一、溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康?/span>
溫度沖擊試驗(yàn)主要考核電路板、整機(jī)、部件級、芯片級產(chǎn)品在經(jīng)受周圍大氣環(huán)境的急劇變化時,設(shè)備外觀、電性能等是否會受到影響和失效。
二、溫度沖擊試驗(yàn)試驗(yàn)參數(shù)
高溫溫度極限值、低溫溫度極限值、溫度轉(zhuǎn)換時間、高溫極值保持時長、低溫極值保持時長。
三、溫度沖擊試驗(yàn)的溫度轉(zhuǎn)換時間通常為多久?
1.對于普通的電工電子設(shè)備,通常要求溫度轉(zhuǎn)換時間為≤3分鐘,若采用兩箱法測試時,由于產(chǎn)品尺寸過大,沒法在3分鐘以內(nèi)實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)換的,可以適當(dāng)延長轉(zhuǎn)換時間。
2.對于非民用系統(tǒng)或設(shè)備,通常要求溫度轉(zhuǎn)換時間應(yīng)盡可能的短,通常要求≤1分鐘。
3.對于器件芯片級的產(chǎn)品,所要求的溫度轉(zhuǎn)換時間最短,有的要求在10秒鐘以內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度轉(zhuǎn)換。
四、溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備
1.兩個高低溫試驗(yàn)箱(人工)
可用兩個高低溫試驗(yàn)箱,采用人工搬運(yùn)的方式,將樣品在兩臺普通溫度試驗(yàn)箱中轉(zhuǎn)移,實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)換時間≤3分鐘。
2. 提籃式溫度沖擊試驗(yàn)箱
提籃式溫度沖擊試驗(yàn)箱由熱箱、冷箱和提籃組成。樣品被放置在提籃里面,并由機(jī)械結(jié)構(gòu)帶動提籃在熱箱和冷箱之間移動。
3. 風(fēng)門式溫度沖擊箱
風(fēng)門式溫度沖擊箱也叫三箱式溫度沖擊箱,是由冷箱、熱箱、試驗(yàn)艙組成。受試產(chǎn)品被放置在實(shí)驗(yàn)艙,冷箱和熱箱各設(shè)計有一個風(fēng)門,并通過程序控制,自動將熱空氣或冷空氣送入實(shí)驗(yàn)艙。通常風(fēng)門式溫度沖擊箱還設(shè)計有環(huán)境空氣交換用的風(fēng)門,用于在切換溫度時,將實(shí)驗(yàn)艙內(nèi)的冷熱空氣與環(huán)境空氣交換,以達(dá)到節(jié)能和加快溫度轉(zhuǎn)換的目的。
五、溫度沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T2423.22-2012《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》;
2.IEC60068-2-14:2009《環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》;
3.GJB150.5A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)》;
4.GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》;
5.GJB548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》。