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本文基于加速試驗(yàn)方法的不足及缺陷,闡述了不同加速應(yīng)力方法及加速模型的應(yīng)用,同時(shí)結(jié)合實(shí)際案例,詳細(xì)闡述加速壽命方法的應(yīng)用,為相關(guān)人員進(jìn)行加速壽命評估提供參考。
2022/01/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
HALT(Highly AcceleratedLife Test)的全稱是高加速壽命試驗(yàn),是一種試驗(yàn)方法
2016/01/07 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
壽命試驗(yàn)是為了測定產(chǎn)品在規(guī)定條件下的壽命所進(jìn)行的試驗(yàn),也稱為耐久性試驗(yàn)。 壽命試驗(yàn)的目的:一是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品中可能過早發(fā)生耗損的零部件,以確定影響產(chǎn)品壽命的根本原因和可能
2015/01/21 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
加速試驗(yàn)是近年來快速發(fā)展的一項(xiàng)可靠性試驗(yàn)技術(shù)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)可靠性試驗(yàn)的技術(shù)思路,將激發(fā)的試驗(yàn)機(jī)制引入到可靠性試驗(yàn),可以大大縮短試驗(yàn)時(shí)間,提高試驗(yàn)效率,降低試驗(yàn)耗損。
2023/10/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
LED具有體積小,耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn),在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗(yàn)對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行*價(jià),并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。
2016/04/27 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
加速壽命試驗(yàn)概述
2017/08/28 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
LED具有體積小,耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn),在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗(yàn)對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價(jià),并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。
2020/08/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
壽命試驗(yàn)的核心在于模擬產(chǎn)品在真實(shí)使用環(huán)境中的退化過程,通過加速應(yīng)力(如高溫、高濕、電壓應(yīng)力、機(jī)械循環(huán))在可控實(shí)驗(yàn)室內(nèi)快速激發(fā)潛在失效,據(jù)此推斷產(chǎn)品在常規(guī)條件下的壽命分布特征。
2025/08/26 更新 分類:檢測案例 分享
工作中經(jīng)常遇到有人對加速壽命試驗(yàn)不清楚,包括方法、范圍、條件等,還有人對加速壽命試驗(yàn)和高加速壽命試驗(yàn)更是一筆糊涂賬,今天本文簡要介紹相關(guān)知識,供交流參考
2020/11/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
高加速試驗(yàn)一般分為高加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗(yàn),高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Testing,簡稱HALT試驗(yàn))是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。
2023/02/27 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享