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背景

耳機的使用場景豐富多樣，包括：日常出行（公共交通和步行外出）、學(xué)習(xí)工作（辦公室和圖書館）、運動健身（跑步、健身操和游泳）、娛樂休閑（在家觀影和游戲）。不同的場景可能會產(chǎn)生各種故障，例如：喇叭不出聲音、充不上電、有雜音、藍牙匹配不上和插頭與插孔接觸不良等。耳機失效的原因可從硬件、連接、軟件設(shè)置、使用環(huán)境等幾個方面進行分析。

耳機失效案例

耳機在正常使用中突然沒有聲音，重新連接和調(diào)整音量均無任何聲音發(fā)出。

失效分析方案

失效分析系統(tǒng)流程詳解標(biāo)準(zhǔn)

外觀顯微檢驗

■ 目的：排除機械損傷導(dǎo)致的初步失效。

■ 方法：采用高分辨率光學(xué)顯微鏡（分辨率≤1μm）對樣品表面進行全域掃描，系統(tǒng)性檢測磕碰（Impact Mark）、刮擦（Scratch）、裂痕（Crack）等機械應(yīng)力痕跡。重點觀察封裝完整性、焊點形變及材料界面分離現(xiàn)象，為后續(xù)非破壞性分析提供基礎(chǔ)判據(jù)。

電學(xué)特性對比測試（IV測試）

■ 目的：通過良品/失效品電性差異定位失效點。

■ 電性確認(rèn)：利用分析儀測量關(guān)鍵端口的電流-電壓（I-V）曲線，量化短路（Low Resistance）、開路（High Resistance）、漏電（Leakage Current）等異常參數(shù)。結(jié)合產(chǎn)品規(guī)格書（Datasheet）識別偏離設(shè)計規(guī)范的電氣參數(shù)。

熱點分析

■ 異常區(qū)域確認(rèn)：使用紅外熱成像檢測異常溫升區(qū)域（分辨率±0.03℃）。

■ 失效點定位：采用微光發(fā)射顯微鏡（EMMI）或光致發(fā)光（OBIRCH）技術(shù)捕捉載流子輻射熱點。

破壞性分析

■ 開蓋檢查：選用等離子刻蝕（Plasma Etching）或化學(xué)腐蝕（Fuming Nitric Acid）暴露失效層，采用金相顯微對缺陷位置處進行形貌觀察和分析（如電遷移枝晶、介電層擊穿孔）。

■ 去層：通過逐層去層（Total Delayer‌）的方式對異常位置處每層進行形貌觀察。

■ 失效判定：基于微觀結(jié)構(gòu)特征（晶格畸變、金屬間化合物異常）判定失效根因（過流、過壓導(dǎo)致失效）。

驗證性分析

■ 應(yīng)力模擬：在良品上施加過壓、過流應(yīng)力。

■ 對比分析：同步采集失效參數(shù)臨界點數(shù)據(jù)。

■ 分析驗證：確認(rèn)復(fù)現(xiàn)的缺陷與原始失效電性特征保持一致。

失效原因分析圖例

改善意見

優(yōu)化封裝設(shè)計、穩(wěn)定電源供應(yīng)、強化電流保護、提高工藝質(zhì)量。