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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2024-09-26 15:05
PCBA在加工或使用過(guò)程中出現(xiàn)的分層或起泡現(xiàn)象,這是一種嚴(yán)重的不良現(xiàn)象,可能導(dǎo)致整個(gè)電路板失效。PCBA爆板可能涉及多個(gè)因素,包括材料、設(shè)計(jì)、制程和環(huán)境等方面。
本文以PCBA爆板分層失效為例,通過(guò)剝離分析、熱應(yīng)力測(cè)試等方法,分析其失效原因與機(jī)理,并提出預(yù)防對(duì)策。
測(cè)試分析
1.外觀檢查
進(jìn)行外觀檢查,結(jié)果如圖1所示,PCBA上下表面未發(fā)現(xiàn)異?,F(xiàn)象,但側(cè)面發(fā)現(xiàn)嚴(yán)重分層現(xiàn)象,分層主要分布于兩導(dǎo)線焊點(diǎn)位置,其他位置未發(fā)現(xiàn)明顯分層現(xiàn)象。

圖1.NG1外觀照片
2.分層界面確認(rèn)
對(duì)分層位置放大觀察,發(fā)現(xiàn)分層界面位于表層PP樹(shù)脂內(nèi),如圖2所示:
導(dǎo)致樹(shù)脂內(nèi)界面分層的因素有以下幾點(diǎn):①分層界面存在污染;②PCB受潮;③PCB耐熱性能不足;④樹(shù)脂固化不完全;⑤局部受熱過(guò)量。

圖2.分層位置觀察照片
3.剝離分析
對(duì)NG1分層位置剝離后,并對(duì)分離后界面進(jìn)行觀察分析,結(jié)果如圖3及表1所示:
分離界面主要含有C、O、Al、Si及微量的Ca、Mg元素,未發(fā)現(xiàn)異常元素存在,排除污染對(duì)分層爆板的影響。

圖3.NG1剝離后SEM圖片
表1.NG1剝離后成分測(cè)試結(jié)果(wt.%)
4.吸水率測(cè)試
為確認(rèn)NG1爆板是否與PCB受潮有關(guān),對(duì)PCB光板及覆箔板吸水率進(jìn)行測(cè)試,確認(rèn)其是否符合要求,結(jié)果如下:
PCB光板吸水率測(cè)試:
參考IPC-TM-650-2018 2.6.2.1A覆箔板的吸水率測(cè)試方法的要求進(jìn)行制樣和測(cè)試后。如表2所示,PCB光板吸水率實(shí)驗(yàn)室實(shí)測(cè)結(jié)果為0.24%。
實(shí)驗(yàn)室測(cè)試PCB吸水率低于回收時(shí)收到的板材吸水率標(biāo)準(zhǔn)值。
表2.PCB光板吸水率實(shí)驗(yàn)室實(shí)測(cè)結(jié)果(單位:g)

覆箔板吸水率測(cè)試:
參考標(biāo)準(zhǔn)IPC-TM-650-2018 2.6.2.1A 覆箔板的吸水率測(cè)試方法,對(duì)3塊覆箔板進(jìn)行吸水率測(cè)試,如表3所示:覆箔板吸水率實(shí)驗(yàn)室實(shí)際測(cè)試結(jié)果為0.21%,也小于回收時(shí)收到的板材吸水率標(biāo)準(zhǔn)值。
表3.覆箔板吸水率實(shí)驗(yàn)室實(shí)測(cè)結(jié)果(單位:g)
5.熱應(yīng)力測(cè)試
為確認(rèn)PCB光板的耐熱沖擊能力是否符合要求,參考IPC-TM-650-2018 2.4.13.1 層壓板熱應(yīng)力測(cè)試方法,分別按三種條件對(duì)PCB光板進(jìn)行熱應(yīng)力測(cè)試,結(jié)果如下:
如圖4—6所示,常溫放置24h PCB光板及吸潮后PCB光板,漂錫三次后都發(fā)現(xiàn)分層現(xiàn)象,分層位于表層PP樹(shù)脂內(nèi),與NG1分層位置一致。烘烤后PCB光板,漂錫三次后未發(fā)現(xiàn)明顯分層現(xiàn)象。
綜上可知,該P(yáng)CB爆板分層與PCB光板受潮直接相關(guān)。

圖4.PCB烘烤并漂錫三次后切片照片

圖5.PCB吸濕并漂錫三次后切片照片

圖6.PCB常溫放置24h并漂錫三次后切片照片
6.爐溫曲線分析
如圖7所示,由profile曲線可知,預(yù)熱時(shí)間(150℃-180℃)最大為94.50s,回流時(shí)間(>220℃)最大為55.00s,峰值溫度最高為248.5℃,參考標(biāo)準(zhǔn)IPC/JEDEC J-STD-020E-2015非氣密固態(tài)表面貼裝器件的潮濕/再流焊敏感度分類中對(duì)回流焊溫度要求,爐溫設(shè)置正常,未表現(xiàn)出熱輸入過(guò)量特征。


圖12.Profile曲線
7.結(jié)論
PCBA爆板分層的原因?yàn)镻CB光板受潮后,導(dǎo)致PCB光板耐熱性能不足,當(dāng)遇到回流高溫時(shí)出現(xiàn)爆板分層不良。

來(lái)源:電子制造資訊站