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HALT & HASS 可靠性測(cè)試的步驟及測(cè)試方法
2019/11/13 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文將對(duì)比汽車電子和一般IT產(chǎn)品兩種不同領(lǐng)域電子產(chǎn)品的電磁兼容測(cè)試并對(duì)其測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試方法以及測(cè)試設(shè)備進(jìn)行對(duì)比分析
2019/12/02 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
無(wú)菌隔離系統(tǒng)的完整性測(cè)試應(yīng)妥善設(shè)計(jì)試驗(yàn)條件,在現(xiàn)有儀表?xiàng)l件的基礎(chǔ)上,合理設(shè)置測(cè)試時(shí)間和壓力,并保持測(cè)試周期內(nèi)溫度穩(wěn)定。
2020/03/10 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
OTA (Over The Air )是驗(yàn)證移動(dòng)通信空中接口的發(fā)射功率和接收性能的一種測(cè)試。它著重對(duì)整機(jī)進(jìn)行輻射性能方面的測(cè)試,屬于三維測(cè)試,能反映整機(jī)的輻射性能。
2020/06/22 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試,通常也會(huì)被成為騷擾電壓測(cè)試,只要有電源線的產(chǎn)品都會(huì)涉及到。本文介紹傳傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)、方法、結(jié)果判定等。
2021/04/08 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文主要講了芯片測(cè)試概述,芯片測(cè)試流程及測(cè)試中的問(wèn)題。
2021/06/29 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了為什么紙制品也要做降解測(cè)試,哪些紙制品要做降解測(cè)試及紙制品降解測(cè)試方法的特別之處。
2021/11/23 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了FCC SAR 測(cè)試豁免最新要求:1mW (0dBm) 測(cè)試豁免及 SAR測(cè)試豁免。
2022/01/17 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文通過(guò)對(duì)儀器測(cè)試原理的探究和試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置以及測(cè)試關(guān)鍵點(diǎn)進(jìn)行總結(jié),為實(shí)驗(yàn)室DMA的測(cè)試能力的拓展提供參考和借鑒意義。
2022/06/20 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
硬度測(cè)試非常有用,可用它來(lái)評(píng)估材料性能、并在生產(chǎn)過(guò)程及研發(fā)工作中進(jìn)行質(zhì)量控制。必須根據(jù)具體應(yīng)用選擇硬度測(cè)試方法。試樣制備等級(jí)的選擇取決于材料特性和測(cè)試載荷。
2023/01/13 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享