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檢測項:上電電流 檢測樣品:現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA) 標準:SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場可編程門陣列測試方法
檢測機構(gòu):國家電子電器產(chǎn)品檢測中心 更多相關(guān)信息>>
檢測項:TSF保護 檢測樣品:FPGA產(chǎn)品驗證(限固化前) 標準:ECSS-Q-ST60-02C-2008空間產(chǎn)品保證-ASIC與FPGA研制 探月工程可編程邏輯器件項目開發(fā)實施細則 Q/W1218-2009航天器用FPGA產(chǎn)品研制技術(shù)要求
檢測項:資源利用 檢測樣品:FPGA產(chǎn)品驗證(限固化前) 標準:ECSS-Q-ST60-02C-2008空間產(chǎn)品保證-ASIC與FPGA研制 探月工程可編程邏輯器件項目開發(fā)實施細則 Q/W1218-2009航天器用FPGA產(chǎn)品研制技術(shù)要求
檢測項:TOE訪問 檢測樣品:FPGA產(chǎn)品驗證(限固化前) 標準:ECSS-Q-ST60-02C-2008空間產(chǎn)品保證-ASIC與FPGA研制 探月工程可編程邏輯器件項目開發(fā)實施細則 Q/W1218-2009航天器用FPGA產(chǎn)品研制技術(shù)要求
機構(gòu)所在地:北京市 更多相關(guān)信息>>
檢測項:信號增益、噪聲系數(shù) 檢測樣品:FPGA現(xiàn)場可編程器件 標準:微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4006.1
檢測項:自動增益控制范圍 檢測樣品:FPGA現(xiàn)場可編程器件 標準:微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4007
檢測項:輸出高電平電壓和輸出低電平電壓 檢測樣品:FPGA現(xiàn)場可編程器件 標準:半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998
機構(gòu)所在地:上海市 更多相關(guān)信息>>
檢測項:編碼規(guī)則檢查 檢測樣品:可編程邏輯器件軟件測試 標準:ECSS-Q-ST-60-02C《Space product assurance ASIC and FPGA development》 Q/QJB 179-2010可編程邏輯器件軟件工程管理要求
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