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嘉峪檢測網(wǎng) 2017-10-23 13:41
1. CAF是什么?
CAF中文名為導(dǎo)電陽極絲,是Conductive Anodic Filament首字母的縮寫。它的存在,輕微者可導(dǎo)致產(chǎn)品導(dǎo)體間漏電而無法開機(jī),嚴(yán)重者可導(dǎo)致長期漏電發(fā)熱而引起基材碳化,最終引起火災(zāi)。CAF的生長主要是由于玻纖與樹脂間存在空隙或者玻纖內(nèi)部存在空心,在后期的正常使用過程中受導(dǎo)體間電勢差作用,在濕熱的條件下,銅發(fā)生水解反應(yīng)并沿著通道遷移并沉積所形成。涉及的電化學(xué)反應(yīng)方程式如下:
1)Cu ® Cu2+ +2e- (銅在陽極發(fā)生溶解)
H2O ® H++OH-
2H+2e- ® H2
2)Cu2++2OH-®Cu (OH)2 (銅從陽極向陰極方向發(fā)生遷移)
Cu (OH)2 ®CuO+H2O
3)CuO+H2O®Cu (OH)2®Cu2++2OH- (銅在陰極沉積)
Cu2++2e-®Cu
根據(jù)PCB布線情況,歸納起來有幾種位置存在CAF生長的風(fēng)險:孔到孔,孔到線,線到線,層到層,示意圖見圖1。而PCB制作過程中鉆孔會使得基材承受較大的機(jī)械應(yīng)力作用,從而導(dǎo)致玻纖與樹脂結(jié)合界面間出現(xiàn)縫隙,因此孔到孔、孔到線發(fā)生CAF生長更為普遍。
圖1. CAF生長位置示意圖
不難看出,要發(fā)生CFA生長,需滿足以下幾個條件:
(1)基材內(nèi)存在間隙,提供離子運(yùn)動的通道;
(2)有水分存在,提供離子化的環(huán)境媒介;
(3)有金屬離子物質(zhì)存在,提供導(dǎo)電介質(zhì);
(4)導(dǎo)體間存在電勢差,提供離子運(yùn)動的動力;
CAF生長的載體是PCB,在工作過程中勢必帶電,電勢差這一條件很容易滿足??足~、導(dǎo)線均是銅材,屬金屬物質(zhì),導(dǎo)電介質(zhì)也很容易滿足。使用環(huán)境中均會有一定的濕度,基材也會有一定的吸水性質(zhì),因此環(huán)境媒介也很容易滿足。而樹脂與玻纖結(jié)合是通過化學(xué)鍵結(jié)合,產(chǎn)生裂縫相對較難實(shí)現(xiàn),因此離子運(yùn)動的通道成為CAF生長的關(guān)鍵。
2. CAF失效分析典型案例
典型案例
案例一:某車載導(dǎo)航面板在使用半年后出現(xiàn)息屏現(xiàn)象,拔出SD存儲卡后可重新開機(jī),再插上SD卡則立即息屏關(guān)機(jī)。經(jīng)排查確認(rèn)開關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)與SD卡網(wǎng)絡(luò)間存在漏電。分析排除表面焊點(diǎn)間漏電引起失效后,定位至兩個相鄰過孔間漏電,切片顯示兩個過孔間已發(fā)生CAF生長。SD卡網(wǎng)絡(luò)過孔孔粗較大,表明鉆孔存在不良,造成玻纖與樹脂結(jié)合界面出現(xiàn)裂縫從而提供生長通道。實(shí)測兩孔孔壁間距僅約0.2mm,如此小的間距且使用的不是耐CAF基材材料,這就增大了CAF發(fā)生的風(fēng)險。
圖2. 切片分析圖
案例二:某LED燈板在使用很短一段時間后出現(xiàn)藍(lán)燈竄亮失效,電路分析后定位至兩個相鄰過孔,最終切片也證實(shí)了孔與孔之間發(fā)生CAF生長失效,見圖3。
圖3. CAF圖片
進(jìn)一步對CAF作垂直方向切片,發(fā)現(xiàn)玻纖內(nèi)部存在空心現(xiàn)象,見圖4。查基材制作所用原料的測試記錄,發(fā)現(xiàn)該基材所用的玻纖并未進(jìn)行中空玻纖束試驗加以管控,所以具有中空缺陷的玻纖被投入生產(chǎn),最終導(dǎo)致CAF發(fā)生。
圖4. 玻纖空心圖片
3. CAF失效的預(yù)防
身患癌癥的人無藥可救,但醫(yī)生會去研究病因,給健康的人加以忠告,防止癌癥染身。同理發(fā)現(xiàn)CAF失效,分析其機(jī)理,同樣也可以給產(chǎn)品的生產(chǎn)提供預(yù)防措施。綜合前輩們研究結(jié)果,小編整理了幾個方面的預(yù)防措施。
(1) PCB制作工藝優(yōu)化
PCB的過孔很大一部分是采用機(jī)械鉆孔的方式實(shí)現(xiàn),而機(jī)械鉆孔是采用高速旋轉(zhuǎn)的鉆刀對基材進(jìn)行加工。鉆刀的旋轉(zhuǎn)對基材形成拉扯的應(yīng)力作用,加上鉆孔過程鉆刀與基材摩擦產(chǎn)生的熱量,玻纖與樹脂的結(jié)合很容易失去作用而產(chǎn)生縫隙,給CAF生長提供通道,因此生產(chǎn)上應(yīng)合理規(guī)范鉆孔的參數(shù),包括進(jìn)刀速、退刀速、鉆速、孔限等,將拉扯的應(yīng)力作用降低至最小。
此外PCB基材種類繁多,應(yīng)根據(jù)不同的基材類型設(shè)置不同的鉆孔參數(shù)。舉個例子,無鹵材料因添加含P或含N官能團(tuán)的物質(zhì)作為阻燃劑,分子鍵剛性增加,且為保證基材的剛性還會添加一些無機(jī)填料,這就造成鉆孔過程對鉆刀磨損更嚴(yán)重,因此在設(shè)定鉆孔參數(shù)時應(yīng)區(qū)別于含鹵基材。
(2)設(shè)計優(yōu)化
在長期水汽作用下,玻纖與樹脂結(jié)合界面劣化是大多數(shù)基材無法避免的,這就要求從設(shè)計上尋求降低CAF風(fēng)險的方法了。眾所周知,玻纖束是橫縱交錯的,合理避開玻纖束直接連接兩個相鄰過孔也是預(yù)防CAF的一種有效方式。例如圖5中a方式的鉆孔位置,玻纖束直接連接兩個過孔,孔間距較小時,長時間工作勢必引發(fā)CAF生長,但是將鉆孔方式錯開一些,轉(zhuǎn)換成b方式,避開了玻纖束直接連接過孔,CAF生長通道受阻,達(dá)到預(yù)防CAF生長的目的。
圖5. 鉆孔方式示意圖
(3) PCB基材優(yōu)選
產(chǎn)品設(shè)計階段應(yīng)將CAF風(fēng)險考慮在內(nèi),在選材上做足功課。在納入合格基材供應(yīng)商之前,應(yīng)對其生產(chǎn)的基材進(jìn)行耐CAF測試。例如要求嚴(yán)格控制鉆孔參數(shù)條件下,設(shè)計不同的孔徑、不同的孔間距、不同的孔到線距離測試模塊,在高溫高濕條件下加載偏壓,并在線監(jiān)測絕緣阻值變化,對基材耐CAF能力進(jìn)行摸底,根據(jù)測試結(jié)果優(yōu)選基材,優(yōu)化PCB布線過程的孔間距、孔到線間距,從而達(dá)到預(yù)防CAF發(fā)生的目的。具體測試方法可參考IPC-TM-650 2.6.25 2003。
圖6. 絕緣電阻在線檢測設(shè)備







來源:賽寶