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對(duì)元器件造成損傷的主要是三種模式,即帶點(diǎn)人體的靜電放電模式、帶電機(jī)器的放電模式和充電器件的放電模式。
2023/05/29 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
靜電放電(ESD)是一種可嚴(yán)重影響電子醫(yī)療器械的問(wèn)題,會(huì)導(dǎo)致微電子元件故障和損壞。
2023/07/18 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了基于USB3.0靜電放電防護(hù)的解決方案。
2023/08/23 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹連接器金屬外殼和金屬外殼搭接不良對(duì)靜電放電抗擾度測(cè)試的影響。
2023/10/16 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
本次就和大伙稍微探討下ESD電流路徑的分析,哪怕在為大家排查靜電問(wèn)題的時(shí)候提供一絲絲有益的思路,我就覺(jué)得沒(méi)有白寫。
2023/10/17 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了靜電放電常見(jiàn)的EMC合規(guī)性問(wèn)題和解決方案。
2024/05/20 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
某款智能環(huán)境控制器接觸靜電放電出現(xiàn)黑屏、花屏問(wèn)題分析調(diào)試
2024/07/15 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
電磁兼容領(lǐng)域,靜電放電抗擾度試驗(yàn)是不可或缺的一部分。
2024/07/19 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了靜電放電抗擾度測(cè)試經(jīng)常存在的問(wèn)題及整改方案。
2024/07/23 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了電磁兼容中對(duì)于靜電放電不合格問(wèn)題的解決方案。
2024/07/26 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享