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您當(dāng)前的位置：檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁(yè)

  • 印制電路板EMC設(shè)計(jì)技巧

    實(shí)踐證明，即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確，印制電路板設(shè)計(jì)不當(dāng)，也會(huì)對(duì)電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利影響。例如，如果印制板兩條細(xì)平行線(xiàn)靠得很近，則會(huì)形成信號(hào)波形的延遲，在傳輸線(xiàn)的終端形成反射噪聲。因此，在設(shè)計(jì)印制電路板的時(shí)候，應(yīng)注意采用正確的方法。

    2018/07/05 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電磁兼容測(cè)試中試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾測(cè)量的影響

    隨著各國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的推廣和實(shí)施，人們?cè)絹?lái)越重視產(chǎn)品的電磁兼容性問(wèn)題，各大電子設(shè)備制造商也越來(lái)越注重產(chǎn)品的電磁兼容性測(cè)試，特別是電磁輻射騷擾是否達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

    2018/08/24 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 鐵路信號(hào)設(shè)備雷擊型式試驗(yàn)TB/T3498-2018

    鐵路信號(hào)設(shè)備雷擊型式試驗(yàn)TB/T3498-2018適用于工作電壓在AC1000V或DC1500V及以下的鐵路通信信號(hào)系統(tǒng)電子設(shè)備和電源設(shè)備模擬雷擊試驗(yàn)。

    2019/02/20 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 電磁兼容靜電放電抗擾度測(cè)試介紹

    靜電放電抗擾度測(cè)試 Testing and measurment techniques---Electrostatic discharge immunity test 1.靜電放電抗擾度測(cè)試范圍: 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來(lái)自操作者和對(duì)鄰近物體的靜電放電的抗擾

    2019/02/28 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電解電容選型需關(guān)注6個(gè)性能指標(biāo)

    開(kāi)關(guān)電源不斷的小型化、輕量化和高效率，在電子設(shè)備中使用量越來(lái)越大，普及率越來(lái)越高。相應(yīng)的就要求電解電容器小型大容量化，耐紋波電流，高頻低阻抗化，高溫度長(zhǎng)壽命化和更適應(yīng)高密度組裝。

    2020/03/18 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 墨西哥安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)NOM-001-SCFI-2018延遲3個(gè)月實(shí)施

    2020年5月14日，墨西哥發(fā)布官方公告通知， NOM-001-SCFI-2018 新版標(biāo)準(zhǔn)將延遲3個(gè)月實(shí)施。 該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子設(shè)備的安全要求和測(cè)試方法，強(qiáng)制實(shí)施后取代舊版NOM-001-SCFI-1993。

    2020/05/19 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 可靠性與MTBF驗(yàn)證知識(shí)

    隨著電子技術(shù)的發(fā)展，對(duì)電子設(shè)備也提出了更高的要求，由于設(shè)備技術(shù)性能和結(jié)構(gòu)要求等方面的提高，可靠性問(wèn)題愈顯突出，如果沒(méi)有可靠性保證，高性能指標(biāo)是沒(méi)有任何意義的。

    2020/07/24 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • TVS二極管失效機(jī)理與失效分析程序

    常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會(huì)將保護(hù)的電子設(shè)備損壞．這是TVS生產(chǎn)廠(chǎng)家和使用方都想極力減少或避免的情況。

    2020/09/03 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • 無(wú)人機(jī)研發(fā)不同階段的可靠性變化與可靠性試驗(yàn)圖譜

    對(duì)于電子設(shè)備，尤其是無(wú)人機(jī)來(lái)說(shuō)，平均無(wú)故障工作時(shí)間(MTBF)直接反映了該設(shè)備質(zhì)量與可靠性水平的高低。因此，為提高無(wú)人機(jī)的平均無(wú)故障工作時(shí)間，應(yīng)開(kāi)展可靠性試驗(yàn)，提高或驗(yàn)證其可靠性。

    2020/10/29 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 國(guó)產(chǎn)元器件可靠性的保證技術(shù)

    隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和進(jìn)步，元器件國(guó)產(chǎn)化占比隨之增高。然而國(guó)產(chǎn)元器件在工程應(yīng)用中也暴露出諸多問(wèn)題，特別是在元器件的質(zhì)量問(wèn)題及可靠性方面，電子元器件的可靠性是其最基礎(chǔ)和核心的標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)于電子設(shè)備產(chǎn)品質(zhì)量有直接影響。

    2021/04/07 更新 分類(lèi)：生產(chǎn)品管 分享