊接參數(shù)不合理和氮氣環(huán)境的不良影響

 

      根據(jù)工藝細(xì)則要求,焊接SBGA器件時采用的RSS(Ramp-Soak-Spike,升溫-保溫-回流)焊接曲線,如圖4所示。經(jīng)比對,實際回流過程的升溫速率、保溫時間、回流時間和降溫速率等關(guān)鍵參數(shù)均能滿足要求,但其中表面張力(氣液界面)和潤濕力(固液界面)等因素對焊料是否會出現(xiàn)芯吸缺陷產(chǎn)生直接影響呢?

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      在不發(fā)生氧化的前提下,溫度越高潤濕越好,這與表面張力和界面反應(yīng)有關(guān)。對于純金屬,表面張力基本與溫度呈現(xiàn)線性關(guān)系的減?。?/span>

 

γm=A-B× T (1)

 

      式中: γm為表面張力, A、B為材料常數(shù), T為溫度。對于合金材料溫度越高表面張力越小,潤濕性越好。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      圖5示意為SBGA焊接的傳熱模型,在焊接SBGA引腳與印制板焊盤之間有0.08mm的距離,如果回流焊接的過程中印制板引腳的溫度T1與PCB焊盤的溫度T2有較大差異,將使得焊料在器材引腳端表面張力γm1小于焊料在印制板焊盤端表面張力γ m2,導(dǎo)致焊料熔化后優(yōu)先向引腳方向潤濕,引起焊料向上爬升,造成焊料與焊盤脫開,形成芯吸斷路。而回流曲線的設(shè)置沒有對引腳和焊盤的溫度差進(jìn)行特殊調(diào)整。

 

      同時,回流焊接過程中的保護(hù)氣體N2也會影響焊盤金屬和器件焊端的表面能和表面張力,進(jìn)而影響焊料潤濕。有研究表明在氮氣環(huán)境下焊接潤濕角的變化達(dá)到40%時,潤濕可增長約3%~5%,潤濕時間可降低15%,即氮氣能夠放大因焊盤/焊端溫度差帶來的芯吸現(xiàn)象。因此,需調(diào)整的溫度曲線來焊接SBGA器件,消除芯吸現(xiàn)象帶來的開路或短路等不良情況。

 

2.2 網(wǎng)板設(shè)計不滿足要求

 

      焊料量的多少對焊料的潤濕爬升、焊點形態(tài)及機械性能有較大的影響,因此合理的網(wǎng)板開口設(shè)計有利于減少橋連、虛焊等缺陷。SBGA自帶焊料的尺寸布局如圖6所示,自帶焊料是附著在SBGA焊端一側(cè)的相向位置。在裝配對位時,發(fā)現(xiàn)自帶焊料的中心與廠家推薦的印制板封裝的中心并不重合,這樣會對焊接質(zhì)量和可靠性帶來影響,需要依靠添加焊膏進(jìn)行對位補償,因此,應(yīng)重新設(shè)計網(wǎng)板。

 

      同時,因焊膏中助焊劑量不同,焊端氧化膜的去除能力會有差異,進(jìn)而影響了熔融狀態(tài)下焊料的表面張力,可能導(dǎo)致芯吸現(xiàn)象發(fā)生。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

2.3 前期焊端物理損傷

 

      焊點的最終焊錫量由自帶焊料和預(yù)置焊膏兩部分構(gòu)成,任何一部分的缺失都可能導(dǎo)致開路問題。經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)在來料器件中,偶有存在如圖7所示的個別引腳自帶焊料缺失情況,此缺陷若在裝配前未被有效識別出,則會導(dǎo)致裝配故障的出現(xiàn),進(jìn)而帶來返修工作,產(chǎn)生質(zhì)量隱患。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

3、工藝改進(jìn)

 

      通過上述分析得出的SBGA裝焊過程中產(chǎn)生質(zhì)量問題的三大原因及其影響原理,在后序生產(chǎn)的工藝上,制定了如更改焊接曲線,調(diào)整氮氣控制量,優(yōu)化網(wǎng)板開孔和宣貫規(guī)范及增加焊前檢查工序等相應(yīng)的優(yōu)化措施。

 

3.1 優(yōu)化工藝參數(shù)和調(diào)整氮氣量

 

① 優(yōu)化回流焊接工藝參數(shù)

 

      基于之前的缺陷原因主要是由于引腳溫度大于焊盤溫度,需要優(yōu)化上/下各溫區(qū)溫度,最終調(diào)整焊盤和引腳溫度相當(dāng),優(yōu)化焊料在焊盤上的潤濕??紤]到印制板上焊盤電路功能屬性(電源、地、信號)所對應(yīng)的電路銅的質(zhì)量存在差異,銅的質(zhì)量越大,升溫越慢,因此選取電源或地屬性的焊盤確定為測溫點,另外設(shè)置一個典型測溫點放置在引腳端,如圖8所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      經(jīng)過多次反復(fù)優(yōu)化測試,發(fā)現(xiàn)如果將回流焊接的3個下溫區(qū)相對上溫區(qū)升高5~10℃,就能夠彌補之前存在的3~5 s的溫度差,從而保證焊料熔化時能夠在焊盤與引腳上同步潤濕鋪展。經(jīng)過優(yōu)化前后的溫度曲線對比情況如圖9所示,優(yōu)化前后的焊點質(zhì)量情況對比如圖10所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

② 調(diào)整回流焊時氮氣環(huán)境

 

      SBGA的引腳可焊端在引腳的中下段,即引腳上端由于材料特性及表面粗糙度等原因?qū)儆诓豢珊附訝顟B(tài)。N2的加入加快了焊料的潤濕行為,即焊料在引腳溫度相對更高時,會優(yōu)先“更快”地向上潤濕,但是受制于引腳上段不潤濕,因此焊料形態(tài)發(fā)生如圖11所示的“長到胖”的變化,從而形成芯吸開路。

 

      所以考慮極端情況,即關(guān)閉氮氣,保持上下溫區(qū)溫度一致時,結(jié)果SBGA器件的焊點質(zhì)量依然滿足要求,如圖12所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

3.2 優(yōu)化焊膏量設(shè)計

 

① 增大焊膏量設(shè)計

 

      基于SBGA的引腳結(jié)構(gòu)為不潤濕端+可潤濕端,結(jié)合板上結(jié)構(gòu)導(dǎo)致焊料的“活動空間”被限制在焊盤與引腳可焊區(qū)的區(qū)域內(nèi),因此不斷增加印制板印刷焊膏量,即使焊料熔化后會優(yōu)先向上潤濕,但會隨著焊膏量增加而導(dǎo)致焊點尺寸不斷增大,并最終與焊盤潤濕形成有效連接,過程如圖13所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      通過手工烙鐵在焊盤上預(yù)搪錫和增大網(wǎng)板厚度(開孔面積比為0.993)兩個途徑來模擬增大焊膏量的方式,同時考慮印刷焊膏存在約50%的體積收縮比,得出計算處理的焊點最終焊料體積散點圖分布,如圖14所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      選擇優(yōu)化后的曲線裝配的器件狀態(tài),其外觀檢驗和X-ray檢測均判定合格,如圖15所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

② 減小焊膏量設(shè)計

 

      SBGA裝配過程中焊料在熔融狀態(tài)下的行為受其潤濕力(指向焊端)和自身重力(指向焊盤)聯(lián)合影響,當(dāng)潤濕力大于重力作用,焊料向上移動,此時若焊膏量不足就會出現(xiàn)芯吸開路。

 

      反而言之,若潤濕力小于重力作用,則焊料向下移動,但受空間結(jié)構(gòu)限制(下方印制板焊盤面積有限)不會出現(xiàn)焊料脫離引腳焊端形成開路。

 

      減少焊膏量雖然一定程度上降低了焊料的重力,但因為助焊劑含量的減小導(dǎo)致潤濕力也顯著下降,研究表明焊膏量更小時重力作用更為明顯。因此為減小焊膏量,網(wǎng)板開孔采用圓形,厚度減?。娣e比為1.35),得出計算處理的焊點最終焊料體積散點圖分布,如圖16所示。裝配后的焊點檢測良好,如圖17所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

3.3 焊端損傷防范工作

 

      經(jīng)對SBGA器件的來料狀態(tài)進(jìn)行抽查,首先確認(rèn)了焊端損傷主要來源于物料周轉(zhuǎn)。同時經(jīng)多次試驗,其自帶焊料的缺失在肉眼確認(rèn)下能有效識別,這得益于自帶焊盤與焊端屬于“嵌入式結(jié)構(gòu)”,如圖18所示,焊端損傷與否基本對應(yīng)了自帶焊料的有無。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

      基于上述分析,對于焊端損傷的防范工作主要集中在規(guī)范周轉(zhuǎn)包裝和焊前人工確認(rèn)。首先對SBGA器件的來料包裝要求根據(jù)周轉(zhuǎn)防護(hù)的相關(guān)規(guī)范進(jìn)行培訓(xùn)宣貫;然后優(yōu)化工藝流程,增加該類型器件的來料檢查工序,嚴(yán)禁不滿足要求的器件流入生產(chǎn)環(huán)節(jié),如圖19所示。

 

SBGA器件焊點缺陷原因分析及工藝改進(jìn)

 

3.4 優(yōu)化結(jié)果統(tǒng)計

 

      在上述措施落實后的連續(xù)4個月的生產(chǎn)跟蹤中,統(tǒng)計得出裝配含SBGA器件的共216件,其中存在芯吸開路、短路等缺陷的不合格品有8件,一次裝配合格率達(dá)到96.3%,達(dá)到同類封裝器件平均水平,即工藝優(yōu)化措施有效。

 

4、結(jié)論

 

      本文對SBGA器件裝配一次合格率低的原因進(jìn)行了分析和優(yōu)化,得出如下結(jié)論:

 

      1)SBGA器件的故障主要體現(xiàn)在焊點開路和短路缺陷,兩者受焊料芯吸作用影響。

 

      2)SBGA芯吸作用的主要原因為回流焊接參數(shù)不合理與氮氣環(huán)境的不良影響、焊膏量不滿足要求和焊端物理損傷。

 

      3)針對上述原因,優(yōu)化工藝措施相應(yīng)為調(diào)整溫度曲線,降低焊接過程氮氣含量,優(yōu)化網(wǎng)板開孔設(shè)計以酌情增大或減小焊膏量,增加裝前檢查工序。

 

      4)經(jīng)過檢驗確認(rèn)和統(tǒng)計計算,優(yōu)化后的SBGA器件的裝配一次合格率由之前的86%提升到96.3%,措施有效。

 

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來源:高可靠電子裝聯(lián)技術(shù)

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