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電子元器件失效率模型速查表(基于MIL-HDBK-217F)

嘉峪檢測(cè)網(wǎng)        2025-11-06 09:25

電子元器件失效率模型速查表(基于MIL-HDBK-217F)
 
元器件類別
具體類型
失效率模型公式(單位:fr/10?hr)
關(guān)鍵參數(shù)說明
適用場(chǎng)景 / 備注
微電路
閘門類 / 微處理器(邏輯芯片、CPU)
λ? =(λ?,Chip×π_T + λ?,Pkg×π_E)×π_Q×π_L
λ?,Chip:晶片基本失效率(與閘門數(shù)正相關(guān));λ?,Pkg:封裝基本失效率(與引腳數(shù)正相關(guān));π_T:溫度因子;π_E:環(huán)境因子;π_Q:品質(zhì)因子;π_L:學(xué)習(xí)因子
邏輯門、微處理器、可編程邏輯器件(PLA/PAL)
記憶體(DDR、Flash)
λ? =(λ?,Chip×π_T + λ?,Pkg×π_E + λ_cyc)×π_Q×π_L
新增 λ_cyc:讀寫循環(huán)失效率(每 100 萬次讀寫增≈0.001 fr/10?hr);其他參數(shù)同閘門類
動(dòng)態(tài) / 靜態(tài)存儲(chǔ)器、閃存等需頻繁讀寫的器件
VHSIC/VLSI CMOS(大規(guī)模 FPGA)
λ? = λ?,Die×π_Mfg×π_T×π_CD + λ?,Pkg×π_E×π_Q×π_PT + λ_EOS
λ?,Die:晶粒基本失效率;π_Mfg:制程因子(先進(jìn)制程≈0.8);π_CD:晶粒復(fù)雜度因子;π_PT:封裝類型因子;λ_EOS:電氣過應(yīng)力失效率
閘數(shù)>60K 的高速 / 大規(guī)模 CMOS 器件(如高端 FPGA、復(fù)雜 SoC)
分立式半導(dǎo)體
低頻二極管(整流管、穩(wěn)壓管)
λ? = λ?×π_S×π_C×π_T×π_E×π_Q
λ?:基本失效率;π_S:電壓應(yīng)力因子;π_C:接觸構(gòu)造因子(貼片≈0.8,插件≈1);其他同通用因子
頻率<200MHz 的整流、穩(wěn)壓、瞬態(tài)抑制二極管
高頻 GaAs FET(微波晶體管)
λ? = λ?×π_A×π_M×π_T×π_E×π_Q
π_A:應(yīng)用因子;π_M:網(wǎng)絡(luò)匹配因子(匹配差≈1.8);其他同通用因子
頻率≥1GHz 的低噪聲驅(qū)動(dòng) / 功率 FET(微波通信、雷達(dá)設(shè)備)
低頻雙極型晶體管(功率管)
λ? = λ?×π_S×π_R×π_A×π_T×π_E×π_Q
π_R:額定功率因子(實(shí)際功率 / 額定功率≈80% 時(shí) π_R≈1.5);其他同通用因子
頻率<200MHz 的功率放大、信號(hào)放大晶體管
電阻器
固定電阻(皮膜型、繞線型)
λ? = λ?×π_R×π_E×π_Q(普通固定);λ? = λ?×π_T×π_E×π_Q×π_NR(皮膜型網(wǎng)絡(luò))
λ?(皮膜型):3.25×10??×exp [(T_A+273)/343)³]×exp [(S/1.0)×(T_A+273)/273];π_NR:網(wǎng)絡(luò)電阻數(shù)因子
貼片 / 插件皮膜電阻、繞線精密電阻;網(wǎng)絡(luò)電阻需加 π_NR(電阻數(shù)越多值越大)
可變電阻(電位器)
λ? = λ?×π_TAPS×π_C×π_R×π_V×π_E×π_Q
π_TAPS:抽頭數(shù)因子(3 抽頭≈1.5);π_C:結(jié)構(gòu)因子;π_V:電壓因子;其他同固定電阻
繞線型 / 非繞線型電位器(如電路調(diào)壓、調(diào)阻場(chǎng)景)
熱敏電阻(珠狀 / 碟狀)
λ? = λ?×π_E×π_Q;λ?(珠狀≈0.021,碟狀≈0.065,桿狀≈0.005)
無溫度因子(自身隨溫度變化,模型簡(jiǎn)化);π_E:環(huán)境因子;π_Q:品質(zhì)因子
溫度檢測(cè)、補(bǔ)償電路中的熱敏元件
電容器
普通固定電容(陶瓷、薄膜)
λ? = λ?×π_CV×π_E×π_Q
λ? = A×[(S/S_R)^H + 1]×exp [B×(T+273)/T_R)^G];π_CV:電容值因子(100μF≈2.5)
陶瓷、薄膜、云母等非電解電容(濾波、耦合電路)
固態(tài)鉭電解電容
λ? = λ?×π_CV×π_SR×π_E×π_Q
新增 π_SR:串聯(lián)電阻因子(ESR=10Ω≈1.8);其他同普通固定電容
高可靠性場(chǎng)景(軍工、醫(yī)療)的濾波、儲(chǔ)能電容
非固態(tài)鉭電解電容
λ? = λ?×π_CV×π_C×π_E×π_Q
新增 π_C:構(gòu)造因子(貼片≈0.9,插件≈1);其他同普通固定電容
民用設(shè)備的中低壓濾波電路
繼電器
機(jī)械式繼電器
λ? = λ?×π_L×π_C×π_cyc×π_F×π_E×π_Q
π_L:負(fù)荷應(yīng)力因子;π_C:接觸方式因子;π_cyc:循環(huán)因子(100 萬次≈2);π_F:應(yīng)用與構(gòu)造因子
電磁式機(jī)械繼電器(控制電路、電源切換)
開關(guān)
捺跳式 / 按鍵式開關(guān)
λ? = λ?×π_cyc×π_L×π_C×π_E
π_cyc:循環(huán)因子(動(dòng)作次數(shù)越多值越大);π_L:負(fù)荷因子;π_C:接觸方式與品質(zhì)因子
面板按鍵、設(shè)備電源開關(guān)等
連接器
一般連接器(插件 / 貼片)
λ? = λ?×π_K×π_P×π_E
π_K:接合次數(shù)因子(1000 次≈1.5);π_P:主動(dòng)接觸端子數(shù)因子(端子越多值越大)
板對(duì)板、線對(duì)板連接器(如 USB、HDMI、板間排針)
印刷電路板(PCB)
波峰焊 / 手焊 PCB
λ? = λ?×[N?×π_C + N?×(π_C+13)]×π_E×π_Q
N?:波峰焊穿孔數(shù);N?:手焊穿孔數(shù);π_C:復(fù)雜度因子(布線密度越高值越大)
單 / 多層 PCB(手焊失效率高于波峰焊,需重點(diǎn)關(guān)注焊接工藝)
石英晶體
普通石英晶體(振蕩器)
λ? = λ?×π_E×π_Q
無溫度 / 應(yīng)力因子(模型簡(jiǎn)化,依賴封裝穩(wěn)定性);λ?:基本失效率≈0.01~0.05
速查表使用說明
 
參數(shù)查詢:
 
公式中 λ?(基本失效率)、π 系列(修正因子)的具體數(shù)值,需參考《MIL-HDBK-217F》附錄表格(文檔提及 “參數(shù)可由手冊(cè)表格查得”,如矽質(zhì) NPN 晶體管 A=0.0189、NT=-1052)。
 
單位統(tǒng)一:
 
所有失效率單位均為 “fr/10?hr”(每 100 萬小時(shí)失效次數(shù)),計(jì)算時(shí)需確保溫度(℃)、電壓 / 功率應(yīng)力比(實(shí)際值 / 額定值)等參數(shù)單位一致。
 
優(yōu)先級(jí)原則:
 
若元器件同時(shí)屬于多類別(如 “高頻功率晶體管”),優(yōu)先選擇文檔中 “針對(duì)性子模型”(如高頻高功率雙極型晶體管模型,而非通用分立式模型)。
 
簡(jiǎn)化場(chǎng)景:
 
民用低應(yīng)力場(chǎng)景(如常溫、降額使用、量產(chǎn) 1 年后)可簡(jiǎn)化因子:π_L≈1、π_T≈1、π_Q(工業(yè)級(jí))≈1,僅保留 λ?×π_E 計(jì)算粗略值。
 
【可靠性工程師入門到精通】電子元器件失效率模型速查表(基于MIL-HDBK-217F)
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來源:可靠性技術(shù)

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