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研究人員采用宏觀觀察、滲透檢測(cè)、X射線檢測(cè)等方法分析了發(fā)生放電故障的原因,并利用仿真軟件計(jì)算了高電壓環(huán)境下不同澆注間隙對(duì)電場(chǎng)的影響,以防止該類(lèi)問(wèn)題再次發(fā)生。
2024/01/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文開(kāi)展了脈沖功率反鐵電多層陶瓷電容器多應(yīng)力因子(溫度、電壓、電流)的加速壽命試驗(yàn)研究,通過(guò)加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析,建立了可靠性壽命預(yù)測(cè)模型。
2024/03/20 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
選擇一個(gè)電流檢測(cè)電阻器很容易?通過(guò)簡(jiǎn)單測(cè)量已知電阻兩端的電壓,然后應(yīng)用歐姆定律和I=V/R(圖1)來(lái)確定電流,人們對(duì)這種基本功能寄予厚望。還有什么比這更簡(jiǎn)單的嗎?
2024/07/03 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文討論信號(hào)源和接收機(jī)以外的EMC系統(tǒng)設(shè)備校準(zhǔn),探討網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)用于EMC測(cè)試器具的校準(zhǔn),包括天線、電纜及連接器、放大器、測(cè)試網(wǎng)絡(luò)、電流探頭和電壓探頭、場(chǎng)地校準(zhǔn)等。
2024/07/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn),是模擬自然界里的雷擊(間接雷)以及供電線路中因大型開(kāi)關(guān)切換所引起的電壓變化對(duì)供電線路和通信線路的影響。
2024/07/12 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)規(guī)范定義了一組EMC抗擾度要求,這組規(guī)范包括以下三種類(lèi)型的高電壓瞬變,設(shè)計(jì)人員需要確保數(shù)據(jù)通信線路不受這些瞬變的損害。
2025/04/17 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
在做雷擊浪涌抗擾度測(cè)試前,通常我們都要檢驗(yàn)下雷擊浪涌模擬器的電壓與電流波形,一般我們會(huì)對(duì)浪涌發(fā)生器主機(jī)和浪涌發(fā)生器耦合去耦網(wǎng)絡(luò)分別進(jìn)行校準(zhǔn)。
2025/06/06 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
不同封裝的二極管、不同制造工藝的二極管、不同廠商的二極管、不同型號(hào)的二極管均可能對(duì)EMI性能產(chǎn)生影響。二極管的工作電壓、應(yīng)用方式也會(huì)對(duì)EMI性能產(chǎn)生重大影響。
2025/08/02 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
壽命試驗(yàn)的核心在于模擬產(chǎn)品在真實(shí)使用環(huán)境中的退化過(guò)程,通過(guò)加速應(yīng)力(如高溫、高濕、電壓應(yīng)力、機(jī)械循環(huán))在可控實(shí)驗(yàn)室內(nèi)快速激發(fā)潛在失效,據(jù)此推斷產(chǎn)品在常規(guī)條件下的壽命分布特征。
2025/08/26 更新 分類(lèi):檢測(cè)案例 分享
本文介紹積層陶瓷技術(shù)制造的 SMD 貼片壓敏電阻的電壓保護(hù)特性,及其在電子設(shè)備多接口、車(chē)載 LAN 接口的 ESD / 浪涌防護(hù)與噪音對(duì)策應(yīng)用。
2025/12/04 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享