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插頭殘余電壓測試自己測合格,為什么外面抽檢不合格?

嘉峪檢測網(wǎng)        2023-06-21 08:11

某天早上10點,某企業(yè)負(fù)責(zé)人帶著5名彪形大漢拖著兩輛手推車,車上堆滿大大小小的電飯鍋連同示波器,焦急地來到某第三方檢測機構(gòu)尋求幫助。
 
企業(yè)負(fù)責(zé)人不解地問:
 
“這批電飯鍋插頭的殘余電壓測試,自己測明明合格,但是外面抽檢說不合格,這到底是怎么回事? 產(chǎn)品到底是合格還是不合格呢?”
 
檢測機構(gòu)工程師從手推車上抽出一臺電飯鍋,用企業(yè)帶來的儀器和檢測機構(gòu)的儀器進(jìn)行對比測試,結(jié)果如表1所示。
 
表1  企業(yè)的儀器和檢測機構(gòu)的儀器分別檢測同一臺電飯鍋的結(jié)果
樣品編號 檢測機構(gòu)的儀器測量插頭殘余電壓結(jié)果 企業(yè)的儀器測量插頭殘余電壓結(jié)果
1月1日 45.2V 24.1V
不合格 合格
1-2(更換電源版) 22.3V 13.3V
合格 合格
 
 
專業(yè)人士點評
 
就試驗的“結(jié)果”看,的確是不同儀器測試同一產(chǎn)品出現(xiàn)合格和不合格兩種結(jié)果。但經(jīng)比對,發(fā)現(xiàn)該企業(yè)使用的示波器探頭輸入阻抗為50MΩ,而根據(jù)相關(guān)要求,選擇的示波器探頭輸入阻抗參數(shù)應(yīng)該≥100M?,所以出現(xiàn)了“假合格”的情況。
 
電飯鍋產(chǎn)品拔插頭后測量殘余電壓相關(guān)要求:
 
1、GB 4706.1-2005《家用和類似用途電器的安全 第1部分:通用要求》標(biāo)準(zhǔn)
 
22.5 打算通過一個插頭來與電源連接的器具,其結(jié)構(gòu)應(yīng)能使其在正常使用中當(dāng)觸碰該插頭的插腳時,不會因有充過電的電容器而引起電擊危險。
 
注: 額定電容量不大于0.1 µF的電容器,不認(rèn)為會引起電擊危險。
 
通過下述試驗確定其是否合格。
 
器具以額定電壓供電,然后將其任何一個開關(guān)置于“斷開”位置,器具在電壓峰值時從電源斷開。在斷開后的1s時,用一個不會對測量值產(chǎn)生明顯影響的儀器,測量插頭各插腳間的電壓。
 
此電壓不應(yīng)超過34V。
 
2、IECEE/CB SCHEME/CTL DECISION國際電工委員會CB體系CB實驗室決議DSH 716
 
示波器探頭參數(shù)“≥100 M?,≤25 pF”。
 
IECEE/CB SCHEME/CTL DECISION國際電工委員會CB體系CB實驗室決議DSH 0716
 
CTL DECISION SHEET 
CTL決議單
Standard(s) (incl. year) Subclause(s) Tracking No. Year
標(biāo)準(zhǔn) 條款 參考號
IEC 60065 9.1.6 DSH0716 2008
IEC 60335 22.5
IEC 60950 2.1.1.7
IEC 61010 6.1.2, 6.10.3
+ any other as applicable
任何適用的標(biāo)準(zhǔn)  
Category 類別  
HOUS, MEAS, OFF, TRON,  
Various…  
家電、測量、信息辦室、電子、其他各種  
Subject內(nèi)容 Keywords關(guān)鍵詞 Developed by 制訂者 Approved at
批準(zhǔn)在
Probe impedance for  plug discharge test - Probe impedance探頭阻抗 WG2 2009 CTL Plenary Meeting
插頭放電測試探頭阻抗 - Plug discharge插頭放電 WG4 2009年CTL全體大會
  - >= 100 M?   ≥100 M?    
  - 25 pF or less  ≤25 pF    
Question問題
When the plug discharge test is performed using a voltage probe and oscilloscope for direct measurement of the voltage decay, what probe impedance shall be used to ensure uniform and comparable results?
Note: IEC 60950-1/2005 specifies 100 M? ± 5 M ? in parallel with an input capacitance of 20pF ± 5 pF.
當(dāng)使用電壓探頭和示波器直接測量插頭殘余電壓時,應(yīng)使用什么阻抗的探頭確保一致的和可比較的結(jié)果?
注:IEC 60950-1/2005規(guī)定100 MΩ±5 MΩ并聯(lián)電容為20pF±5 pF。
Decision決議
If the relevant standard does not contain contradictory requirements, a voltage probe having an input impedance of 100 M? or greater in parallel with an input capacitance of 25 pF or less, shall be used for this test.
For other (automatic) equipment with special measurement techniques equivalent measures shall be taken to ensure comparable results.如果相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)不包含與本文件矛盾的要求,則試驗應(yīng)使用輸入阻抗大于等于100 MΩ且輸入電容小于等于25 pF的電壓探頭。
對于具有特殊測量技術(shù)的其他(自動)設(shè)備,應(yīng)采取同等措施,以確保獲得可比較的結(jié)果。
Explanatory notes注釋
This issue was raised at the 2008 CTL meeting after discussing the proficiency testing program on plug discharge 2007/2008. Participants used several different probe impedances, which caused inconsistent results.
這一問題是在討論了2007/2008年插頭殘余電壓能力驗證方案之后,在2008年CTL會議上提出的。參與者使用了幾個不同阻抗的探頭,導(dǎo)致了不一致的測試結(jié)果。
 
 
信息來源:http://decisions.iecee.org/iecee/SearchCMC.nsf/de_h.xsp?v=cmc
 
示波器出廠時所配的探頭通常輸入阻抗較小,例如2 M?,被測產(chǎn)品通過較小的阻抗可以快速放電,測試結(jié)果是“合格的”;如果用高阻抗探頭的示波器測量,放電較慢,測試結(jié)果是“不合格的”。
 
為了減少被測的產(chǎn)品通過示波器和探頭放電,應(yīng)選擇100MΩ高輸入阻抗的示波器探頭,例如TEKTRONIX泰 克P6015A,如圖1所示。
 
 

 
注:探頭輸入阻抗100 MΩ
 
圖1  TEKTRONIX泰克示波器P6015A探頭和示波器(圖源:網(wǎng)絡(luò))
 

 
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來源:Internet

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