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NC管腳導(dǎo)致的芯片失效

嘉峪檢測網(wǎng)        2025-03-13 08:48

NC:not connect pin,意思為沒有連接的管腳,這種管腳有的是空管腳與芯片無任何電氣連接,有的是與芯片有電氣連接。

失效分析中,曾遇到過NC管腳導(dǎo)致的芯片失效,經(jīng)過靜電復(fù)現(xiàn),復(fù)現(xiàn)相同的故障現(xiàn)象,因此推斷為ESD導(dǎo)致芯片失效。

具體介紹一下這個案例,整機的故障表現(xiàn)如下所示。

單體測試發(fā)現(xiàn)pin1(NC)對GND管腳短路,經(jīng)開蓋發(fā)現(xiàn)pin1管腳的ESD電路部分有明顯的燒毀形貌。

電路設(shè)計分析:pin1實際懸空,那為什么會“EOS”呢?

結(jié)合實際故障發(fā)生場景分析,故障為一上電就發(fā)生,因此大概率是上電前芯片就已經(jīng)損傷了,因此推斷可能是pin1受到了ESD的損傷。

因此,用良品對pin1進行ESD故障激發(fā)復(fù)現(xiàn),故障復(fù)現(xiàn)模型如下所示。

當打到3KV的靜電時,復(fù)現(xiàn)芯片pin1和pin2短路現(xiàn)象。對故障復(fù)現(xiàn)樣品進行開蓋,未發(fā)現(xiàn)明顯的燒毀形貌。

對故障復(fù)現(xiàn)樣品進行Thermal測試,可見pin1的ESD電路部分有異常亮點,且位置與市場失效基本一致。

總結(jié),初步判定該故障為靜電損傷導(dǎo)致。

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來源:Focus on Laboratory

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