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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2025-04-18 08:58
Q:在進(jìn)行離子注入工藝時(shí),入射方向需要傾斜一個(gè)角度,一般偏離晶面法線7°到10°之間,這是為什么呢?
A:在離子注入工藝中會(huì)遇到這兩種效應(yīng):橫向效應(yīng)與溝道效應(yīng)
橫向效應(yīng)

離子注入的橫向效應(yīng)是指在注入過(guò)程中,離子不僅會(huì)在垂直方向(縱向)滲透,還會(huì)在水平方向(橫向)發(fā)生擴(kuò)散的現(xiàn)象。這種橫向擴(kuò)散是由于注入的離子與晶體中原子發(fā)生碰撞,導(dǎo)致離子軌跡發(fā)生散射,從而在水平方向上產(chǎn)生分布。橫向效應(yīng)會(huì)顯著影響平面MOS器件的有效溝道長(zhǎng)度,進(jìn)而影響器件性能。
橫向效應(yīng)的強(qiáng)度與注入離子的種類和能量密切相關(guān):離子的能量越高,橫向擴(kuò)散越顯著;離子的種類不同,其與晶體原子的相互作用也會(huì)導(dǎo)致不同的橫向擴(kuò)散特性。通常而言,離子質(zhì)量越小越容易擴(kuò)散,例如B和As對(duì)比,同等能量下B的橫向擴(kuò)散更大。因此,在設(shè)計(jì)和優(yōu)化離子注入工藝時(shí),需要綜合考慮橫向效應(yīng)的影響,以確保器件的性能和可靠性。
溝道效應(yīng)

離子注入的隧道效應(yīng)和傾角注入抑制隧道效應(yīng)
溝道效應(yīng)(也稱為隧道效應(yīng))。由于單晶硅的晶格原子排列整齊,在某些特定角度下存在許多通道。當(dāng)離子以這些特定角度注入時(shí)(例如垂直時(shí)),離子與原子核的碰撞減少,僅需較低能量即可深入晶格,形成所謂的“溝道效應(yīng)”。溝道效應(yīng)會(huì)導(dǎo)致離子穿透更深,難以設(shè)計(jì)和控制注入深度和分布。
了解了溝道效應(yīng),我們就很容易理解為什么離子注入要傾角。因?yàn)樽⑷敕较蚝途A有一定傾角后,注入離子與晶圓內(nèi)部的原子碰撞概率提高,而抑制了隧道效應(yīng)的產(chǎn)生。

注入角度過(guò)大造成的陰影區(qū),shadow effect
那為什么一定是7°傾角呢?如果傾角過(guò)大,帶光刻膠注入時(shí),離子被光刻膠部分遮擋,形成較大的陰影區(qū),也稱之為 shadow effect(膠越厚,傾斜角度越大,陰影越嚴(yán)重,陰影區(qū)域=PR THK * tan),造成實(shí)際注入?yún)^(qū)域與設(shè)計(jì)區(qū)域有一定的偏差。如果傾角過(guò)小,不能很好解決隧道效應(yīng),還易造成雙峰分布。
所以,理論結(jié)合實(shí)踐,實(shí)際工藝過(guò)程中大都會(huì)選擇7°角作為離子注入入射角度。
還有哪些方法可以抑制溝道效應(yīng)呢?
1.傾斜晶圓(Tilted Wafer)
將晶圓相對(duì)于離子束運(yùn)動(dòng)方向傾斜一個(gè)角度,使離子與晶格發(fā)生碰撞,從而減少溝道效應(yīng)。對(duì)于(100)晶向的晶圓,傾斜角度通常為7°。
角度選擇:具體傾斜角度需根據(jù)晶向、工藝要求和設(shè)備條件綜合確定。例如,深結(jié)注入和LDD(輕摻雜漏極)注入的角度要求可能不同。
2.氧化層(Screen Oxide)
在晶圓表面覆蓋一層薄的氧化層(通常為二氧化硅),用于散射和阻擋部分離子,從而減少溝道效應(yīng)。
3.預(yù)非晶化(Pre-Amorphous Implantation)
在主要注入之前,先注入少量高能量離子(如Ge),使晶圓表面形成非晶化層。非晶化層可以破壞晶格結(jié)構(gòu),從而減少溝道效應(yīng)。
Reference:
1. 半導(dǎo)體器件物理與工藝.

來(lái)源:十二芯座