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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2025-09-13 14:45




在當(dāng)今數(shù)字化浪潮的澎湃推動(dòng)下,人工智能、大數(shù)據(jù)等前沿科技正以前所未有的速度重塑世界。而在這背后,一個(gè)關(guān)鍵的技術(shù)支撐——HBM(高帶寬存儲(chǔ)器),正以其卓越的性能,成為高性能計(jì)算領(lǐng)域的“幕后英雄”。今天,就讓我們深入探索 HBM 的工藝流程與質(zhì)量管理,一窺其如何為現(xiàn)代科技賦能。
一、HBM 工藝流程:從微觀到宏觀的精妙構(gòu)建
(一)TSV 技術(shù):垂直互聯(lián)的“心臟”
TSV是 HBM 工藝的核心,通過(guò)在硅基板中創(chuàng)建垂直的導(dǎo)電通道,實(shí)現(xiàn)芯片間的直接連接。這些導(dǎo)電通道的直徑通常在 1 - 5um之間,深度可達(dá) 10 - 50 um。TSV 的制造流程精細(xì)復(fù)雜,包括DRIE法行成通孔、絕緣層制備、阻擋層和種子層制備、電鍍填充以及拋光等步驟。DRIE 以其出色的制高深寬比孔能力而聞名,可以實(shí)現(xiàn)大于 20:1 的深寬比。
具體來(lái)說(shuō),TSV 孔的形成是通過(guò) DRIE 技術(shù)實(shí)現(xiàn)的,采用Bosch Process,交替通入 SF?和 C?F?,每周期刻蝕 30 + 鈍化 10 s,形成扇貝紋側(cè)壁??涛g速率可達(dá) 5 - 10μm/min,鈍化層厚度為 50 - 100nm。絕緣層沉積則通過(guò)PECVD在孔壁覆蓋SiO?絕緣層,厚度為 0.5 - 1μm。阻擋層和種子層的制備通常采用PVD,阻擋層材料為 Ti/TiN,種子層材料為 Cu。

(二)u-Bumping:精準(zhǔn)連接的關(guān)鍵
HBM 的 DRAM 芯片之間主要通過(guò) ubump互聯(lián),ubump 是電鍍形成的銅柱凸點(diǎn)。其制作流程涉及濺射形成UBM、厚涂光刻膠形成掩膜、銅電鍍形成凸點(diǎn),以及通過(guò)晶圓級(jí)回流焊設(shè)備將這些凸點(diǎn)制成球形。微凸點(diǎn)的尺寸通常為 5μm×5μm,間距為 20μm。

(三)Stacking:技術(shù)路徑的分化與融合
目前堆棧鍵合類型主要包括 SK 海力士采用的 MR-MUF 技術(shù)、三星電子和美光采用的 TC-NCF技術(shù)以及未來(lái)有希望用于 HBM4 制造的混合鍵合技術(shù)。TC-NCF 使用非導(dǎo)電薄膜填充微凸點(diǎn)間空隙,再通過(guò)熱壓鍵合連接兩層 die;MR-MUF 則通過(guò)回流焊一次性粘合多個(gè)芯片,并用模塑料填充間隙?;旌湘I合技術(shù)則更為先進(jìn),它支持stack die間直接銅 - 銅鍵合,無(wú)需微凸點(diǎn),提供更緊密的間距、更低電阻和更好的熱特性。

(四)封裝測(cè)試:質(zhì)量把控的最后防線
封裝測(cè)試是 HBM 工藝的最后階段,也是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。封裝測(cè)試包括對(duì) HBM 模塊的電氣性能測(cè)試、熱性能測(cè)試、可靠性測(cè)試等多個(gè)方面。通過(guò)這些測(cè)試,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決潛在的問(wèn)題,確保 HBM 產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的穩(wěn)定性和可靠性。
二、HBM 質(zhì)量管理:精準(zhǔn)把控的科學(xué)藝術(shù)
(一)Yield :層層遞進(jìn)的考驗(yàn)
HBM 是比其他 DRAM 形態(tài)更技術(shù)復(fù)雜的產(chǎn)品,尤其是考慮到高層的 3DIC 堆疊。封裝良率無(wú)法與制造商對(duì)其更傳統(tǒng)產(chǎn)品所習(xí)慣的水平相比。隨著層數(shù)增加,良率會(huì)下降,因?yàn)榉顷P(guān)鍵的堆疊缺陷可能累積。例如,在少數(shù)幾層中可接受的小量非共面性,在更高層數(shù)時(shí)可能導(dǎo)致無(wú)法接受的共面性偏差。
(二)Thermal :性能與溫度的平衡
與任何 3DIC 組件一樣,散熱是一個(gè)問(wèn)題,而 DRAM 尤其不耐熱。超大規(guī)模數(shù)據(jù)中心的數(shù)據(jù)顯示,HBM 故障是 GPU 故障的首要原因。因此,散熱管理成為 HBM 質(zhì)量管理的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過(guò)優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)、采用高效的散熱材料和散熱結(jié)構(gòu),可以有效降低 HBM 在運(yùn)行過(guò)程中的溫度,從而提高其可靠性和性能。例如,臺(tái)積電的 CoWoS-S 通過(guò)硅中介層承載處理器和 HBM,采用整合式微流體冷卻技術(shù)。

(三)設(shè)備與材料:質(zhì)量的基石
HBM 的生產(chǎn)對(duì)設(shè)備和材料的要求極高。從 TSV 的刻蝕機(jī)、沉積設(shè)備到微凸點(diǎn)的電鍍?cè)O(shè)備,再到封裝測(cè)試的檢測(cè)設(shè)備,每一個(gè)環(huán)節(jié)都需要高精度、高性能的設(shè)備來(lái)保證工藝的穩(wěn)定性和一致性。同時(shí),優(yōu)質(zhì)的材料也是確保 HBM 質(zhì)量的關(guān)鍵。例如,高純度的銅用于微凸點(diǎn)的電鍍,高性能的絕緣材料用于 TSV 的絕緣層制備。
(四)質(zhì)量控制體系:全流程的監(jiān)督與優(yōu)化
建立完善的質(zhì)量控制體系是確保 HBM 質(zhì)量的關(guān)鍵。從原材料的檢驗(yàn)、生產(chǎn)過(guò)程中的實(shí)時(shí)監(jiān)控到成品的嚴(yán)格檢測(cè),每一個(gè)環(huán)節(jié)都需要嚴(yán)格的質(zhì)量控制。通過(guò)采用先進(jìn)的質(zhì)量控制方法和技術(shù),如統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(SPC)、六西格瑪管理等,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決質(zhì)量問(wèn)題,持續(xù)優(yōu)化生產(chǎn)工藝,提高產(chǎn)品質(zhì)量。
三、HBM 的未來(lái):技術(shù)創(chuàng)新與市場(chǎng)拓展
隨著人工智能、5G、物聯(lián)網(wǎng)等新興技術(shù)的快速發(fā)展,對(duì)高性能計(jì)算的需求將持續(xù)增長(zhǎng)。HBM 作為高性能計(jì)算的關(guān)鍵技術(shù)之一,其市場(chǎng)前景廣闊。未來(lái),HBM 技術(shù)將繼續(xù)沿著更高帶寬、更低功耗、更小尺寸的方向發(fā)展。同時(shí),隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和工藝的不斷優(yōu)化,HBM 的生產(chǎn)成本也將逐步降低,使其在更多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
在技術(shù)創(chuàng)新方面,混合鍵合技術(shù)將成為未來(lái) HBM 發(fā)展的重要方向?;旌湘I合技術(shù)不僅能夠提高 HBM 的性能和可靠性,還能降低其整體堆疊高度。此外,新型材料和新工藝的不斷涌現(xiàn),也將為 HBM 的發(fā)展提供更多的可能性。
HBM 的發(fā)展離不開(kāi)行業(yè)內(nèi)的合作與創(chuàng)新。從設(shè)備制造商到材料供應(yīng)商,從芯片設(shè)計(jì)公司到封裝測(cè)試企業(yè),各方需要緊密合作,共同推動(dòng) HBM 技術(shù)的進(jìn)步。同時(shí),政府和科研機(jī)構(gòu)的支持也至關(guān)重要,通過(guò)政策引導(dǎo)和資金支持,可以加速 HBM 技術(shù)的研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程。
總之,HBM 作為高性能計(jì)算的關(guān)鍵技術(shù),其工藝流程和質(zhì)量管理的復(fù)雜性和重要性不言而喻。通過(guò)不斷優(yōu)化工藝流程、加強(qiáng)質(zhì)量管理、推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新,HBM 將在未來(lái)的高性能計(jì)算領(lǐng)域發(fā)揮更加重要的作用。讓我們共同期待 HBM 技術(shù)的未來(lái)發(fā)展,為人類的科技進(jìn)步貢獻(xiàn)力量。
參考資料:
[技術(shù)前沿:HBM技術(shù)本質(zhì)與演進(jìn)方向]
[HBM工藝制造流程與原理 - 知乎]
[HBM TSV PVD工藝技術(shù)比較:Micron、PTi、ASE、SPIL、TSMC與UMC的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn) - 海鯨AI]

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