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芯片設(shè)計(jì)典型器件版圖圖例解析

嘉峪檢測(cè)網(wǎng)        2025-08-25 09:19

引言     
 
在集成電路設(shè)計(jì)中,版圖(Layout)是連接電路原理圖與實(shí)際芯片制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。一個(gè)優(yōu)秀的版圖設(shè)計(jì)不僅要實(shí)現(xiàn)電路功能,更要優(yōu)化性能、減小寄生效應(yīng)、提高良率。 本文將通過(guò)圖例,帶您了解芯片設(shè)計(jì)中幾種典型器件的版圖構(gòu)成。 
 
1. 電阻器(Resistor)Layout圖例     
 
電阻器是集成電路中最基本的無(wú)源器件之一。在版圖設(shè)計(jì)中,電阻器的阻值由其材料的薄層電阻(Sheet Resistance)和幾何形狀決定。以下圖例展示了不同形狀的電阻以及其阻值計(jì)算。
 
1.1 薄層電阻與電阻形狀 
 
芯片設(shè)計(jì)典型器件版圖圖例解析
 
上圖展示了三種不同形狀的導(dǎo)電薄膜:
(a) 直線形電阻:寬度Wa=2,長(zhǎng)度La=20。
(b) 直線形電阻:寬度Wb=1,長(zhǎng)度Lb=10。
(c) L形電阻:由兩段寬度Wc=1,長(zhǎng)度Lc=10的導(dǎo)電薄膜組成。由于L形轉(zhuǎn)角處的電流分布不均勻,其有效電阻Rc≈9R□,略小于簡(jiǎn)單的長(zhǎng)度疊加計(jì)算結(jié)果。     
 
這說(shuō)明在實(shí)際版圖設(shè)計(jì)中,需要考慮轉(zhuǎn)角等幾何效應(yīng),以精確控制電阻值。但芯片的電阻通常是不準(zhǔn)確的(有很多因素會(huì)影響阻值精度),設(shè)計(jì)者更多是使用電阻比例來(lái)替代直接使用電阻值。
 
1.2 不同類型的集成電阻器
 
芯片設(shè)計(jì)典型器件版圖圖例解析
 
上圖展示了三種常見(jiàn)的集成電阻器類型及其版圖和截面示意圖:
NSD電阻器:利用n+擴(kuò)散區(qū)作為電阻體。
PSD電阻器:利用p+擴(kuò)散區(qū)作為電阻體。
Nwell電阻器:利用N阱作為電阻體。     
 
這些電阻器在版圖上通過(guò)接觸孔(Contact)與金屬層連接。選擇不同類型的電阻器取決于 所需的阻值范圍、精度、溫度系數(shù)以及與工藝的兼容性。
 
2. MOSFET(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)Layout圖例     
 
MOSFET是集成電路中最核心的器件,其版圖設(shè)計(jì)直接影響電路的性能。以下圖例展示了MOSFET的平面版圖、截面圖以及其對(duì)應(yīng)的電路符號(hào)。
 
2.1 NMOS晶體管的版圖與結(jié)構(gòu)
 
芯片設(shè)計(jì)典型器件版圖圖例解析
 
上圖展示了一個(gè)NMOS晶體管的版圖(左側(cè))、兩個(gè)不同方向的截面圖(中間)以及其電路 符號(hào)(右側(cè))。
 
版圖(Layout):   
 
從上方俯視,可以看到不同層(如Active、Poly、Metal1、Cont) 的幾何形狀和相對(duì)位置。其中,Poly(多晶硅)層形成柵極(G),Active(有源區(qū))形成源極(S)和漏極(D),并通過(guò)Cont(接觸孔)和Metal1(金屬1)與外部電路連接。B表示襯底連接。
 
截面圖(Sectional View):     
 
截面(i)展示了柵極、源極、漏極以及襯底的垂直結(jié)構(gòu),可以看到有效溝道長(zhǎng)度(l_eff)和柵極長(zhǎng)度(l)。     截面(ii)展示了晶體管的寬度(w)。
 
2.2 PMOS晶體管的版圖與結(jié)構(gòu)
 
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與NMOS類似,上圖展示了一個(gè)PMOS晶體管的版圖、截面圖和電路符號(hào)。         PMOS晶體管通常構(gòu)建在N阱(Nwell)中,其源極和漏極是p+擴(kuò)散區(qū)(PSD)。
 
2.3 MOSFET的多指結(jié)構(gòu)與布局技巧   
 
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當(dāng)需要設(shè)計(jì)大尺寸MOSFET時(shí),通常會(huì)采用多指結(jié)構(gòu)(Multi-finger Structure),即將一個(gè)大尺寸晶體管分解為多個(gè)并聯(lián)的小尺寸晶體管。這種方法有以下優(yōu)點(diǎn):
 
降低寄生效應(yīng):減小柵極電阻和寄生電容。
 
改善匹配性:通過(guò)交錯(cuò)排列(Interdigitation)等布局技巧,提高器件之間的匹配精度。
 
散熱:有助于分散熱量,改善器件的可靠性。     
 
上圖展示了一個(gè)W=20,L=2的MOSFET如何通過(guò)“分裂(Split)”、“翻轉(zhuǎn)(Flip)”、“堆疊 (Pack)”和“布線(Route)”等步驟,形成一個(gè)由多個(gè)W=5,L=2的小尺寸晶體管組成的多指結(jié)構(gòu)。這種布局技巧在模擬電路中非常常見(jiàn),用于優(yōu)化器件性能和版圖面積。 
 
3. 電容器(Capacitor)Layout圖例     
 
電容器在模擬電路中用于濾波、耦合、頻率補(bǔ)償?shù)?。集成電路中的電容器有多種實(shí)現(xiàn)方式, 以下展示幾種常見(jiàn)的電容器版圖。
 
3.1 NMOS電容器
 
芯片設(shè)計(jì)典型器件版圖圖例解析
NMOS電容器利用MOSFET的柵極與溝道之間的電容效應(yīng)。上圖展示了NMOS電容器的版圖、截面圖以及其電路符號(hào)。其中,C1和C2分別代表電容器的兩個(gè)端點(diǎn)。
 
3.2 Nwell電容器
 
芯片設(shè)計(jì)典型器件版圖圖例解析
 
Nwell電容器利用N阱與襯底之間的PN結(jié)電容。上圖展示了Nwell電容器的版圖、截面圖以及其電路符號(hào)。這種電容器通常具有較低的電容密度,但可以提供較大的電容值。
 
3.3 MIM(Metal-Insulator-Metal)電容器
 
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MIM電容器是利用兩層金屬之間夾一層介質(zhì)形成的電容器,具有較高的電容密度和較好的線性度。上圖展示了MIM電容器的版圖、截面圖以及其電路符號(hào)。通常,MIM電容器由多層金屬和介質(zhì)堆疊而成,以實(shí)現(xiàn)更大的電容值。 
 
 
總結(jié)     
 
通過(guò)對(duì)電阻器、MOSFET和電容器這三種典型集成電路器件的版圖圖例解析,我們可以看到,模擬集成電路的版圖設(shè)計(jì)是一項(xiàng)精細(xì)且充滿挑戰(zhàn)的工作。它不僅需要深厚的電路知識(shí), 更需要對(duì)半導(dǎo)體工藝和版圖技巧的深刻理解。每一個(gè)器件的布局、尺寸和互連方式都可能對(duì)最終的電路性能產(chǎn)生決定性的影響。
 
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來(lái)源:Top Gun實(shí)驗(yàn)室

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