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一， 異物分析目的
異物雜質(zhì)的生成原因比較多，例如原材料不純、反應(yīng)有副產(chǎn)物、工藝控制不規(guī)范或工藝配方不成熟等。本項(xiàng)目通過分析異物，獲得其所含的元素、化學(xué)成分，結(jié)合廠家對(duì)產(chǎn)品和工藝的了解找出異物產(chǎn)生的真正原因，通過廠家對(duì)配方工藝等的改進(jìn)調(diào)節(jié)進(jìn)而避免異物的產(chǎn)生。
該技術(shù)是專門針對(duì)產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物，析出物的分析技術(shù)，例如對(duì)表面嵌入或析出的顆粒物、小分子遷移物、斑點(diǎn)、油狀物、霧狀物、橡膠噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。

二， 異物分析作用
1）快速判斷異物或雜質(zhì)的成分，分析產(chǎn)生原因，進(jìn)行整改提升產(chǎn)品良率。
2）通過對(duì)異常物質(zhì)分析，進(jìn)行配方完善。
3）消除生產(chǎn)隱患。

三， 異物分析典型案例
案件背景：某客戶客訴回1pcLCM產(chǎn)品不良，表現(xiàn)為其點(diǎn)亮后產(chǎn)品出現(xiàn)部分區(qū)部不良。
檢測(cè)手段：顯微紅外分析、SEM+EDS分析
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6040-2002 紅外光譜分析方法通則、GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析。
分析方法簡(jiǎn)介：

通過顯微鏡放大倍檢查發(fā)現(xiàn)LCM的導(dǎo)光板表面存在異常條狀物質(zhì)，見下圖。

首先在顯微鏡通過特殊取樣工具取出LCM的導(dǎo)光板表面異物并進(jìn)行FTIR成分分析，判定其有機(jī)主成分。

結(jié)果分析：綜合以上分析，可知LCM的導(dǎo)光板表面異物為聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA），其元素為C、O。結(jié)合產(chǎn)品分析該LCM產(chǎn)品中存在PMMA膜層，建議做紅外圖譜相似度比對(duì)，從而確定來源。

本文來源：http://www.mttlab.com/2014/1212/121.html