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汽車電子硬件設(shè)計時鐘信號EMI降低方法

嘉峪檢測網(wǎng)        2025-10-13 10:12

背景
 
電磁干擾 (EMI) 是外部源對電路造成的不利干擾。EMI可以分為傳導(dǎo)或輻射。傳導(dǎo)EMI 是由寄生阻抗、電源和接地連接引起的一種傳導(dǎo)耦合。輻射 EMI 是來自無線電傳輸?shù)臒o用信號的耦合。本文主要討論了如何通過頻率規(guī)劃和印刷電路板 (PCB) 設(shè)計盡量減少時鐘器件產(chǎn)生的輻射 EMI。
 
在為 EMI 敏感應(yīng)用設(shè)計PCB 布局時,最好實施一種經(jīng)過優(yōu)化的初步設(shè)計,以實現(xiàn)最佳 EMI 性能。本文討論了這些布局策略以及如何充分利用時鐘信號特性來實現(xiàn)最佳 EMI 性能。
 
輸出建議
 
1. 差分與單端
 
時鐘波形往往具有非常高的轉(zhuǎn)換率。無論是在輸出頻率還是在后續(xù)諧波中,這種劇烈的電壓變化都容易導(dǎo)致較大的 EMI 尖峰。例如,25MHz 可能在 25MHz、50MHz(第 2 個諧波)、75MHz(第 3 個諧波)處產(chǎn)生EMI 雜散,以此類推。在生成這些輸出的同時諧波是無法避免的,因此,選擇正確的輸出類型有助于降低雜散的功耗。
 
使用差分輸出類型(例如 LVDS 或 HCSL)就是最佳狀況。差分信號同時使用 P 布線和 N 布線,每條布線的相位差為 180 度。當(dāng)P 為高電平時,N 為低電平,反之亦然 (圖1)。此外,從時鐘發(fā)生器到終端器件之間,差分信號在整個 PCB 上的布線非??拷_@種模式和較短的距離能有效地將單條布線的 EMI 影響降至最低。
 
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圖1. P 和N 布線
 
我們可以將相同的方法用于單端輸出類型,例如 CMOS。與差分信號不同,單端輸出類型沒有相同的 P 和 N 關(guān)系;通常僅使用P 布線或 N 布線。但是許多時鐘器件可以通過單個輸出通道塊產(chǎn)生兩個彼此相位差為 180 度的單端信號。我們可以通過盡可能接近的模擬差分信號,讓這一點給我們帶來益處。按照差分對布線可實現(xiàn)出色的 EMI 性能。如果僅使用 LVCMOS 對的其中一條,則進(jìn)行兩條布線,盡可能靠近接收器終止不使用的一條布線。如果 LVCMOS 對用于兩個不同的接收器,請制定頻率計劃和 PCB 布局,以便盡可能按照差分方式對時鐘對進(jìn)行布線。
 
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圖2. 差分對對稱
 
使用 CMOS 時,考慮布線長度也很重要。這種輸出類型的布線越長,需要的功率就越大,繼而產(chǎn)生更大的 EMI輸出雜散。無論是差分輸出還是單端輸出,最好盡可能使用低功耗輸出類型,例如,使用 LVCMOS 而不是CMOS,或使用LP-HCSL 而不是 HCSL。
 
2. 壓擺率
 
轉(zhuǎn)換率是指電壓電平的變化率。時鐘信號通常是方波,與其他類型的信號相比,轉(zhuǎn)換率通常更快。電壓電平快速變化,導(dǎo)致電路中出現(xiàn)電流浪涌,從而產(chǎn)生 EMI 尖峰。為了減輕這種影響,CDC6C 之類器件采用了轉(zhuǎn)換率控制(也稱為可調(diào)節(jié)上升或下降時間)。降低轉(zhuǎn)換率可減少電流浪涌,從而降低功耗 EMI 尖峰。
 
3. 擴頻時鐘
 
展頻時鐘 (SSC) 是緩解這種 EMI 來源的最常用策略。SSC能夠通過以受控方式改變頻率來降低數(shù)字時鐘信號的峰值振幅,從而將能量分散在頻域中。然而,這不會影響時域中的時鐘振幅。中心展頻 SSC 將能量均勻分散在目標(biāo)頻率的任一側(cè)。向下展頻 SSC 僅將能量分散到目標(biāo)頻率以下的頻率。兩種 SSC 強度可能會有所不同。圖3顯示了0 %(藍(lán)色)、±0.5%(綠色)、±1%(青色)和±2%(紅色)中心展 SSC 的結(jié)果。
 
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3. 100MHz 輸出,具有 0%、 ±0.5%、 ±1% 和±2 % SSC
 
展頻通過將窄帶信號轉(zhuǎn)換為寬帶信號,以將能量分散在多個頻率上,從而降低 EMI 的影響。在開關(guān)穩(wěn)壓器中,振蕩器設(shè)置的開關(guān)頻率在操作下可降低峰值能量,并分布到其他頻率及其諧波。圖4說明了隨時間操作時鐘頻率如何分散開關(guān)電源生成的能量。
 
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圖4. 展頻頻率調(diào)制降低EMI
 
有多種方法可實現(xiàn)展頻;也可通過不同的技術(shù)來實現(xiàn),例如三角模擬抖動、假隨機、自適應(yīng)隨機展頻 (ARSS)、雙隨機展頻 (DRSS) 及許多其他技術(shù)。其中每種技術(shù)通常在低頻率或高頻率下更有效。請注意,EMI 總能量沒有變化,因為沒有衰減。而展頻技術(shù)會改變傳導(dǎo)和輻射干擾功率譜的形狀,從而降低峰值發(fā)射水平。
 
PCB 設(shè)計
 
1. 堆疊
 
為了最大限度降低 EMI,請規(guī)劃PCB 堆疊,使時鐘信號和電源布線采用帶狀線 (圖5)。使用接地環(huán)繞這些高能源有助于進(jìn)行現(xiàn)場抑制。圖5 顯示了一個 8 層堆疊的示例。該示例使用第 1 層、第3 層和第 6 層進(jìn)行電源和信號布線,并用接地平面環(huán)繞其中每一層。雖然僅使用這種堆疊并不能完全包覆住布線,但的確可以覆蓋大部分表面區(qū)域,有助于限制輻射EMI。
 
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圖5. 展頻頻率調(diào)制降低EMI
 
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圖6. 8 層PCB 堆疊示例
 
除了層順序外,還必須考慮材料特性對布線阻抗的影響。布線寬度和堆層疊必須確保和所用輸出類型的布線進(jìn)行正確的阻抗匹配。例如,LVCMOS 通常需要 50Ω 布線阻抗,而 LP-HCSL 通常使用 85Ω 或100Ω。當(dāng)器件和信號層未實現(xiàn)阻抗匹配時,其過渡可能會導(dǎo)致較大的 EMI 雜散。大多數(shù) PCB 軟件和制造商都提供工具,可以協(xié)助完成此過程。如果使用過孔將時鐘布線走線到不同的層,還必須要考慮過孔阻抗。
 
2. 電源濾波
 
頻率在電源平面上耦合和輻射,是一種常見 EMI 來源。如果需要 CISPR-25 認(rèn)證,這一點尤為重要,因為天線測量是通過器件的電源線進(jìn)行的 (圖7)。
 
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圖7. CISPR-25 設(shè)置
 
使用去耦電容器是在電路中產(chǎn)生純凈電源的主要方法。電容器在連接到直流電源后存儲能量,因此如果電壓從標(biāo)稱值波動,電容器內(nèi)存儲的能量會釋放并輸送到負(fù)載。這會拉平總電壓,保持電源穩(wěn)定并減少 EMI 雜散。
 
去耦電容器的常見值為 0.1uF 和 1uF;但是,這些值無法濾除每個頻率。電容器的內(nèi)部電阻有限,且具有電阻和電感特性。發(fā)生諧振以及容抗和感抗相等的頻率稱為自諧振頻率 (SRF)。在該頻率處,電容器阻抗變?yōu)榱?。在我們希望對電源進(jìn)行濾波的頻率處,我們需要去耦電容器的阻抗盡可能低。
 
3. 避免產(chǎn)生瓶頸
 
如上一節(jié)所述,電源平面和接地平面可以作為強大的 EMI 輻射源。PCB 設(shè)計中的一個常見錯誤是在電源和接地布線中造成瓶頸。當(dāng)功耗大量強制集中在一個較小的區(qū)域時,就會出現(xiàn)瓶頸。
 
在以下各圖中,紅色箭頭表示較大的功耗集中,綠色箭頭表示較小的功耗集中。
 
在圖8 中,VDD 布線變?yōu)檩^窄的布線。其中,兩處連接是瓶頸。該區(qū)域大量集中了電流,可充當(dāng) EMI 天線,如紅色箭頭所示
 
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圖8. 窄電源布線
 
在新布局中(圖9),利用的是整個平面而不是單條布線,這降低了任何給定點的功率集中,如綠色箭頭所示。
 
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圖9. 更寬的電源布線
 
4. 戰(zhàn)略性過孔布置
 
4.1 分散功耗集中
 
任何大量功耗集中都可能導(dǎo)致 EMI 雜散。雖然節(jié) 3 中討論了功耗集中和布線寬度,但 PCB 的其他區(qū)域也會出現(xiàn)大量功耗集中的情況。過孔和無源器件在連接點往往具有這類更高程度的功耗集中。例如,如果過孔明顯小于布線寬度,這種過渡可以充當(dāng) EMI 天線。同樣,較大的無源元件焊盤連接到寬度較小的布線或兩個平面之間的過渡,可能具有相同的效果。
 
穿過過孔布線會造成電流干擾,可能導(dǎo)致 EMI 尖峰。然而,如果過孔明顯大于布線寬度,則會產(chǎn)生更突兀的過渡(圖10)。這種更突兀的過渡可以充當(dāng)天線,產(chǎn)生更大的 EMI 雜散。穿過過孔布線時,布線寬度應(yīng)略大于過孔(圖11)。
 
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圖10. 采用窄布線穿過接地過孔的無源器件
 
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圖11. 采用較寬布線穿過接地過孔的無源器件
 
較大的無源元件焊盤連接到寬度較小的布線,也可以是 EMI 尖峰的來源 (圖12)。連接無源器件時,布線寬度要與焊盤尺寸相匹配。同樣,在兩個平面之間連接網(wǎng)時,使用幾個過孔更均勻地分散能量 (圖13)。這對于電源網(wǎng)和接地網(wǎng)尤其重要。
 
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圖13. 大型無源器件和較少的過孔
 
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圖14.大型無源器件和很多過孔
 
4.2 屏蔽和拼接過孔
 
在 PCB 設(shè)計中,降低 EMI 的常用方法是使用穿孔拼接和屏蔽過孔。拼接是指使用散布在整個電路板上的通用接地過孔模式。根據(jù)設(shè)計需求,每個過孔之間的間距可以變化。這些過孔將 PCB 的接地平面連接在一起,為電路形成一個穩(wěn)固的整體接地。額外的接地還用于進(jìn)一步環(huán)繞電源平面或布線,有助于現(xiàn)場抑制 (圖15)。在電路中提供穩(wěn)固的接地是降低 EMI 的最有效方法之一。
 
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圖15. 利用過孔實現(xiàn)帶狀線堆疊
 
妥善做法是在連接點布置一個額外的接地過孔 (圖16)。連接點可以是布線連接到另一元件的任何位置,例如過孔或無源器件。額外的過孔可實現(xiàn)更短的接地路徑,減少電感和 EMI。
 
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圖16. 帶有接地過孔的電阻器(靠近布線連接點)
 
屏蔽也利用接地過孔。但是,屏蔽過孔不會散布在整個電路板上,而是沿信號布線布置 (圖17)。這些過孔可以幫助濾除某些頻率。對于較低的時鐘頻率,以波長的 1/20 將一組過孔隔開;對于較高頻率,以波長的1/10 將其隔開。雖然這種方法優(yōu)先處理帶狀線相關(guān)的布線,但使用通孔過孔可能和使用拼接過孔有著類似的效果,可以加強電源平面的整體接地和帶狀線部分。
 
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圖17. 帶有屏蔽過孔的時鐘布線
 
盡量減少可能使用的天線數(shù)量
 
1. 殘樁
 
電路中的任何殘樁都可能成為天線,而 PCB 表面的殘樁在頂部沒有額外接地層來實現(xiàn)場抑制。元件焊盤(尤其是DNP 焊盤)是常見的殘樁示例。最好在頂層實施接地覆銅以環(huán)繞元件周圍并將接地平面作為第二層來減少影響。
 
2. 網(wǎng)絡(luò)覆銅
 
在PCB 頂層形成接地覆銅時,自動化軟件有時可以在元件之間形成接地手指(圖18)。這些手指可以通過切斷接地覆銅清除 (圖19)。
 
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圖18. 接地手指
 
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圖19. 接地手指已清除
 
同樣,檢查網(wǎng)絡(luò)覆銅的邊界是否平滑。覆銅中存在的任何毛刺都會導(dǎo)致電流阻滯和輻射。
 
 
圖20. 帶有毛刺的電源覆銅
 
總結(jié)
 
PCB布局是影響系統(tǒng) EMI 性能的主要因素之一。在設(shè)計電路板時,它是(通過電容器和鐵氧體磁珠)保持純凈電源并(通過額外的接地過孔)維持穩(wěn)固接地的關(guān)鍵。PCB 層堆疊和布線布局也可以進(jìn)行優(yōu)化,以提供額外的接地屏蔽和平滑的功率流??梢允褂貌煌脑O(shè)置(如 SSC)進(jìn)一步降低 EMI 發(fā)射。
 
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