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嘉峪檢測網(wǎng) 2017-01-13 23:50


超聲橫波信號被碳鋼與奧氏體鋼之間的界面阻擋。
超聲縱波(LW)受到鋼/奧氏體合金界面的影響要小于橫波(SW)(如下圖所示),傳統(tǒng)的縱波(LW)脈沖回波方法在奧氏體材料上效果較好,但該技術(shù)仍存在以下缺點:
需要設(shè)計較高的探頭楔塊來消除內(nèi)部的反射波,這會造成楔塊中的能量衰減,在有些情況下,超過1/3的能量衰減在楔塊中。為了對這些衰減作出補(bǔ)償,就需要儀器使用更高的增益,結(jié)果導(dǎo)致整個檢測信號信噪比變差。
采用縱波(LW)技術(shù)時,由于聲波的模式轉(zhuǎn)換問題,無法使用二次波對焊縫上半部分進(jìn)行檢測,這將導(dǎo)致焊縫的整個上半部分無法進(jìn)行檢測,就必須使用其他方法完成焊縫覆蓋檢測。

縱波(LW)和剪切波(SW)穿過奧氏體焊縫材料的對比。
為了解決奧氏體焊縫檢測的難題,Olympus開發(fā)了一系列新的雙晶矩陣相控陣探頭和對應(yīng)的楔塊。使用A17和A27系列雙晶矩陣相控陣探頭系列可產(chǎn)生縱波,實現(xiàn)信噪比的顯著改善。
獨立的發(fā)射和接收探頭無需使用阻尼材料或大高度楔塊設(shè)計就可消除與脈沖回波方法有關(guān)的楔塊回波問題。較小的楔塊產(chǎn)生的衰減較小,從而讓探頭聚焦深度能夠更進(jìn)一步深入到材料內(nèi)部。


雙晶矩陣相控陣探頭(左)和縱波(LW)探頭(右)的楔塊設(shè)計對比
探頭技術(shù)與楔塊設(shè)計的結(jié)合能夠以優(yōu)良信號質(zhì)量和極低噪聲水平實現(xiàn)體積型缺陷和表面缺陷評判。


使用4 MHz A27 DMA探頭和OmniScan® MX2 探傷儀進(jìn)行雙側(cè)不銹鋼焊縫檢測。


使用4 MHz A27 DMA probes和OmniScan MX2 探傷儀進(jìn)行表面缺陷檢測。
我們的DMA探頭可提供頻率和晶片定制,也可選用A17和A27這兩種標(biāo)準(zhǔn)型號。標(biāo)準(zhǔn)DMA型號與我們的NDT SetupBuilder 軟件和OmniScan探傷儀配合使用。DMA楔塊經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計,可手動檢測,也可配合MapSCANNER™、ChainSCANNER™、或VersaMOUSE™ 等掃查器使用。
雙晶矩陣相控陣探頭將OmniScan MX2 和 FOCUS PX™ 儀器的檢測范圍擴(kuò)展到粗晶奧氏體不銹鋼和鉻鎳鐵合金材料及焊縫。

來源:AnyTesting