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汽車電子零部件EMC測試失敗時有發(fā)生，發(fā)射測試的失敗經(jīng)常困擾著現(xiàn)場跟進的工程師們，電磁發(fā)射看不見摸不著，怎么快速定位引起發(fā)射失敗的干擾源，下面給大家詳細(xì)介紹。

隨著信息化的發(fā)展， MCU運算和信息存儲速度越來越快，高速時鐘、快速運算和存儲信號會引起的很強的電磁干擾；由于系統(tǒng)集成度越來越高，零部件的體積越來越小，零部件模塊干擾之間的相互耦合不可避免，很容易將內(nèi)部的干擾帶出來從而引起發(fā)射測試失敗。

另一方面，受能耗越來越小的要求，開關(guān)電源大量使用在汽車電子零部件中，開關(guān)電源的快速開關(guān)切換也會引起很強的電磁發(fā)射；新能源汽車的電機控制器、DC/DC、OBC等零部件，都有很高的電源功率轉(zhuǎn)換模塊，這些模塊也會帶來很強的電磁干擾。圖片

汽車電子零部件EMC發(fā)射測試包含CTE(電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射），MFE(低頻磁場發(fā)射)，CE(傳導(dǎo)發(fā)射-AN(電壓法)和CP(電流法))以及RE(輻射發(fā)射)四項，下面我們來一一解析：

汽車電子發(fā)射測試項目

1CTE測試失敗

CTE測試的失敗一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起，如電機的線圈，電磁鐵的線圈、濾波電路中的大功率電感等，這些部件在關(guān)閉的瞬間會產(chǎn)生很強的瞬態(tài)脈沖。

CTE測試失敗數(shù)據(jù) 

2MFE測試失敗

MFE測試的失敗一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起，如電機的線圈，電磁鐵的線圈、新能源部件中的大功率感性部件等，這些部件在工作時會產(chǎn)生的低頻磁場干擾。

MFE測試失敗數(shù)據(jù)

3CE測試失敗

CE測試中的失敗一般由開關(guān)電源和地處理不良引起，測試數(shù)據(jù)中的窄帶騷擾引起超標(biāo)一般為開關(guān)電源引起，寬帶騷擾超標(biāo)一般由地處理不良引起。

開關(guān)電源模塊引起的AN測試失敗-窄帶騷擾

地處理不良引起的CP測試失敗-寬帶騷擾

4RE測試失敗

RE測試中的低頻失敗一般由開關(guān)電源和地處理不良引起，高頻失敗一半為內(nèi)部時鐘或晶振的處理不良引起倍頻超標(biāo)，這些信號會有很強的規(guī)律，很容易區(qū)分。

開關(guān)電源模塊引起的RE測試失敗

晶振/時鐘引起的RE測試失敗

地處理不良引起的RE測試失敗

EMC檢測作為產(chǎn)品性能測試的重要指標(biāo)之一，對汽車安全及產(chǎn)品品質(zhì)至關(guān)重要。汽車電子零部件EMC測試發(fā)射雖然看不見、摸不著，但還是有一定的規(guī)律可循，如遇到失敗，可多和實驗室的測試人員和項目工程師進行溝通，可幫助客戶快速定位發(fā)射失敗的原因，協(xié)助客戶解決EMC發(fā)射失敗問題。