在可靠性工程領(lǐng)域，加速退化試驗(yàn)（ADT） 是評估高可靠性、長壽命產(chǎn)品性能退化的關(guān)鍵技術(shù)。它通過施加高于正常使用水平的應(yīng)力（如高溫、高濕、高電壓、機(jī)械載荷等），在較短時間內(nèi)激發(fā)并觀測產(chǎn)品的退化過程，從而外推產(chǎn)品在正常使用條件下的可靠性指標(biāo)（如壽命分布、失效概率）。構(gòu)建精準(zhǔn)的加速退化模型是ADT成功的關(guān)鍵與核心挑戰(zhàn)。
一、 構(gòu)建加速退化模型的關(guān)鍵環(huán)節(jié)
1. 理解產(chǎn)品失效物理與退化機(jī)理
基礎(chǔ)： 任何有效的ADT設(shè)計(jì)都始于對產(chǎn)品內(nèi)在失效物理機(jī)制的深刻理解。這涉及：
溫度： 普遍加速化學(xué)反應(yīng)（Arrhenius模型）、擴(kuò)散過程、材料蠕變/松弛。
濕度/潮氣： 加速電化學(xué)腐蝕、離子遷移、水解反應(yīng)。
電壓/電流： 加速電遷移、介質(zhì)擊穿、焦耳熱效應(yīng)。
機(jī)械應(yīng)力/循環(huán)： 加速疲勞裂紋萌生與擴(kuò)展、磨損。
輻射： 加速材料損傷（如半導(dǎo)體中的位移損傷）。
識別關(guān)鍵退化參數(shù)： 哪些性能參數(shù)（如電阻值、光通量、機(jī)械強(qiáng)度、容量）能有效表征產(chǎn)品的功能退化直至失效？
探究失效根本原因： 是材料老化（氧化、電遷移、疲勞）、化學(xué)變化（電解液分解）、物理磨損還是其他機(jī)制？
明確敏感應(yīng)力： 哪些環(huán)境應(yīng)力或工作應(yīng)力會顯著加速上述退化過程？例如：
重要性： 對機(jī)理的理解直接決定了加速應(yīng)力的合理選擇、退化軌跡的合理建模以及加速模型的物理基礎(chǔ)。忽略機(jī)理可能導(dǎo)致選擇無效的應(yīng)力、錯誤的模型和外推失敗。
2. 選擇合適的加速應(yīng)力與水平
原則：
加速性： 應(yīng)力必須能顯著加速關(guān)鍵的退化機(jī)理，縮短試驗(yàn)時間。
代表性： 應(yīng)力誘發(fā)的失效模式與機(jī)理必須與正常使用條件下一致。這是加速模型有效性的根本前提。如果加速應(yīng)力引入了新的失效模式（如過高的電壓導(dǎo)致瞬間擊穿而非緩慢退化），則外推無效。
可控性與可測性： 應(yīng)力水平需在試驗(yàn)中精確控制和監(jiān)測?？尚行裕?在成本、設(shè)備、時間等約束下可實(shí)現(xiàn)。
單應(yīng)力 vs. 多應(yīng)力： 優(yōu)先考慮對主導(dǎo)機(jī)理最敏感的單應(yīng)力。若多個應(yīng)力共同作用且機(jī)理復(fù)雜（如溫濕度雙85試驗(yàn)），需采用更復(fù)雜的組合應(yīng)力模型（如Peck模型）。
確定應(yīng)力水平： 在不改變失效機(jī)理的前提下，選擇盡可能高的應(yīng)力水平（通常3-5個水平），以最大化加速效果。最低水平應(yīng)接近或略高于最大預(yù)期使用應(yīng)力，最高水平則受限于機(jī)理不變原則和設(shè)備能力。
3. 定義與測量退化量
關(guān)鍵性能參數(shù)（KP）： 選擇能連續(xù)、準(zhǔn)確、客觀地監(jiān)測產(chǎn)品性能退化直至（或接近）失效的物理量或性能指標(biāo)。它應(yīng)：
與產(chǎn)品的功能失效直接相關(guān)。
具有良好的可測性和較低的測量噪聲。
其退化軌跡在時間和應(yīng)力下應(yīng)表現(xiàn)出可建模的趨勢（線性、指數(shù)、冪律等）。
退化軌跡： 在選定的加速應(yīng)力水平下，定期（或連續(xù)）測量KP值，形成一系列隨時間變化的退化路徑。每個應(yīng)力水平下通常需要多個樣本（樣本量影響統(tǒng)計(jì)顯著性）以捕捉個體差異和隨機(jī)性。
4. 建立退化軌跡模型（個體退化模型）
目標(biāo)： 用數(shù)學(xué)方程描述單個產(chǎn)品的KP隨時間t（在恒定應(yīng)力水平s下）的退化過程。常用模型包括：
線性模型： D(t) = β? + β? * t + ε (適用于穩(wěn)定、勻速退化，如均勻磨損)
指數(shù)模型： D(t) = β? * exp(β? * t) + ε (適用于加速退化過程，如某些化學(xué)反應(yīng))
冪律模型： D(t) = β? * t^β? + ε (適用范圍較廣)
對數(shù)模型： D(t) = β? + β? * ln(t) + ε
基于物理的模型： 如描述疲勞裂紋擴(kuò)展的Paris Law da/dN = C*(ΔK)^m。
隨機(jī)性： 退化過程本質(zhì)是隨機(jī)的（材料微觀差異、制造波動、環(huán)境擾動）。因此，模型參數(shù)（如β?, β?）常被視為隨機(jī)變量，或直接在模型中引入隨機(jī)過程：
維納過程： 非常適合描述具有線性漂移和隨機(jī)波動的退化路徑。D(t) = μ*t + σ*B(t)，其中μ是漂移系數(shù)（反映平均退化速率），σ是擴(kuò)散系數(shù)（反映波動大?。?，B(t)是標(biāo)準(zhǔn)布朗運(yùn)動。
伽馬過程： 適用于描述單調(diào)遞增、方差隨時間增大的退化（如磨損、腐蝕累積）。
5. 建立加速模型（應(yīng)力-壽命/退化關(guān)系模型）
目標(biāo)： 建立加速應(yīng)力水平s 與退化軌跡模型中的關(guān)鍵參數(shù)（通常是反映退化速率的參數(shù)） 之間的定量關(guān)系。該模型是實(shí)現(xiàn)時間外推的核心。
常用模型：
s：應(yīng)力水平（電壓、電流密度、壓力等）。
A, C, n：模型參數(shù)，n是加速因子，反映退化對應(yīng)力的敏感度。
k：退化速率（如線性模型的斜率β?，維納過程的漂移系數(shù)μ）。
A：指前因子（常數(shù)）。
Ea：活化能（eV），關(guān)鍵參數(shù)，反映退化過程對溫度的敏感度。
k_B：玻爾茲曼常數(shù) (≈ 8.617333262145 × 10?? eV/K)。
T：絕對溫度 (K)。
在ADT中，通常建立：退化速率參數(shù) ∝ exp(-Ea/(k_B * T))。
阿倫尼烏斯模型： 適用于溫度作為加速應(yīng)力，驅(qū)動化學(xué)反應(yīng)速率的情況。其核心是反應(yīng)速率常數(shù)k與絕對溫度T的關(guān)系：
k = A * exp(-Ea/(k_B * T))
其中：逆冪律模型： 適用于電壓、電流、機(jī)械應(yīng)力等非熱應(yīng)力。
退化速率參數(shù) = A * s^n
或 壽命 τ = C / s^n
其中：艾林模型： 描述反應(yīng)速率同時依賴于溫度和另一個應(yīng)力（如電壓、濕度）的模型。是Arrhenius和Power Law的組合。
Peck模型： 專門針對溫濕度綜合應(yīng)力（常用于電子器件腐蝕失效）：
壽命 τ = A * [RH]^(-n) * exp(Ea/(k_B * T))
其中RH是相對濕度，n是濕度加速因子。
參數(shù)估計(jì)： 利用不同應(yīng)力水平s_i下測得的退化數(shù)據(jù)（或失效時間數(shù)據(jù)），通過統(tǒng)計(jì)方法（如最小二乘法、極大似然估計(jì)MLE）估計(jì)加速模型中的未知參數(shù)（如Ea, n, A等）。
6. 外推與可靠性評估
外推正常應(yīng)力下的退化軌跡：
將正常使用應(yīng)力水平s_use 代入加速模型，計(jì)算出在s_use下的退化速率參數(shù)。
將計(jì)算出的退化速率參數(shù)代入退化軌跡模型，即可得到產(chǎn)品在正常使用條件下的平均退化軌跡 D_use(t)。
外推失效時間分布與可靠性指標(biāo)：
可靠度函數(shù) R(t) = P(T > t)
累積失效分布函數(shù) F(t) = 1 - R(t)
概率密度函數(shù) f(t)
失效率函數(shù) λ(t)
特定時間點(diǎn)的可靠度（如R(10年)）
特征壽命（如Weibull分布的尺度參數(shù)η）
中位壽命 B50
指定可靠度下的壽命（如B10 life，即R(t)=90%時對應(yīng)的t）
Arrhenius: AF = exp[ (Ea/k_B) * (1/T_use - 1/T_test) ]
IPL: AF = (s_test / s_use)^n定義失效閾值： 設(shè)定關(guān)鍵性能參數(shù)KP的失效閾值D_f（如LED光通量衰減到初始值的70%）。
計(jì)算（偽）失效時間： 對于每個試驗(yàn)樣本，利用其擬合的個體退化軌跡（在試驗(yàn)應(yīng)力下），預(yù)測其KP退化達(dá)到D_f所需的時間T（即使試驗(yàn)在達(dá)到D_f前停止）。這產(chǎn)生一組在試驗(yàn)應(yīng)力下的（偽）失效時間數(shù)據(jù)。
加速模型應(yīng)用： 利用加速模型，將試驗(yàn)應(yīng)力下的（偽）失效時間T_test外推到正常應(yīng)力下的失效時間T_use：
T_use = T_test * AF
其中AF(Acceleration Factor) 是加速因子，由加速模型計(jì)算得出。例如：
構(gòu)建壽命分布： 將外推得到的所有樣本在正常應(yīng)力下的失效時間T_use，視為來自正常使用條件下的壽命樣本數(shù)據(jù)。用這些數(shù)據(jù)擬合壽命分布（如Weibull、Lognormal、Exponential）。
計(jì)算可靠性指標(biāo)： 基于擬合的壽命分布，計(jì)算關(guān)鍵的可靠性指標(biāo)：
統(tǒng)計(jì)推斷與不確定性： 上述外推過程涉及多個層次的參數(shù)估計(jì)（退化模型參數(shù)、加速模型參數(shù)），每一步都存在不確定性（測量誤差、樣本變異、模型擬合誤差）。需采用統(tǒng)計(jì)推斷方法（置信區(qū)間、預(yù)測區(qū)間、Bootstrap方法、貝葉斯方法）來量化外推結(jié)果（如B10 life）的不確定性范圍。這對于風(fēng)險(xiǎn)評估和決策至關(guān)重要。
二、 案例研究：LED照明模塊光通量維持壽命評估
1. 背景與目標(biāo)
產(chǎn)品： 某型號大功率白光LED照明模塊，用于戶外燈具。
關(guān)鍵失效模式： 長期工作下光通量（Luminous Flux, 單位：流明lm）逐漸衰減。行業(yè)通常定義光通量衰減至初始值L0的70% (L70) 為失效閾值。
正常使用條件： 外殼結(jié)溫T_j = 55°C。
目標(biāo)： 評估該LED模塊在T_j=55°C下達(dá)到L70的壽命分布（特別是B50和B10壽命）。
2. 理解退化機(jī)理與選擇加速應(yīng)力
機(jī)理： LED光衰主要由芯片老化（如缺陷增長、量子阱退化）、熒光粉退化（熱淬滅、化學(xué)降解）和封裝材料（硅膠/樹脂）黃化等因素引起。溫度是加速所有這些物理化學(xué)過程的關(guān)鍵應(yīng)力。
加速應(yīng)力： 結(jié)溫 T_j。通過提高驅(qū)動電流和環(huán)境溫度來精確控制LED芯片的結(jié)溫。
機(jī)理不變原則驗(yàn)證（預(yù)試驗(yàn)）： 在選定的高應(yīng)力水平（如T_j=105°C）下進(jìn)行短期試驗(yàn)，觀察失效模式和退化軌跡形狀（對數(shù)坐標(biāo)下是否近似線性？）是否與較低應(yīng)力（如85°C）下一致。確認(rèn)主要是光衰而非其他突發(fā)失效（如死燈，需排除）。
3. 試驗(yàn)設(shè)計(jì)
加速應(yīng)力水平： 選擇4個結(jié)溫水平：T_j1 = 85°C, T_j2 = 95°C, T_j3 = 105°C, T_j4 = 115°C。最低水平85°C高于正常使用55°C以加速，最高水平115°C在設(shè)備極限內(nèi)且經(jīng)預(yù)試驗(yàn)確認(rèn)機(jī)理未變。
樣本量： 每個應(yīng)力水平投入15個同批次LED模塊樣本（考慮一定冗余）。
測量方案：
KP: 光通量（總流明值），使用積分球光度計(jì)精確測量。
測量間隔： 在試驗(yàn)開始時(t=0)、24h、48h、168h(1周)，之后每168h(1周)測量一次。高溫應(yīng)力下退化快，測量需更密集（如115°C頭幾周每周測，85°C可適當(dāng)拉長間隔）。
測量條件： 每次測量前，將LED模塊冷卻至25°C標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境溫度，并在標(biāo)準(zhǔn)電流下點(diǎn)亮穩(wěn)定后進(jìn)行測量，以消除溫度對光輸出的瞬時影響，只反映永久性退化。
記錄： 詳細(xì)記錄每個樣本在每個測量時間點(diǎn)的光通量L(t)。
試驗(yàn)終止： 計(jì)劃進(jìn)行3000小時。對于退化快的樣本（如115°C下），當(dāng)其光衰接近或超過L70時，可提前停止對該樣本的試驗(yàn)。對于退化慢的樣本（如85°C下），3000小時后可能遠(yuǎn)未到L70，利用退化數(shù)據(jù)外推。
4. 數(shù)據(jù)收集與退化軌跡建模
數(shù)據(jù)示例（簡化）： 下表展示某115°C應(yīng)力下3個樣本的部分退化數(shù)據(jù)（光通量保持率 = L(t)/L0 * 100%）：
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時間 (小時)
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1008 |
72.4 |
69.8 |
73.7 |
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退化軌跡模型選擇： 行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及物理機(jī)理表明，LED光衰在恒定結(jié)溫下常近似遵循指數(shù)衰減或?qū)?shù)線性關(guān)系。本例選用冪律模型（因其靈活性和在LED建模中的常見應(yīng)用）：
L(t)/L0 = 1 - β * t^α 或等價(jià)地 退化量 D(t) = 1 - L(t)/L0 = β * t^α
其中D(t)是退化量（0表示無退化，0.3表示退化到70%），β和α是待估參數(shù)。α影響形狀（α=1為線性），β影響速率。
參數(shù)估計(jì)（以樣本1在115°C為例）： 利用D(t) = β * t^α模型和最小二乘法擬合數(shù)據(jù)點(diǎn)。假設(shè)擬合得到：α ≈ 0.92, β ≈ 0.00015。則該樣本的退化軌跡為 D(t) = 0.00015 * t^0.92。
預(yù)測失效時間（偽）： 失效閾值 D_f = 0.3 (對應(yīng)L70)。代入模型求解t：
0.3 = 0.00015 * t^0.92 => t^0.92 = 0.3 / 0.00015 = 2000 => t = 2000^(1/0.92) ≈ 1008^(1.087) ≈ 1008 * 1.087 ≈ 1096小時 (注意：實(shí)際需精確解冪方程，此計(jì)算為示意)。
表1中樣本1在1008小時時L/L0=72.4% (即D=0.276)，預(yù)測T_f ≈ 1096小時合理。樣本2在1008小時已降到69.8% (D=0.302)，其實(shí)際T_f ≈ 1008小時。樣本3在1176小時為69.8%，T_f ≈ 1176小時。
對所有樣本進(jìn)行處理： 在每個應(yīng)力水平下，對15個樣本分別擬合個體退化軌跡模型（冪律模型或其他），并預(yù)測或記錄其在當(dāng)前應(yīng)力下達(dá)到D_f=0.3的時間T_i（i=1, 2, ..., 15）。對于未達(dá)到0.3的樣本（如在較低應(yīng)力下），利用其已測數(shù)據(jù)擬合模型外推T_i。這樣就得到每個應(yīng)力水平下一組15個（偽）失效時間數(shù)據(jù)。
5. 建立加速模型（Arrhenius）
數(shù)據(jù)準(zhǔn)備： 匯總所有應(yīng)力水平的（偽）失效時間數(shù)據(jù)：
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加速模型選擇： 溫度是主導(dǎo)應(yīng)力，機(jī)理涉及化學(xué)反應(yīng)/擴(kuò)散。選用阿倫尼烏斯模型描述特征壽命（如中位壽命B50）或平均失效速率與溫度的關(guān)系：
壽命 τ ∝ exp(Ea/(k_B * T)) 或 失效率 λ ∝ exp(-Ea/(k_B * T))
常用形式：Ln(τ) = a + b / T 其中 b = Ea / k_B
參數(shù)估計(jì)（以中位壽命B50為例）：
1.在每個應(yīng)力水平T_j下，利用該水平的15個T_f數(shù)據(jù)，擬合壽命分布（如Weibull分布）。假設(shè)在T_j=115°C下擬合得到Weibull分布：形狀參數(shù)β_w≈3.5，尺度參數(shù)η_115≈1100小時。則B50 = η * (ln2)^(1/β_w) ≈ 1100 * (0.693)^(1/3.5) ≈ 1100 * 0.89 ≈ 980小時。類似計(jì)算其他溫度下的B50。
2.得到4組數(shù)據(jù)點(diǎn) (1/T, Ln(B50))：
(1/388, Ln(980)), (1/378, Ln(B50_105)), (1/368, Ln(B50_95)), (1/358, Ln(B50_85))
3.對這些點(diǎn)進(jìn)行線性回歸：y = a + b*x，其中y=Ln(B50), x=1/T。
4.回歸結(jié)果：斜率b = Ea / k_B。因此活化能Ea = b * k_B。假設(shè)擬合得到斜率b=6000 K，則Ea = 6000 * 8.617e-5 ≈ 0.517 eV。截距a對應(yīng)Ln(A)。
加速因子計(jì)算： 計(jì)算從試驗(yàn)溫度T_test到正常使用溫度T_use=55°C=328K的加速因子AF：
AF = τ_use / τ_test = exp[ (Ea/k_B) * (1/T_use - 1/T_test) ] = exp[ b * (1/328 - 1/T_test) ]
例如，對于T_test=115°C=388K：
AF = exp[6000 * (1/328 - 1/388)] = exp[6000 * (0.003048 - 0.002577)] = exp[6000 * 0.000471] = exp[2.826] ≈ 17.06.
6.外推與可靠性評估（正常結(jié)溫55°C）
1.外推失效時間： 將每個樣本在試驗(yàn)應(yīng)力下的失效時間T_f_test，利用該應(yīng)力對應(yīng)的AF，外推到T_use：
T_f_use = T_f_test * AF
例如，樣本1在115°C下的T_f≈1096小時，AF≈17.0，則其外推壽命T_f_use≈1096 * 17.0 ≈ 18632小時。對所有樣本（4x15=60個）執(zhí)行此操作，得到60個外推的正常使用條件下的失效時間 T_f_use_i。
2.構(gòu)建壽命分布： 用這60個T_f_use_i數(shù)據(jù)點(diǎn)，擬合正常使用條件(T_j=55°C) 下的壽命分布。假設(shè)擬合得到Weibull分布：形狀參數(shù)β_w_use≈3.2，尺度參數(shù)η_use≈55000小時。
3.計(jì)算可靠性指標(biāo)：中位壽命 B50： B50 = η_use * (ln2)^(1/β_w_use) ≈ 55000 * (0.693)^(1/3.2) ≈ 55000 * 0.885 ≈ 48675小時 ≈ 5.56年。B10壽命： B10是可靠度R=90%對應(yīng)的壽命。R(t) = exp[-(t/η_use)^β_w_use] = 0.9 => (t/η_use)^β_w_use = -ln(0.9) ≈ 0.10536 => t = η_use * (0.10536)^(1/β_w_use) ≈ 55000 * (0.10536)^(0.3125) ≈ 55000 * 0.465 ≈ 25575小時 ≈ 2.92年。10年末可靠度： t=10年=87600小時，R(87600) = exp[-(87600/55000)^3.2] ≈ exp[-(1.5927)^3.2] ≈ exp[-4.0] ≈ 0.0183 (即約1.83%)。這個值很低，表明按照L70標(biāo)準(zhǔn)，10年后絕大多數(shù)LED模塊已失效?？赡苄枰匦略u估閾值或改進(jìn)設(shè)計(jì)。
4.不確定性分析（至關(guān)重要）： 上述點(diǎn)估計(jì)未考慮各層參數(shù)估計(jì)的不確定性。需通過方法（如Bootstrap或Fisher信息矩陣）計(jì)算關(guān)鍵指標(biāo)（如B10）的置信區(qū)間。例如，B10的95%置信區(qū)間可能是[2.2年, 3.8年]。這為決策提供了風(fēng)險(xiǎn)范圍。
三、 關(guān)鍵挑戰(zhàn)與注意事項(xiàng)
失效機(jī)理一致性： 確保加速應(yīng)力不誘發(fā)新機(jī)理是模型有效性的基石。需仔細(xì)設(shè)計(jì)預(yù)試驗(yàn)和應(yīng)力水平。
模型選擇與驗(yàn)證： 退化軌跡模型和加速模型的合理性需要統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)（如殘差分析、擬合優(yōu)度檢驗(yàn)）和工程判斷支持。嘗試不同模型并比較其物理意義和預(yù)測能力。
樣本量與變異性： 樣本量不足會增大參數(shù)估計(jì)和外推的不確定性。需考慮產(chǎn)品本身的性能分散性。
測量誤差與噪聲： 精確、一致的測量至關(guān)重要。噪聲過大會掩蓋真實(shí)的退化趨勢，影響模型擬合精度。需優(yōu)化測量系統(tǒng)和方法。
外推風(fēng)險(xiǎn)： 從高應(yīng)力外推至低應(yīng)力，尤其是外推距離（溫度差、時間跨度）很大時，不確定性會顯著放大。模型在低應(yīng)力區(qū)域的適用性需要謹(jǐn)慎評估?；罨蹺a的準(zhǔn)確性對外推結(jié)果影響巨大。
多應(yīng)力因素： 實(shí)際使用環(huán)境往往是多應(yīng)力綜合作用。單一應(yīng)力ADT可能無法完全模擬真實(shí)情況。若多應(yīng)力耦合重要，需開發(fā)更復(fù)雜的組合應(yīng)力加速模型（如廣義艾林模型），但這大大增加了試驗(yàn)和建模的復(fù)雜性。
非恒定應(yīng)力： 實(shí)際使用中應(yīng)力可能波動。ADT通常在恒定應(yīng)力下進(jìn)行。如何將結(jié)果應(yīng)用于變應(yīng)力條件需要額外考慮（如累積損傷模型）。
結(jié)論
建立有效的加速退化模型是一個融合失效物理理解、嚴(yán)謹(jǐn)試驗(yàn)設(shè)計(jì)、合適統(tǒng)計(jì)建模以及謹(jǐn)慎外推的系統(tǒng)工程過程。從深入分析失效機(jī)理入手，科學(xué)選擇加速應(yīng)力并驗(yàn)證機(jī)理一致性，精確測量關(guān)鍵性能參數(shù)的退化軌跡，選用或構(gòu)建能描述個體退化和應(yīng)力-壽命關(guān)系的數(shù)學(xué)模型，最終通過統(tǒng)計(jì)推斷實(shí)現(xiàn)從加速條件到正常使用條件的可靠性外推，并量化評估其中的不確定性。
案例研究表明，即使是相對“成熟”的LED光衰問題，通過基于Arrhenius模型和冪律退化軌跡的ADT，也能在幾個月內(nèi)獲得對產(chǎn)品長達(dá)數(shù)年甚至十年量級的壽命預(yù)測。然而，模型的每個環(huán)節(jié)都潛藏著風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)，特別是失效機(jī)理一致性、模型適用性以及外推的不確定性。因此，加速退化試驗(yàn)的結(jié)果應(yīng)被視為工程決策的重要輸入，而非絕對真理，并需結(jié)合其他可靠性信息（如現(xiàn)場數(shù)據(jù)、HALT結(jié)果、工程經(jīng)驗(yàn)）進(jìn)行綜合判斷。持續(xù)改進(jìn)模型精度、降低外推風(fēng)險(xiǎn)，是可靠性工程師在ADT領(lǐng)域不懈追求的目標(biāo)。
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來源：可靠性工程學(xué)
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