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嘉峪檢測網(wǎng) 2024-10-15 15:20
什么是CAF?
導(dǎo)電陽極絲(CAF)的發(fā)生主要是由于玻纖與樹脂間存在縫隙,在后期的正常使用過程中由于孔間電勢差作用,在濕熱的條件下,銅發(fā)生水解反應(yīng)并沿著玻纖縫隙的通道遷移并沉積所形成。CAF往往發(fā)生在相鄰導(dǎo)體之間,如通孔與通孔之間、通孔與表面線路之間、相鄰線路或相鄰層間,見下圖所示。

其中,通孔之間最容易發(fā)生CAF失效。CAF的存在顯然會造成相鄰導(dǎo)體之間的絕緣性能下降,甚至出現(xiàn)短路燒毀等重大事故。
接下來,我們將借助實(shí)操案例分析,深度解析CAF成因與機(jī)理,全面認(rèn)識CAF效應(yīng),并學(xué)習(xí)有效預(yù)防措施,以強(qiáng)化電子產(chǎn)品可靠性與穩(wěn)定性。
測試分析
1.失效復(fù)現(xiàn)
某PCBA 服役運(yùn)行三個(gè)月以上出現(xiàn)功能異常,初步排查后鎖定在芯片引腳兩相鄰近通孔,孔間阻抗降低。
為了排除外部電路對漏電通孔的影響,將漏電通孔相連電路割線斷開后,對漏電通孔間電阻進(jìn)行測量。4pcs漏電通孔間電阻值如圖1中所示,正常情況下兩通孔之間為開路狀態(tài),故此4pcs所測通孔之間都存在漏電異常。

圖1.失效復(fù)現(xiàn)4pcs相鄰?fù)组g電阻測量照片
2.外觀檢查
對漏電通孔表面進(jìn)行光學(xué)檢查,漏電通孔正、反表面銅箔及綠油完好,未見明顯異?,F(xiàn)象,如圖2所示。

圖2.NG2漏電通孔正、反表面外觀典型照片
3.無損檢測
對通孔之間及周圍結(jié)構(gòu)進(jìn)行透視觀察,結(jié)果如圖3所示,漏電通孔之間及周圍結(jié)構(gòu)未見明顯異常陰影。

圖3.NG2漏電通孔及周圍結(jié)構(gòu)透視典型觀察照片
4.熱點(diǎn)定位
為了精確鎖定漏電位置,選取漏電電阻較小的2pcs(NG-2#、NG-3#)進(jìn)行熱點(diǎn)定位,結(jié)果如圖4所示。
2pcs漏電通孔之間都發(fā)現(xiàn)異常熱點(diǎn)現(xiàn)象,即漏電位置。

圖4.熱點(diǎn)定位典型照片
5.剖面分析
如圖5所示,NG-2#切片后結(jié)果顯示:
①漏電通孔之間發(fā)現(xiàn)CAF(導(dǎo)電陽極絲)現(xiàn)象;
②兩通孔存在明顯芯吸現(xiàn)象,芯吸尺寸為38.1μm,滿足標(biāo)準(zhǔn)IPC A-600J-2016 印制板的驗(yàn)收條件要求;
③孔壁之間距離為238μm,滿足標(biāo)準(zhǔn)IPC-2221B-2012印制板通用設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)要求。
如圖6所示,NG-3#切片后,漏電通孔之間同樣發(fā)現(xiàn)CAF現(xiàn)象。
以上結(jié)果可知,通孔之間漏電主要因PCB內(nèi)層產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。CAF的產(chǎn)生主要與PCB板材質(zhì)量及鉆孔工藝有關(guān)。


圖5.NG-2#漏電通孔之間切片后截面SEM形貌及EDS分析結(jié)果


圖6.NG-3#漏電通孔之間切片后截面SEM形貌及EDS分析結(jié)果
6.分析
CAF生長具備的條件
1.存在電勢差;2.樹脂和玻纖存在間隙;3.濕氣;4.存在金屬離子。
影響CAF生長的因素
①PCB基材:各種材料由于吸水性或疏密性差異導(dǎo)致其耐CAF生長能力不同;
②PCB制程特別是制孔工藝,不良的制孔工藝形成的質(zhì)量缺陷如玻纖縫隙、嚴(yán)重芯吸等均會加劇CAF的形成;
③PCB設(shè)計(jì):層間絕緣層厚度、孔間距等多個(gè)設(shè)計(jì)因素決定了離子遷移距離,均對CAF失效具有直接的影響;
④電勢梯度:電勢梯度越高,CAF形成和生長越快;
⑤環(huán)境:濕熱環(huán)境為電化學(xué)腐蝕提供反應(yīng)媒介。
7.總結(jié)與建議
總結(jié):PCBA通孔間漏電的原因?yàn)榭组g發(fā)生了CAF現(xiàn)象。CAF的產(chǎn)生主要與PCB板材耐CAF能力較差及PCB鉆孔工藝不良有關(guān)。
建議:1.對PCB來料進(jìn)行耐CAF試驗(yàn)評估;
2.定期更換PCB鉆孔刀頭,合理調(diào)節(jié)鉆孔參數(shù),提高鉆孔質(zhì)量。

來源:電子制造資訊站