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MOSFET雪崩擊穿特性參數(shù)

嘉峪檢測網(wǎng)        2025-02-22 10:40

雪崩擊穿參數(shù)是MOS管在關(guān)斷狀態(tài)能承受過壓能力的指標(biāo),電壓超過漏源極限電壓將導(dǎo)致器件處在雪崩狀態(tài)。

 

單脈沖雪崩能量EAS

 

單次脈沖雪崩擊穿能量,是極限參數(shù),說明MOS管所能承受的最大雪崩擊穿能量。MOS管開啟到瞬間關(guān)斷時,漏極電壓升高,漏極體二極管中耗盡層產(chǎn)生位移電流,隨著D極電壓的上升,位移電流會呈現(xiàn)雪崩持續(xù)狀態(tài),足夠大最終導(dǎo)致熱損壞。

 

單脈沖雪崩電流IAS

 

單脈沖雪崩能力EAS時通過的雪崩電流。

 

重復(fù)雪崩能量EAR

 

規(guī)范沒有對重復(fù)脈沖的頻率和脈沖持續(xù)時間做出規(guī)定,不同廠家測試數(shù)據(jù)沒有可比性。MOS管的連續(xù)雪崩擊穿能量只有單脈沖雪崩擊穿能量的幾十分之一,因此應(yīng)該盡量防止出現(xiàn)這種情況。

 

雪崩破壞電流、能量值與測試電感值大小的關(guān)系

 

隨著電感值L的增大,破壞電流IAP降低,破壞能量EAR增大;判斷雪崩耐量強弱時,必須考慮電流值IAP和能量值EAR;通常認為電感值L小且破壞能量值EAR大的器件就是雪崩耐量強的器件。

 

圖1:MOS管雪崩測量電路與雪崩能量計算公式

 

影響雪崩耐量值的三要素:IAS的大小,當(dāng)雪崩能量未達到但電流已超過IAS時,則會產(chǎn)生破壞;雪崩時的MOS管溝道原有的結(jié)溫大小,初始結(jié)溫越高,當(dāng)然雪崩耐量就會降低;雪崩時dv/dt大小的影響。

 

圖2:MOS管雪崩破壞電流與電感值之間關(guān)系曲線

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來源:Internet

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