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汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

嘉峪檢測(cè)網(wǎng)        2025-08-02 22:42

一、問題現(xiàn)象描述

某應(yīng)用于汽車電子的中控顯示屏模組,在進(jìn)行30MHz-2.68GHz頻段輻射發(fā)射測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)156MHz頻點(diǎn)超標(biāo),具體表現(xiàn)為尖峰狀干擾,測(cè)試數(shù)據(jù)如下圖所示:

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖1:輻射發(fā)射測(cè)試數(shù)據(jù)(原始測(cè)試數(shù)據(jù))

電子工程師花費(fèi)大量時(shí)間進(jìn)行分析調(diào)試,仍然無法找到問題的解決方案,需要EMC工程師介入分析整改,具體產(chǎn)品形態(tài)如下:

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖2:產(chǎn)品形態(tài)圖

 

二、干擾源分析定位

使用頻譜分析儀,按照如下頻譜分析儀使用方法進(jìn)行干擾源的定位,通過分析定位后鎖定干擾源來自系統(tǒng)EMMC電路部分,使用頻譜分析儀的尖形探針進(jìn)一步尋找,確定噪聲源頭為EMMC的時(shí)鐘信號(hào)。

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖3:頻譜分析儀定位干擾源的方法與流程

頻譜分析儀的探頭使用方法,參考下圖所示:

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖4:頻譜分析儀探頭使用方法圖

使用頻譜分析儀對(duì)EMMC芯片外圍電路進(jìn)行干擾源定位,分別量測(cè)EMMC芯片供電電源引腳、其它信號(hào)引腳,其噪聲頻點(diǎn)都非常微弱,只有EMMC時(shí)鐘信號(hào)引腳的噪聲非常強(qiáng),排除噪聲通過其它引腳耦合的可能性,確定噪聲源來自EMMC芯片的時(shí)鐘信號(hào)引腳,耦合路徑是時(shí)鐘信號(hào)引腳本身。

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖5:EMMC芯片供電電源引腳頻譜圖

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖5:EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)頻譜圖

 

三、問題原因分析

使用示波器對(duì)EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行量測(cè),確認(rèn)是否為時(shí)鐘信號(hào)過沖、振蕩、波形失真等原因引起的。

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖6:EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)引腳波形

EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)實(shí)測(cè)波形,沒有明顯的振蕩、過沖、失真等,且時(shí)鐘信號(hào)的邊沿相對(duì)較緩,從波形上分析,沒有明顯的設(shè)計(jì)問題。調(diào)出PCB Layout設(shè)計(jì),分析是否為PCB Layout設(shè)計(jì)問題。

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖6:EMMC芯片PCB Layout設(shè)計(jì)(Bottom層元件面)

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖7:EMMC芯片PCB Layout設(shè)計(jì)(Bottom層的參考層)

由PCB Layout可知EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)布線不存在換層設(shè)計(jì)的情況,且相鄰參考層為完整的地平面層,參考不存在跨分割、參考不完整的情況,根據(jù)信號(hào)參考設(shè)計(jì)的規(guī)則來看,PCB Layout設(shè)計(jì)不存在明顯的缺陷。

根據(jù)PCB Layout設(shè)計(jì),懷疑噪聲是通過表層的PCB布線直接向外部輻射發(fā)射,造成輻射發(fā)射測(cè)試超標(biāo),嘗試將表層時(shí)鐘信號(hào)增加屏蔽,使用銅箔對(duì)表層EMMC時(shí)鐘信號(hào)布線進(jìn)行屏蔽,重新進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試,結(jié)果更加惡化。

汽車電子產(chǎn)品輻射發(fā)射問題調(diào)試案例

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖9:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽前后數(shù)據(jù)對(duì)比

EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)布線層增加銅箔屏蔽對(duì)輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果沒有改善,反而惡化了輻射發(fā)射測(cè)試數(shù)據(jù),具體原因則需要分析信號(hào)是如何回流的。

根據(jù)信號(hào)回流路徑設(shè)計(jì)理論可知,信號(hào)的回流存在幾種情況:一是信號(hào)布線不換層、回流路徑也不換層,這是最優(yōu)的方案;二是信號(hào)布線換層,回流路徑不換層,是次選方案;三是信號(hào)布線換層,回流路徑也換層,信號(hào)換層過孔兩側(cè)增加信號(hào)回流路徑的伴隨過孔。目前選擇的就是最優(yōu)的PCB布線方案。

 

四、問題產(chǎn)生的根因分析

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖10:EMMC芯片時(shí)鐘信號(hào)回流路徑分析

多層板設(shè)計(jì),原則上信號(hào)的回流路徑會(huì)選擇相鄰層完整的參考平面進(jìn)行回流,而實(shí)際上多層板時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)存在包地線時(shí),由于邊緣場(chǎng)效應(yīng),信號(hào)部分返回電流會(huì)沿著兩側(cè)的包地線返回(回流電流的分量大小取決于信號(hào)與鄰層和伴隨地線的距離),高頻返回噪聲電流在相鄰層參考地平面與兩側(cè)伴隨地線返回時(shí),由于包地線與參考地平面之間布線寄生電感的差異,則會(huì)使兩側(cè)包地線與鄰層參考地平面之間產(chǎn)生的電位差,電位差的大小取決于兩側(cè)伴隨地線與參考地平面的寄生電感大小的差異。

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖11:邊沿場(chǎng)的概念

邊沿場(chǎng)的定義:

當(dāng)信號(hào)沿傳輸線傳播時(shí),信號(hào)路徑與返回路徑之間將產(chǎn)生電力線,圍繞在信號(hào)路徑和返回路徑導(dǎo)體周圍也有磁力線。這些場(chǎng)并未封閉在信號(hào)路徑與返回路徑之間的空間內(nèi),而會(huì)延伸到周圍的空間,這些延伸出去在場(chǎng)稱為邊緣場(chǎng)。

 

五、問題解決方案

根據(jù)問題根因分析可知,要解決EMMC時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)包地線與鄰層參考地平面因高頻噪聲電流流過時(shí)產(chǎn)生的電位差,可以通過兩種方式解決:

解決方案(一):

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖12:時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)包地線增加密集過孔

EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)伴隨線通過密集過孔連接到鄰層參考地平面,使高頻電流流過鄰層參考地平面與流過兩側(cè)伴隨地線時(shí),兩者產(chǎn)生的電位差可以達(dá)到忽略的程度。

解決方案(二):

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖13:時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)不包地

刪除表層時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)伴隨線,并使時(shí)鐘信號(hào)與旁邊其它信號(hào)之間至少保持3W設(shè)計(jì)原則,降低與旁邊的串?dāng)_;使表面時(shí)鐘信號(hào)參考相鄰層完整的參考地平面。

 

六、案例總結(jié)與思考

對(duì)于多層板,其信號(hào)參考設(shè)計(jì)建議選擇鄰層做參考平面,為信號(hào)回流提供路徑,信號(hào)兩側(cè)不再增加包地線,信號(hào)布線與兩側(cè)其它信號(hào)布線保持3W原則;如果信號(hào)兩側(cè)一定要增加包地線則需要通過密集的過孔與相鄰層參考平面相連,使兩側(cè)的包地線與參考地平面之間保持最小電位差。

兩層板或者單面板,信號(hào)布線選擇兩側(cè)包地線作為回流路徑,也要注意包地線與系統(tǒng)之間的電位差問題,否則可能引發(fā)嚴(yán)重的EMC問題。

圖8:EMMC芯片表層時(shí)鐘信號(hào)使用銅箔屏蔽

圖14:信號(hào)參考設(shè)計(jì)的原則

 

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來源:風(fēng)陵渡口話EMC

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