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檢測項:上電電流 檢測樣品:現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA) 標(biāo)準(zhǔn):SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場可編程門陣列測試方法
檢測機(jī)構(gòu):國家電子電器產(chǎn)品檢測中心 更多相關(guān)信息>>
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測項:信號增益、噪聲系數(shù) 檢測樣品:FPGA現(xiàn)場可編程器件 標(biāo)準(zhǔn):微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4006.1
檢測項:自動增益控制范圍 檢測樣品:FPGA現(xiàn)場可編程器件 標(biāo)準(zhǔn):微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4007
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市