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投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

嘉峪檢測網(wǎng)        2025-07-08 12:39

一前言

在電子設(shè)備的世界里,你是否遇到過 DCDC 電源引發(fā)的EMI 問題而苦惱不已?當設(shè)備出現(xiàn)EMI干擾問題,背后的“元兇” 很可能就是它。尤其是在一些功率較大的電子產(chǎn)品中,DCDC電源的EMI問題會更加突出,今天分享一個DCDC比較容易忽視的DCDC電源EMI問題案例。

 

二整改案例

今天分享的整改案例是來自一款投影類產(chǎn)品的EMI問題,該款機器的架構(gòu)可以分為RGB電源驅(qū)動板和信號驅(qū)動核心板兩塊PCB板,該產(chǎn)品的摸底測試數(shù)據(jù)如下圖:

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

摸底測試數(shù)據(jù)圖-垂直方向(1)

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

摸底測試數(shù)據(jù)圖-水平方向(2)

【分析】:

通過上面的摸底測試數(shù)據(jù)可以看出,該產(chǎn)品的超標點主要是落在200MHz-400MHz區(qū)間內(nèi)的一個明顯的電源包絡(luò)問題。因為產(chǎn)品的電源板是一塊獨立的PCB,所以首先懷疑電源板引起的超標問題。

【排查】:

首先給整機的供電線靠近機器端繞磁環(huán)后進行測試,排查噪聲是不是通過外接線束進行輻射的,繞磁環(huán)后測試數(shù)據(jù)如下:

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

供電端繞磁環(huán)后測試數(shù)據(jù)圖(3)

【分析】:

可以看出供電長線束繞磁環(huán)后,測試波形沒有任何變化,所以超標位置噪聲可以排除是通過供電線向外輻射的。

【排查】:

后續(xù)對電源板到主控板的短線束進行了詳細排查,采取了斷開這些線束等多種手段,但測試結(jié)果仍無任何改善。最后,甚至在PCB 電源板上實施了濾波等整改措施,然而最終結(jié)果依舊沒有得到改善。

【分析】:

問題的源頭可以確定就是電源板,因為只要把亮度調(diào)低,電源板的功率下降,包絡(luò)就會下降明顯。 

當問題點確定,而所有的整改測試都基本沒有效果,這個時候我們就應(yīng)該跳出來從機器的結(jié)構(gòu)角度來看待這個問題點,因為結(jié)構(gòu)也是影響EMI的重要部分。產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)簡圖如下:

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

產(chǎn)品結(jié)果簡圖(4)

【分析】:

通過簡圖可以知道,產(chǎn)品的電源板和信號板位置,背后灰色部分為金屬支撐框架,黑色部分為產(chǎn)品的黑色外殼。最后通過排查發(fā)現(xiàn),把電源板遠離金屬框架時,測試數(shù)據(jù)會有明顯下降。而且機器第一次送過來測試膜具沒有開好,導(dǎo)致電源板的螺絲只能打上一顆螺絲。而且電源板每個螺絲孔的露銅面積很小。

這導(dǎo)致了電源PCB板與金屬框架之間的寄生電容增大,只有一個接地螺柱也導(dǎo)致了耦合的噪聲回流路徑增大。這個金屬框架到PCB電源板的噪聲回流路徑才是輻射最終源頭。

【整改測試】:

把電源PCB板與螺柱的接觸位置刮開露銅,增大接觸面積,把電源PCB與金屬框架固定好,保證接地良好。

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

產(chǎn)品結(jié)果簡圖(5)

最終的測試數(shù)據(jù)如下:

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

最終測試數(shù)據(jù)圖-垂直(6)

投影儀產(chǎn)品結(jié)構(gòu)對EMI噪聲的影響

最終測試數(shù)據(jù)圖-水平(7)

 

三總結(jié)

在整改測試過程中,如果針對某個問題點持續(xù)進行整改,數(shù)據(jù)卻始終不見變化,此時就不應(yīng)局限于局部,而應(yīng)從整體結(jié)構(gòu)出發(fā),審視其是否對 EMI 產(chǎn)生影響。我們需要轉(zhuǎn)換思路,避免在同一處做無用功。

通過本次分享,期望能為大家?guī)韱l(fā)。在產(chǎn)品設(shè)計的前期階段,盡量規(guī)避結(jié)構(gòu)上可能存在的 “噪聲耦合” 問題,如此一來,產(chǎn)品的EMC 問題將大幅減少。

 

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來源:韜略科技EMC

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