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電子元器件可靠性評價與試驗
2020/06/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了科學儀器如何進行可靠性試驗指標MTBF驗證。
2021/08/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了IGBT常見可靠性試驗。
2022/03/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文匯總了產品可靠性試驗國家標準。
2023/02/26 更新 分類:法規(guī)標準 分享
本文介紹了可靠性MTBF序貫截尾試驗方案。
2024/11/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了可靠性研制試驗及其基本要求。
2024/11/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
GB/T2423標準環(huán)境可靠性試驗檢測項目必做的八大檢測項目匯總,低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗、振動試驗、沖擊試驗、低氣壓試驗、鹽霧試驗、溫度沖擊試驗各自能引發(fā)產品哪些故障呢。
2022/12/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性試驗是通過典型環(huán)境應力和工作載荷暴露產品的潛在缺陷,獲取產品可靠性水平、檢驗產品可靠性指標、評估產品壽命指標的一種有效手段。
2024/03/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
HALT方法是為了提高產品的可靠性,而并非為了評估產品的可靠性。
2019/02/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
國內的某些產品研制單位對環(huán)境和可靠性試驗的認識還存在一定的誤區(qū),沒有真正地理解對產品進行環(huán)境和可靠性試驗的真正意義,沒有將環(huán)境、可靠性試驗看作一個可使產品增值的過程。因此,?很有必要深入地探討有關環(huán)境、可靠性試驗的各種問題。
2019/10/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享