測量設(shè)備的期間核查僅針對A類和B類設(shè)備，目的是保持設(shè)備性能的可信度。 并不針對C類設(shè)備
設(shè)備A、B、C類分類標(biāo)準(zhǔn)，請參考本公眾號2023年11月14日的文章
2、設(shè)備期間核查的基本要求
期間核查是測量設(shè)備校準(zhǔn)或核查后對其測量功能和性能的核查， 其目的是為 了維持設(shè)備的性能和狀態(tài)。
實驗室可根據(jù)測量設(shè)備的穩(wěn)定性、期間核查的成本、 風(fēng)險、核查標(biāo)準(zhǔn)的可獲得性、校準(zhǔn)周期的長短等因素來確定進行期間核查設(shè)備的 范圍及核查頻次。
測量設(shè)備實驗室應(yīng)制定期間核查計劃， 并針對具體的設(shè)備或計量參數(shù)的各自 特點,從經(jīng)濟性、實用性、可靠性、可行性等方面綜合考慮制定具體的期間核查 作業(yè)指導(dǎo)書。
期間核查計劃和記錄統(tǒng)一歸檔保存。
3、確認(rèn)期間核查設(shè)備需要考慮的因素
a）使用頻繁；
b）檢定或校準(zhǔn)周期較長（如≥2年）；
c）使用環(huán)境嚴(yán)酷或使用環(huán)境發(fā)生劇烈變化；
d）使用過程中容易受損、數(shù)據(jù)易變或?qū)?shù)據(jù)存疑的；
e）脫離實驗室直接控制后返回的；
f）穩(wěn)定性差的設(shè)備；
g）近幾次連續(xù)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)趨勢不良的設(shè)備。
4、設(shè)備期間核查方法
a）校準(zhǔn)核查法
實驗室具有被核查測量設(shè)備校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)儀器， 則可選常用的測量點對其進 行校準(zhǔn)核查。當(dāng)核查點的測量結(jié)果不超過測量設(shè)備的最大允許誤差時， 則核查通 過。
b）參考值核查法 采用參考值為Xref ，
穩(wěn)定性較好的核查標(biāo)準(zhǔn)（如標(biāo)準(zhǔn)樣品） ，用被核查設(shè)備
對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量得到測量值為Xlab ，被核查設(shè)備的最大允許誤差為δ , 若 Xlab - Xref < δ ,則核查通過。
c）設(shè)備比對法
如果實驗室有準(zhǔn)確度相當(dāng)?shù)耐恘（n≥3）臺（套） 測量設(shè)備， 可以采用設(shè)備 比對法。即用多臺同類測量設(shè)備測量同一穩(wěn)定樣品，進行結(jié)果評價。
京公網(wǎng)安備11010802046783號
