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收縮率(Shrinkageration) 定義為收縮量與收縮前尺寸之比的百分?jǐn)?shù),收縮量則為收縮前后尺寸之差。 收縮率 測(cè)試儀器:薄膜熱收縮率試驗(yàn)儀 查看詳情>>
收縮率(Shrinkageration)
定義為收縮量與收縮前尺寸之比的百分?jǐn)?shù),收縮量則為收縮前后尺寸之差。
收縮率測(cè)試儀器:薄膜熱收縮率試驗(yàn)儀
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
檢測(cè)項(xiàng):光度測(cè)量 檢測(cè)樣品:LED封裝/陣列/模組 標(biāo)準(zhǔn):流明維持率的推算方法 IES TM-21-2011
檢測(cè)項(xiàng):壽命測(cè)試 檢測(cè)樣品:LED封裝/陣列/模組 標(biāo)準(zhǔn):流明維持率的推算方法 IES TM-21-2011
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測(cè)項(xiàng):流明保持率 檢測(cè)樣品:方向性LED燈 標(biāo)準(zhǔn):能源之星程序?qū)艟叩暮细裨u(píng)定要求 版本1.2
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省東莞市
檢測(cè)項(xiàng):換氣率 檢測(cè)樣品:工作場(chǎng)所有害因素 標(biāo)準(zhǔn):公共場(chǎng)所換氣率測(cè)定方法GB/T 18204.19-2000
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測(cè)項(xiàng):異常情況下的工作試驗(yàn) 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):微束分析 能譜法定量分析 GB/T 17359-2012
檢測(cè)項(xiàng):光譜 檢測(cè)樣品:LED模塊 標(biāo)準(zhǔn):普通照明用LED模塊測(cè)試方法 GB/T 24824-2009
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省佛山市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省佛山市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測(cè)項(xiàng):部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品:LED 模塊用直流或交流電子控制裝置 標(biāo)準(zhǔn):普通照明用LED模塊 性能要求 GB/T24823-2009
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市