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  • 可靠性試驗之環(huán)境應力篩選

    環(huán)境應力篩選(Environment Stress Screen,ESS)是通過向電子或機電產(chǎn)品施加在設計范圍之內的合理的環(huán)境應力(如溫循、隨機振動等)或電應力,將其內部的潛在缺陷加速暴露出來的過程

    2018/08/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 電子元器件老化測試項目及注意事項

    老化(Burn in)是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時間內對元器件連續(xù)施加環(huán)境應力,而環(huán)境應力篩選(ESS:Environment Stress Screen )則不僅包括高溫應力,還包括其他很多應力,例如溫度循環(huán)、隨機振動等,通過電-熱應力的綜合作用來加速元器件內部的各種物理、化學反應過程,促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露,從而達到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。

    2021/11/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享