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電子元器件潮敏失效機理與潮敏防護

嘉峪檢測網(wǎng)        2024-12-08 21:19

塑封集成電路具有成本低、質(zhì)量輕、尺寸小及良好的機械堅固性等優(yōu)點,幾乎占據(jù)了民用品的全部市場。但是塑封器件有其固有的弱點,就是塑料封裝非氣密性和潮濕對它的滲透性。由于其固有的弱點,封裝失效是塑封電路的主要失效模式之一。

 

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,對電子產(chǎn)品可靠性的要求也越來越高,促使電裝生產(chǎn)工藝對潮濕敏感元器件( Moisture Sensitive Devices,MSD)的關(guān)注程度不斷上升。元器件朝著小型化和高集成化的方向發(fā)展,塑料封裝已經(jīng)成為一項標準做法。確保潮濕氣體在焊接前不進入元器件中已經(jīng)成為一項非常重要的事情。

 

一、潮敏防護的必要性

 

由于封裝材料的密封性不好或吸潮效應(yīng),空氣中的水分會滲透進入封裝內(nèi)部。濕度對電子元器件的影響表現(xiàn)在以下幾個方面:

加速老化:在潮濕的環(huán)境下,電子元器件容易受到腐蝕和氧化,導(dǎo)致性能下降,甚至提前失效。

電路短路:如果電子元器件長期處于高濕度環(huán)境中,容易出現(xiàn)電路短路的情況,導(dǎo)致設(shè)備故障。

破壞絕緣:濕度過高會降低電子元器件的絕緣性能,從而影響設(shè)備的電氣性能。

增加噪聲:在高濕度環(huán)境中,電子元器件容易產(chǎn)生熱噪聲和散粒噪聲,影響設(shè)備的信號質(zhì)量。

 

二、潮敏失效機理

 

潮濕敏感器件暴露在大氣過程,大氣中的水分會通過擴散滲透到封裝材料內(nèi)部,首先凝聚在不同材料之間的接觸面上。當封裝暴露在回流焊的高溫中時,器件經(jīng)過貼片貼裝在PCB上以后,在回流焊爐中進行回流焊,在回流區(qū),整個器件要在183℃以上保持30~90s,最高溫度在210~235℃,無鉛焊接的峰值溫度更高,在245℃左右。在高溫作用下,封裝內(nèi)的水分快速汽化、導(dǎo)致蒸汽壓力大幅增加,在材料不匹配的綜合作用下,該壓力會造成封裝材料內(nèi)部發(fā)生分層,或是一些未擴展至外部的封裝內(nèi)部裂縫,或者鍵合損傷,最嚴重的是造成封裝體產(chǎn)生裂紋,稱為“爆米花”現(xiàn)象。封裝分層開裂時產(chǎn)生的剪切應(yīng)力會影響內(nèi)引線、芯片的完整性,特別是邊角處,應(yīng)力最大。嚴重時會引起芯片裂紋、內(nèi)引線斷裂、鍵合頭翹起等出現(xiàn)電失效。大多數(shù)情況下,肉眼是看不出來這些變化的,而且在測試過程中MSD也不會表現(xiàn)為完全失效。

 

因塑封器件受潮失效是由塑封材料本身性質(zhì)決定的,集成電路塑料封裝常采用熱固性環(huán)氧材料(如環(huán)氧樹脂),其密封劑會從周圍空氣中吸潮。塑料封裝吸潮可從以下三個方面理解:①吸潮程度與實際塑料化合物成分、結(jié)構(gòu)、生產(chǎn)線環(huán)境、運輸儲存及使用環(huán)境的溫度、濕度、氣壓等因素相關(guān);②封裝的膨脹程度取決于塑封材料成分、實際吸收濕氣的數(shù)量、溫度、加熱速度及塑料的厚度,當由此引起的壓力超過塑料化合物的彎曲強度時,塑料就有可能裂開,或至少在界面間產(chǎn)生分層;③器件的防潮等級與器件塑封材料的吸潮能力有一定的關(guān)系,但不僅取決于吸潮能力。防潮等級還取決于器件的結(jié)構(gòu)、芯片基板的尺寸、芯片尺寸、芯片生產(chǎn)工藝及芯片內(nèi)部的材料、器件封裝工藝、器件本身的電氣性能等。也就是說,防潮等級較低的器件,其塑封材料并不一定比防潮等級高的器件容易吸潮。根據(jù)相關(guān)研究,塑封料的吸水性與失效率存在密切的關(guān)系,越是容易吸潮的塑封料,其在回流焊后失效率越高。

 

三、潮敏失效模式

 

MSD失效的主要表現(xiàn):組件在芯片處產(chǎn)生裂紋、電氣測試失敗、IC集成電路及其他元器件在存放時內(nèi)部氧化短路、引線被拉細甚至斷裂、回流焊期間器件產(chǎn)生分層、封裝材料爆裂等。具體的失效模式及表現(xiàn)特點如下:

(1)受潮后的塑封器件,在沒有高溫作用的情況下,塑封材料本身由于吸收了大量的水汽而膨脹變形,由于內(nèi)部結(jié)構(gòu)黏結(jié)性不好,導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)出現(xiàn)分層,表現(xiàn)為開路、短路、漏電。如果有腐蝕性雜質(zhì)離子存在,可導(dǎo)致金屬化腐蝕。

 

(2)受潮的塑封器件在高溫作用的情況下膨脹變形,由于熱失配導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)出現(xiàn)分層,表現(xiàn)為開路、短路、漏電。嚴重的會在器件背面產(chǎn)生鼓包,即“爆米花”效應(yīng)。

 

(3)受潮后塑封器件若膨脹變形嚴重,形變應(yīng)力會導(dǎo)致芯片破裂,表現(xiàn)為開路、短路、漏電。

 

(4)由于水是有極性的,因此塑封器件吸收了大量潮氣后,不管是否發(fā)生了變形或分層,都會有漏電現(xiàn)象。

 

(5)塑封器件受潮后,有可能在遇到熱應(yīng)力的瞬間就立即失效,有可能在長期的正常使用過程才逐漸失效。

 

四、潮敏防護的措施

 

針對濕度對電子元器件的影響,可以采取以下幾種潮敏防護措施:

使用防潮材料:在電子元器件的包裝和外殼中使用防潮材料,如干燥劑、防潮劑等,可以有效吸收環(huán)境中的濕氣,保持電子元器件的干燥。

提高設(shè)備的密封性:采用密封性好的材料和結(jié)構(gòu)來制造電子設(shè)備,可以有效地防止?jié)駳獾那秩?。同時,對于一些容易受到濕度影響的電子元器件,可以采用密封性好的外殼或包裝來保護。

降低設(shè)備的濕度敏感度:對于一些對濕度敏感度較高的電子元器件,可以采用降低濕度敏感度的措施,如表面涂覆、表面處理等。這些措施可以有效地提高電子元器件的抗?jié)裥?,降低濕度對其性能的影響?/span>

控制設(shè)備的溫濕度環(huán)境:在電子設(shè)備的運行環(huán)境中,控制溫度和濕度是非常重要的。采用恒溫恒濕的設(shè)備或裝置來控制環(huán)境的溫濕度,可以有效地避免濕度對電子元器件的影響。

定期維護和檢查:對于一些長時間運行的電子設(shè)備,需要定期進行維護和檢查。在這個過程中,可以檢查電子元器件的外觀和性能是否正常,同時也可以對設(shè)備進行除濕和清潔處理。

 

五、防潮包裝材料的選擇和使用

 

防潮包裝材料是潮敏防護中常用的措施之一。選擇適合的防潮包裝材料對電子元器件的潮敏防護具有重要意義。以下是選擇和使用防潮包裝材料時需要注意的幾個方面:

防潮性能:防潮包裝材料的防潮性能是選擇時首要考慮的因素。一般來說,材料的防潮性能越好,吸濕率越低,對電子元器件的保護效果也越好。在選擇時,可以根據(jù)設(shè)備的具體要求和環(huán)境條件來選擇適合的防潮包裝材料。

耐候性:防潮包裝材料需要具備較好的耐候性,即在惡劣環(huán)境條件下的耐受能力。一些常用的防潮包裝材料如干燥劑、防潮劑等,需要在高溫、高濕、低溫等環(huán)境下長時間使用,因此需要具備較好的耐候性。

環(huán)保性:隨著人們對環(huán)境保護意識的提高,防潮包裝材料的環(huán)保性也越來越受到重視。在選擇防潮包裝材料時,需要考慮其是否可回收利用、是否具有較低的環(huán)境影響等。

成本:在選擇防潮包裝材料時,成本也是一個需要考慮的因素。需要根據(jù)設(shè)備的具體要求和實際情況來選擇適合的防潮包裝材料,以保證設(shè)備的整體性能和經(jīng)濟效益。

使用方法:在使用防潮包裝材料時,需要根據(jù)具體情況來確定使用方法和注意事項。例如干燥劑的使用方法是將干燥劑放在密封的容器中,然后將需要保護的電子元器件放在容器中;而防潮劑則需要按照說明書的要求來使用等。同時需要注意防潮包裝材料的更換周期和使用壽命等問題。

 

 

 

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來源:Internet

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