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注：本書(shū)所有內(nèi)容是針對(duì)模擬設(shè)備，dB數(shù)的描述和數(shù)字設(shè)備是相反的，再有就是波高以mm描述的話可以理解為百分比，比如波高30mm，可以理解為波高30%。

 

這部分主要是減少檢測(cè)和實(shí)際缺陷的誤差，其實(shí)知道有引起誤差的因素就行，如果修不正適得其反。

 

所謂定量就是測(cè)定缺陷的大小和數(shù)量。缺陷的大小包括缺陷的面積、長(zhǎng)度和深度等。

 

缺陷的大小，一般是根據(jù)熒光屏上缺陷波的高度確定。但缺陷波的高度又受著缺陷的方向距離、形狀以及儀器的工作狀態(tài)的影響。

 

所以通常所確定的缺陷的大小，實(shí)際上只是缺陷在聲束方向的有效面積。而且其大小總是與實(shí)際的缺陷有出入

 

一、當(dāng)量法

 

以當(dāng)量直徑或當(dāng)量面積表示缺陷大小的方法，稱當(dāng)量法。所謂當(dāng)量直徑或當(dāng)量面積弱指實(shí)際缺陷相當(dāng)于試塊中人工缺陷（平底孔）的某一直徑或面積而言。

 

因此，實(shí)際缺陷只相當(dāng)而不等于人工缺陷的大小，因缺陷波高度不僅與缺陷面積有關(guān)，而且還與缺陷的性質(zhì)形狀、方向、距離等有關(guān)，一般來(lái)說(shuō)，實(shí)際缺陷的尺寸與當(dāng)量尺寸之間，尚有不少誤差而且當(dāng)量法只適用于測(cè)定小于聲束截面積的缺陷。

 

一）試塊比較法

 

在一定探測(cè)靈敏度下，將工件中的缺陷波高度和缺陷距離、探測(cè)面形狀、材質(zhì)和與了件相應(yīng)的有不同面積或直徑的人工缺陷（平底孔或橫通孔）試塊的反射波高度進(jìn)行比較當(dāng)兩者相等或相近時(shí)，則人工缺陷的面積（或直徑）即相當(dāng)于工件中缺陷的面積（或直徑）。

 

用直探頭探測(cè)時(shí)，通常以平底孔試塊比較；用斜探頭探測(cè)時(shí)，則以圓柱孔或橫通孔的試塊比較，尤以橫通孔為普遍，如圖4-19所示。

 

對(duì)焊縫中不連續(xù)的點(diǎn)狀缺陷（如氣孔等），有時(shí)不作定量分析，而以某一尺寸的人工缺陷為準(zhǔn)，其缺陷波高度超過(guò)人工缺陷反射波高時(shí)即返修。這種方法雖操作較麻煩，但結(jié)果較準(zhǔn)確；若探測(cè)場(chǎng)地比較固定時(shí)，較適用。

 

（圖4-19 試塊比較法確定缺陷大?。?/span>

 

二）“面積一振幅”曲線和“距離一振幅”曲線當(dāng)量法

 

缺陷波幅的高低與缺陷的面積及距離有關(guān)。距離相等的缺陷，面積愈大，反射波愈高距離愈遠(yuǎn)，反射波愈低（遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)）。

 

據(jù)此，可通過(guò)試塊預(yù)先作出“面積-振幅”曲線和“距離一振幅”曲線。

 

可通過(guò)這些曲線來(lái)確定缺陷的大小。在繪制這兩種曲線時(shí)，必須記錄當(dāng)時(shí)所用的工作頻率、探頭直徑、輸出、增益等探測(cè)條件。

 

圖4-20及圖4-21所示為不同探測(cè)條件下所作的曲線。

（圖4-20 “面積-振幅”曲線）

 

（圖4-21“距離-振幅”曲線）

 

實(shí)際探測(cè)與所作曲線的條件相同時(shí)，根據(jù)熒光屏上缺陷波的高度及距離，即可由“面積一振幅”曲線或“距離-振幅”曲線查出相應(yīng)的缺陷面積。

 

這種方法的優(yōu)點(diǎn)是，在校正儀器靈敏度時(shí)，只需要攜帶少量試塊，便于現(xiàn)場(chǎng)使用，但所用儀器的性能要穩(wěn)定。

 

三）靈敏度曲線當(dāng)量法

 

這種方法也是根據(jù)在不同的缺陷尺寸和距離的試塊上作出曲線而進(jìn)行探測(cè)的。

 

除儀器的“增益”旋鈕外，其他（如頻率、輸出、抑制等）均固定不變。在各試塊上探測(cè)時(shí)，調(diào)節(jié)“增益”旋鈕（調(diào)節(jié)靈敏度），使缺陷波均達(dá)規(guī)定高度（一般30毫米，注:也可理解為30%波高），記下相應(yīng)的“增益”刻度，即可繪制出如圖4-22所示的“增益刻度一缺陷尺寸-缺陷距離”的關(guān)系曲線。

 

實(shí)際探測(cè)時(shí)，調(diào)節(jié)“增益”刻度使缺陷波亦達(dá)上述規(guī)定高度則根據(jù)“增益”刻度及缺陷距離，即可在曲線上查出缺陷當(dāng)量的大小。

（圖4-22 & 圖4-23）

 

四）“分貝(dB)-面積”曲線和“分貝(dB)-距離”曲線當(dāng)量法

 

在有衰減器的探傷儀中，用此法較方便。與靈敏度曲線定量法相似，在試塊上探測(cè)時(shí)，其他條件固定，只改變衰減器的分貝值（dB），使反射波達(dá)到規(guī)定的高度（一般為30毫米），繪制“分貝-缺陷面積”關(guān)系曲線。

 

圖4-23所示為在某一條件下，距離為250毫米.時(shí)的“分貝一面積”曲線。

 

實(shí)際探測(cè)時(shí)，改變衰減器分貝值，使缺陷波亦達(dá)規(guī)定高度，則由缺陷距離及分貝值即可查出缺陷的當(dāng)量大小。

（圖4-24 不同平底孔的“分貝-距離”特性曲線）

 

圖4-24所示為“分貝一距離”關(guān)系曲線。

 

儀器的工作條件為頻率2.5兆赫，直徑為20毫米的直探頭，增益2，抑制10；

 

補(bǔ)償：關(guān)，重復(fù)頻率50赫，反射波高30毫米；

 

耦合劑：機(jī)油；

 

儀器：CTS-6型，試塊：CT-1型衰減器以零或某一衰減值為基準(zhǔn)，探測(cè)不同距離和面積的缺陷時(shí)，改變衰減器的分貝值，使缺陷波高度皆為30毫米。此時(shí)，衰減器的變化量，稱相對(duì)振幅。

 

缺陷波較基準(zhǔn)波高者為正值；較基準(zhǔn)波低者，為負(fù)值。

 

實(shí)際探測(cè)時(shí)，在儀器工作條件相同的情況下，只要得出相對(duì)振幅值，即可由圖查出缺陷當(dāng)量值。

 

例如，探測(cè)某汽輪機(jī)的葉輪，在輪殼端面下150毫米處發(fā)現(xiàn)有缺陷，儀器的工作狀態(tài)與圖4-24相同，用衰減器調(diào)節(jié)，將缺陷波高度調(diào)至30毫米時(shí)，衰減器讀數(shù)為-15分貝，由圖4-24查得缺陷的大小相當(dāng)于4毫米平底孔。

 

注:模擬設(shè)備dB值為負(fù)值。這部分內(nèi)容比現(xiàn)在的教材說(shuō)的復(fù)雜些，道理是一樣的，表示方法有差異，作為現(xiàn)在教材的補(bǔ)充吧，不用過(guò)于執(zhí)著。