什么是HTOL/ LTOL試驗？
HTOL/ LTOL試驗是指高/低溫操作生命期試驗（High/ Low Temperature Operating Life ）的簡稱
HTOL就是把器件加速老化,主要的加速手段有兩種, 電壓和溫度,通過高溫高壓使其加速老化,而且電壓和溫度都有其各自的加速因子,電壓加速 Fv= exp(beta*(Vstress-Vop)),溫度加速 Ft=exp(Ea/K*(1/Top-1/Tstress)).通過這兩個加速因子,可以把stress下的TTF(time to fail)轉(zhuǎn)換到使用條件下的lifetime,即lifetime=TTF*Fv*Ft
HTOL/ LTOL試驗目的:
評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力。
HTOL/ LTOL測試條件:
125℃，1.1VCC, 動態(tài)測試
HTOL/ LTOL試驗失效機制：
電子遷移，氧化層破裂，相互擴散，不穩(wěn)定性，離子玷污等
HTOL/ LTOL試驗參考數(shù)據(jù)：
125℃條件下1000小時測試通過IC可以保證持續(xù)使用4年，2000小時測試持續(xù)使用8年；150℃ 1000小時測試通過保證使用8年，2000小時保證使用28年。
HTOL/ LTOL試驗參考標(biāo)準(zhǔn):
MIT-STD-883E Method 1005.8
JESD22-A108-A
EIAJED- 4701-D101
京公網(wǎng)安備11010802046783號
