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電阻硫化開裂失效分析
2022/08/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
碳膜電阻開路失效分析
2022/08/30 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
本文介紹了如何選擇合適的壓敏電阻。
2024/04/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了如何測(cè)量接地電阻。
2024/05/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了壓敏電阻的選型以及相關(guān)計(jì)算的知識(shí)。
2021/08/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電阻率檢測(cè)測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)
2015/11/04 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
電阻的組成、分類及讀數(shù)方法
2017/08/24 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文主要介紹電阻測(cè)溫電路中檢測(cè)電阻阻值的測(cè)量方法
2025/09/19 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
食品接觸材料標(biāo)準(zhǔn)大全
2017/05/23 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
電阻的硫化失效是厚膜片狀電阻常見的一種失效現(xiàn)象,電阻的硫化會(huì)導(dǎo)致電阻的阻值的增大或開路失效。研究電阻的硫化失效原因、失效機(jī)理、失效現(xiàn)象等方面,對(duì)提高片狀電阻的可靠性具有極其重要的意義。
2017/11/14 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享