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嘉峪檢測(cè)網(wǎng) 2026-04-12 13:18
聚合物/電鍍Cu方法
對(duì)于上篇文章中的晶圓,使用聚合物的RDL制造工藝如圖1所示,步驟如下(含UBM):
步驟1:在晶圓上旋涂聚合物,如PI或BCB,固化1h。這將形成4~7um厚的層。
步驟2:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)(對(duì)準(zhǔn)和曝光)在PI或BCB上開通孔。
步驟3:刻蝕PI或BCB。
步驟4:剝離光刻膠。
步驟5:在整個(gè)晶圓片上濺射Ti和Cu。
步驟6:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)在再分布走線位置開孔。
步驟7:在光刻膠開孔處電鍍Cu。
步驟8:剝離光刻膠。
步驟9:完成Ti/Cu和RDL1的刻蝕。
步驟10:對(duì)RDL2重復(fù)步驟1~9,以此類推。
步驟11:重復(fù)步驟1(對(duì)于UBM)。
步驟12:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)(對(duì)準(zhǔn)和曝光)在PI或BCB上為所需的凸點(diǎn)焊盤上開通孔,并覆蓋再分布的走線。
步驟13:在PI或BCB上刻蝕所需的通孔。
步驟14:剝離光刻膠。
步驟15:在整個(gè)晶圓片上濺射Ti和Cu。
步驟16:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)在凸點(diǎn)焊盤上開通孔,以露出UBM區(qū)域。
步驟17:電鍍銅。
步驟18:剝離光刻膠。
步驟19:刻蝕掉Ti/Cu。
步驟20:化學(xué)鍍Ni和浸Au。UBM完成。
圖2顯示了采用聚合物(例如BCB)作為鈍化層和鍍Cu作為金屬層的RDL的典型橫截面??梢钥闯觯g化層BCB1和BCB2的厚度為6~7um,RDL約為4um。


Cu大馬士革方法
另一種制造RDL的方法是Cu大馬士革工藝。從前述晶圓開始,用Cu大馬士革技術(shù)制造RDL的工藝主要是基于半導(dǎo)體后端工藝,詳情如圖3所示,步驟如下:


步驟1:PECVD淀積SiO2層。
步驟2:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)(對(duì)準(zhǔn)和曝光)在SiO2上開通孔。
步驟3:RIE(反應(yīng)性離子刻蝕)SiO2。
步驟4:剝離光刻膠。
步驟5:在整個(gè)晶圓上濺射Ti和Cu并電鍍Cu。
步驟6:對(duì)Cu和Ti/Cu進(jìn)行CMP。V01完成(通孔使TSV連接到RDL1)。
步驟7:重復(fù)步驟1。
步驟8:涂光刻膠和掩膜,然后用光刻技術(shù)在再分布走線位置開孔。
步驟9:重復(fù)步驟3。
步驟10:重復(fù)步驟4。
步驟11:重復(fù)步驟5。
步驟12:CMP Cu和Ti/Cu。RDL1完成。
步驟13:重復(fù)步驟1~6以完成V12(通孔將RDL1連接到RDL2)。
步驟14:重復(fù)步驟7~12以完成RDL2和任何其他層。
步驟15:(UBM)重復(fù)步驟1。
步驟16:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)(對(duì)準(zhǔn)并曝光)在SiO2上為所需的凸點(diǎn)焊盤開通孔,并覆蓋再分布的走線。
步驟17:在SiO2上刻蝕所需的通孔。
步驟18:剝離光刻膠。
步驟19:在整個(gè)晶圓上濺射Ti和Cu。
步驟20:涂光刻膠和掩膜,然后使用光刻技術(shù)在凸點(diǎn)焊盤上開通孔,以露出UBM區(qū)域。
步驟21:電鍍Cu。
步驟22:剝離光刻膠。
步驟23:腐蝕掉Ti/Cu。
步驟24:化學(xué)鍍Ni和浸Au。UBM完成。
需要注意的是,RDL也可以用雙Cu大馬士革方法制造,如圖4所示。
用Cu大馬士革技術(shù)制備的RDL橫截面的SEM圖像如圖5和圖6所示。最小RDL線寬為3um,RDL1和RDL2的厚度為2.6um,RDL3的厚度為1.3um,RDL之間的鈍化層厚度為1um。


來源:學(xué)習(xí)那些事