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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2025-03-08 20:36
一.測(cè)試背景
據(jù)客戶反映,其鴿環(huán)產(chǎn)品在-20℃下靈敏度降低,影響讀取?,F(xiàn)送1PCS不良品和5PCS其他批次的正常樣品進(jìn)行失效分析,以期找出失效原因。
二.測(cè)試方案
1、外觀檢查:確認(rèn)產(chǎn)品外觀有無(wú)不良
2、規(guī)格參數(shù)確認(rèn):根據(jù)讀卡器顯示信息及規(guī)格書確認(rèn)樣品內(nèi)部芯片型號(hào)
3、切片分析:觀察芯片內(nèi)部構(gòu)造
4、形貌分析:確認(rèn)芯片內(nèi)部導(dǎo)電粒子分布情況和分布狀態(tài)
5、結(jié)論
三.測(cè)試結(jié)果
3.1外觀檢查:

3.2規(guī)格參數(shù)確認(rèn):

3.3靈敏度測(cè)試:
黑色不良品鴿環(huán):

紅色鴿環(huán):

由于黑色鴿環(huán)從鴿腳取下來(lái)時(shí)被剪斷,RFID卷標(biāo)天線受到破壞,無(wú)法測(cè)試靈敏度。將5pcs紅色鴿環(huán)放入冰箱冷凍室冷凍,然后進(jìn)行靈敏度測(cè)試。測(cè)試結(jié)果未發(fā)現(xiàn)異常。
3.4切片分析
對(duì)黑色不良品鴿環(huán)進(jìn)行切片分析:

對(duì)紅色正常鴿環(huán)進(jìn)行切片分析:
1#紅色鴿環(huán)

2#紅色鴿環(huán)

從金相圖片中可以看出,黑色不良品和紅色良品由于批次不一樣,內(nèi)部構(gòu)造存在差異。不良品單純通過(guò)ACF膠導(dǎo)電粒子連通的方式,而良品則通過(guò)芯片兩側(cè)凸點(diǎn)壓迫導(dǎo)電粒子,增大連接面積的方式進(jìn)行連通。由于內(nèi)部構(gòu)造不同,良品的有效接觸區(qū)域大于不良品;此外,良品導(dǎo)電粒子的受力明顯高于不良品。
3.5形貌分析
黑色不良品鴿環(huán):

紅色方框區(qū)域內(nèi)圓形顆粒物為導(dǎo)電粒子。


導(dǎo)電粒子實(shí)際的有效接觸區(qū)域如上圖所示,在一個(gè)切片觀察范圍內(nèi)的接觸 (導(dǎo)通)長(zhǎng)度約為8μm, 接觸(導(dǎo)通)比例約為2.3%。
1#紅色鴿環(huán)

導(dǎo)電粒子有效接觸區(qū)域

在一個(gè)切片觀察范圍內(nèi)(放大5000倍),1#紅色鴿環(huán)導(dǎo)電粒子實(shí)際有效接觸區(qū)域如上圖所示,接觸(導(dǎo)通)長(zhǎng)度約為92μm。
2#紅色鴿環(huán)

導(dǎo)電粒子有效接觸區(qū)域

在一個(gè)切片觀察范圍內(nèi)(放大5000倍),2#紅色鴿環(huán)導(dǎo)電粒子實(shí)際的有效接觸區(qū)域如上圖所示,接觸(導(dǎo)通)長(zhǎng)度約為40μm。
四.總結(jié)
黑色不良品鴿環(huán)和紅色良品鴿環(huán)在結(jié)構(gòu)上存在顯著差異,不良品單純通過(guò)ACF膠導(dǎo)電粒子連通的方式,而良品則通過(guò)芯片兩側(cè)凸點(diǎn)壓迫導(dǎo)電粒子,增大連接面積的方式進(jìn)行連通。從SEM的測(cè)量結(jié)果也可以直接看出,良品的有效導(dǎo)通區(qū)域明顯高于不良品,因此良品的實(shí)際使用效果更好。
建議:在后續(xù)的選擇上,更傾向于良品這種導(dǎo)電粒子所受壓力較大的結(jié)構(gòu)。

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