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集成CAE的可靠性應(yīng)用方式主要包括參數(shù)化建模、試驗(yàn)設(shè)計(jì)、響應(yīng)面擬合、可靠性分析4個(gè)步驟。
2021/07/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
通常把縮短時(shí)間的試驗(yàn)稱為加速可靠性試驗(yàn)。以下為常見的加速試驗(yàn)方法,在實(shí)際應(yīng)用中并不是只采用其中的一種方法,很多時(shí)候會(huì)同時(shí)采用其中的兩種甚至更多方法以求獲得更短的試驗(yàn)時(shí)間。
2019/09/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性與環(huán)境試驗(yàn)問題解答
2016/07/21 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
某觸摸顯示屏出廠前經(jīng)客戶要求需對(duì)產(chǎn)品外觀、功能、性能做可靠性鑒定驗(yàn)收試驗(yàn)。
2018/01/15 更新 分類:檢測案例 分享
成敗型產(chǎn)品的特點(diǎn)是在試驗(yàn)或使用中,要么成功,要么失敗,一般是不可修復(fù)的產(chǎn)品。
2018/05/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
簡單介紹了光電子元器件可靠性檢測中的物理特性測試、機(jī)械完整性試驗(yàn)、加速老化試驗(yàn)
2018/05/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文簡單介紹電子元器件中物理測試項(xiàng)目,機(jī)械完整性試驗(yàn)項(xiàng)目和加速老化試驗(yàn)項(xiàng)目三個(gè)方面的可靠性檢測。
2018/06/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性試驗(yàn)是為了提高或確認(rèn)產(chǎn)品、裝置及零件的可靠性進(jìn)行的試驗(yàn)的總稱。
2019/05/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件可靠性需要進(jìn)行物理特性測試項(xiàng)目、機(jī)械完整性試驗(yàn)項(xiàng)目、加速老化試驗(yàn)項(xiàng)目
2020/06/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文就可靠性試驗(yàn)未來的9個(gè)方向展開了詳細(xì)論述
2021/04/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享